一种PD芯片响应度测试系统技术方案

本技术涉及通信测试技术领域，提出了一种PD芯片响应度测试系统，包括支撑底座，本技术通过带动第一伸缩杆一侧的第一探针以及第二伸缩杆一侧的第二探针向内进行移动，使得第一探针和第二探针紧紧顶住待检测的PD芯片，该设计使得装置整体针对不同尺寸的PD芯片均可完成响应度测试，本技术通过在支撑底座的顶部开槽上方设有可活动的开合装置，当装置整体未在使用时，可以通过推把带动盖板向开合副板的一侧进行移动，直至盖板完全盖住支撑底座的顶部开槽，该设计能够有效防止装置在长期未使用的情况下导致，造成灰尘进入到开槽内沾染第一探针和第二探针，从而影响后期装置整体在使用的测试稳定性。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及通信测试，具体地，涉及一种pd芯片响应度测试系统。

技术介绍

1、随着科学技术在通信领域的迅速发展，pd芯片的产量也日益增多，而pd芯片在完成组装工作前，需要对pd芯片的性能进行检测，特别是针对pd芯片的响应度需要对其进行测试来确保其是否满足后续组装完成后的正常使用。

2、如申请号为cn202020922584.9公开了一种pd芯片响应度测试系统，本技术的系统包括探针台部分、光源部分、响应度显示部分，是一种简单、易操作、成本较低的pd芯片响应度测试系统，可以在芯片正式投入生产前，将不良品筛选出来，极大程度的提高生产良率与生产效率，避免了不良品流入生产造成的工时浪费以及其他原材料损失。

3、然而目前pd芯片响应度测试系统依旧存在以下问题，pd芯片响应度装置在对pd芯片进行响应度测试时，可能会因为pd芯片的尺寸不同从而导致检测探针无法完全贴合到pd芯片上，从而影响响应度测试的准确性。

技术实现思路

1、本技术提出一种pd芯片响应度测试系统，解决了相关技术中pd芯片测试准确性问题。

2、本技术的技术方案如下：一种pd芯片响应度测试系统，包括支撑底座，所述支撑底座的顶部开设有矩形开槽，所述支撑底座的顶部矩形开槽两侧开设有相对圆形开槽，所述支撑底座的顶部矩形开槽的一侧圆形开槽内固定连接有第一伸缩管，所述第一伸缩管的内腔活动连接有第一伸缩杆，所述支撑底座的顶部矩形开槽另一侧圆形开槽内固定连接有第二伸缩管，所述第二伸缩管的内腔活动连接有第二伸缩杆。</p>

3、优选的，所述支撑底座的顶部固定连接有测试主机，所述测试主机的内部通信端固定连接有第一探针，所述第一探针贯穿第一伸缩管一侧圆形开孔和第一伸缩杆的中部圆形开孔且固定连接在第一伸缩杆的一侧。

4、优选的，所述测试主机的内部通信端固定连接有第二探针，所述第二探针贯穿第二伸缩管一侧圆形开孔和第二伸缩杆的中部圆形开孔且固定连接在第二伸缩杆的一侧。

5、优选的，所述支撑底座的顶部矩形开槽内固定连接有正极源，所述正极源的正面固定连接有正极块，所述正极源的背面输入端与测试主机内部的输出端为电连接。

6、优选的，所述支撑底座的顶部矩形开槽内在与正极源相对的一侧固定连接有负级源，所述负级源的背面输入端与测试主机内部的输出端为电连接。

7、优选的，所述支撑底座的底部四周固定连接有脚垫。

8、优选的，所述测试主机的一侧固定连接有电源接口。

9、优选的，所述测试主机的正面固定连接有显示屏，所述测试主机的正面在靠近显示屏的下方活动连接有操控按钮。

10、优选的，所述支撑底座在靠近顶部矩形开槽的一侧固定连接有开合副板。

11、优选的，所述支撑底座在靠近顶部矩形开槽与开合副板相对的一侧固定连接有开合主板，所述开合主板的顶部贯穿开设有横向开槽，所述开合主板的内部活动连接有盖板，所述盖板的尺寸大小与支撑底座的顶部矩形开槽尺寸大小一致，所述盖板的顶部固定连接有推把。

12、本技术的技术效果和优点：

13、1、本技术通过测试主机来控制支撑底座内部的第一伸缩杆以及第二伸缩杆分别在第一伸缩管的内腔以及第二伸缩管的内腔进行伸缩，依次来带动第一伸缩杆一侧的第一探针以及第二伸缩杆一侧的第二探针向内进行移动，使得第一探针和第二探针紧紧顶住待检测的pd芯片，该设计使得装置整体针对不同尺寸的pd芯片均可完成响应度测试。

14、2、本技术通过在支撑底座的顶部开槽上方设有可活动的开合装置，当装置整体未在使用时，可以通过推把带动盖板向开合副板的一侧进行移动，直至盖板完全盖住支撑底座的顶部开槽，该设计能够有效防止装置在长期未使用的情况下导致，造成灰尘进入到开槽内沾染第一探针和第二探针，从而影响后期装置整体在使用的测试稳定性。

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【技术保护点】

1.一种PD芯片响应度测试系统，包括支撑底座(1)，其特征在于