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本发明公开一种改善器件可靠性的方法,其包括使用聚酰亚胺PI对器件的钝化层材料PA进行固化预处理工艺和亚胺化工艺,其中:在所述固化预处理工艺前,在所述聚酰亚胺PI的前驱体中加入硅烷偶联剂;在所述固化预处理工艺中,通过烘烤和固化过程,使得所述硅...该专利属于上海鼎阳通半导体科技有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过上海鼎阳通半导体科技有限公司授权不得商用。
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本发明公开一种改善器件可靠性的方法,其包括使用聚酰亚胺PI对器件的钝化层材料PA进行固化预处理工艺和亚胺化工艺,其中:在所述固化预处理工艺前,在所述聚酰亚胺PI的前驱体中加入硅烷偶联剂;在所述固化预处理工艺中,通过烘烤和固化过程,使得所述硅...