【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及pcba，尤其涉及一种应用于pcba板卡的测试结构及方法。
技术介绍
1、参见附图1，现有技术的pcba板卡的信号测试，必须通过探针接线的方式连接到对应的调理电路，再将调理电路通过导线连接到测试机柜内的仪器仪表。在接线的过程中，测试人员需要将pcba板卡上相应的测试点通过导线接线到相应的接插件引脚上。在此种导线连接的方式中，存在如下问题。
2、1)测试接线的点位较多，对连接导线的规范要求很高，接线加工人员需要将复杂的导线连接到对应的接口上，对人员的技能要求高，且局限的空间内很难完成所有的信号测试点的走线。
3、2)在复杂的接线过程中，信号难免出现串扰，影响测试信号的质量。
4、3)由于传输距离以及无参考地的原因，测试接线的可靠性不高，影响测试的稳定性，以及信号的传输质量，人工焊接导线的准确性没法保证，而在接线完成前、也就是调试前无法对接线正确与否做审查，效率较低。
5、4)并且对于测试点间距小的场景，还有短路风险。
6、5)复杂的接线方式无法批量加工制作，不利于产品的开发周期。
技术实现思路
1、为了克服上述技术缺陷，本专利技术的目的在于提供一种应用于pcba板卡的测试结构及方法，可以批量开发、保证待测试pcba板卡和测试机柜内的仪器仪表连接的准确性及接插过程中的安全性。
2、本专利技术公开了一种应用于pcba板卡的测试结构，包括待测试pcba板卡和pcb连接板卡，所述pcb连接板卡上印制有调试电
3、优选的，所述调试电路包括差分电路。
4、优选的，所述pcb连接板卡为单层、或双层、或四层。
5、优选的，还包括支撑组件，所述支撑组件包括上支撑板和下支撑板，所述待测试pcba板卡置于所述上支撑板和下支撑板之间的容置空间内；所述pcb连接板卡设于所述下支撑板的下方；所述下支撑板上、与所述探针相对应位置设有通孔，所述待测试pcba板卡上连接的所述探针穿过所述通孔后与所述pcb连接板卡连接；还包括动力组件，所述动力组件与所述上支撑板连接、带动所述上支撑板上下运动，从而使得所述待测试pcba板卡向下运动以通过所述探针与所述pcb连接板卡连接、或使得所述待测试pcba板卡向上运动以与所述pcb连接板卡分离。
6、优选的，所述容置空间内设有上护板和下护板，所述待测试pcba板卡设于所述上护板和所述下护板之间；所述上护板和所述下护板的尺寸大于所述待测试pcba板卡，从而包覆所述待测试pcba板卡。
7、优选的，还包括载板，所述载板设于所述下护板与所述下支撑板之间。
8、优选的，所述第一矩阵式接插件与所述第二矩阵式接插件之间通过若干导线连接；或所述第一矩阵式接插件与所述第二矩阵式接插件之间直接连接。
9、优选的，所述第一矩阵式接插件/所述第二矩阵式接插件的数量大于一个，多个所述第一矩阵式接插件/所述第二矩阵式接插件设于所述pcb连接板卡的一侧、或分别设于所述pcb连接板卡的四侧。
10、优选的，所述测试仪器置于机柜内，所述待测试pcba板卡、所述pcb连接板卡置于所述机柜的上部。
11、本专利技术还公开了一种应用于pcba板卡的测试方法，基于上述的测试结构，所述待测试pcba板卡向下运动以通过所述探针与所述pcb连接板卡连接，从而使得所述测试仪器通过所述第一矩阵式接插件与第二矩阵式接插件获取所述待测试电路的数据；或所述待测试pcba板卡向上运动以与所述pcb连接板卡分离，从而结束测试。
12、采用了上述技术方案后，与现有技术相比，具有以下有益效果：
13、1.将现有技术的用于设计待测试pcba板卡和测试仪器仪表之间的调理电路的若干杂乱的导线替换为一pcb连接板卡，在该pcb连接板卡上印制所需的调理电路，从而可以避免复杂导线的接线，从而可以避免接线结果的不准确、接线效率低、依赖人工的问题；由于省略了复杂导线从而使得测试信号质量优，且稳定，抗干扰强；
14、2.通过设置所述第一矩阵式接插件、所述第二矩阵式接插件，选定好合适的印制所需的调理电路的pcb连接板卡后，将所述第一矩阵式接插件与所述第二矩阵式接插件对插，即可实现待测试pcba板卡和测试仪器仪表之间的连接；
15、3.对于不同的测试情况，直接更换不同的pcb连接板卡(调理电路)即可，从而可以实现pcba板卡测试的批量化设计，缩短开发周期，提高人员效率。
本文档来自技高网...【技术保护点】
1.一种应用于PCBA板卡的测试结构，其特征在于，包括待测试PCBA板卡和PCB连接板卡，所述PCB连接板卡上印制有调试电路，所述待测试PCBA板卡上的待测试电路和所述PCB连接板卡上的所述调试电路通过若干探针电连接；
2.根据权利要求1所述的应用于PCBA板卡的测试结构，其特征在于，所述调试电路包括差分电路。
3.根据权利要求1所述的应用于PCBA板卡的测试结构，其特征在于，所述PCB连接板卡为单层、或双层、或四层。
4.根据权利要求1所述的应用于PCBA板卡的测试结构，其特征在于，还包括支撑组件，所述支撑组件包括上支撑板和下支撑板，所述待测试PCBA板卡置于所述上支撑板和下支撑板之间的容置空间内；
5.根据权利要求4所述的应用于PCBA板卡的测试结构，其特征在于，所述容置空间内设有上护板和下护板，所述待测试PCBA板卡设于所述上护板和所述下护板之间；
6.根据权利要求5所述的应用于PCBA板卡的测试结构，其特征在于，还包括载板，所述载板设于所述下护板与所述下支撑板之间。
7.根据权利要求1所述的应用于PC
8.根据权利要求1所述的应用于PCBA板卡的测试结构，其特征在于，所述第一矩阵式接插件/所述第二矩阵式接插件的数量大于一个，多个所述第一矩阵式接插件/所述第二矩阵式接插件设于所述PCB连接板卡的一侧、或分别设于所述PCB连接板卡的四侧。
9.根据权利要求1所述的应用于PCBA板卡的测试结构，其特征在于，所述测试仪器置于机柜内，所述待测试PCBA板卡、所述PCB连接板卡置于所述机柜的上部。
10.一种应用于PCBA板卡的测试方法，其特征在于，基于上述权利要求1-9任一所述的测试结构，所述待测试PCBA板卡向下运动以通过所述探针与所述PCB连接板卡连接，从而使得所述测试仪器通过所述第一矩阵式接插件与第二矩阵式接插件获取所述待测试电路的数据；
...【技术特征摘要】
1.一种应用于pcba板卡的测试结构，其特征在于，包括待测试pcba板卡和pcb连接板卡，所述pcb连接板卡上印制有调试电路，所述待测试pcba板卡上的待测试电路和所述pcb连接板卡上的所述调试电路通过若干探针电连接；
2.根据权利要求1所述的应用于pcba板卡的测试结构，其特征在于，所述调试电路包括差分电路。
3.根据权利要求1所述的应用于pcba板卡的测试结构，其特征在于，所述pcb连接板卡为单层、或双层、或四层。
4.根据权利要求1所述的应用于pcba板卡的测试结构，其特征在于，还包括支撑组件，所述支撑组件包括上支撑板和下支撑板，所述待测试pcba板卡置于所述上支撑板和下支撑板之间的容置空间内；
5.根据权利要求4所述的应用于pcba板卡的测试结构，其特征在于，所述容置空间内设有上护板和下护板，所述待测试pcba板卡设于所述上护板和所述下护板之间；
6.根据权利要求5所述的应用于pcba板卡的测试结构，其特征...
【专利技术属性】
技术研发人员：任康乐，乐志斌，
申请(专利权)人：臻驱科技上海有限公司，
类型：发明
国别省市：
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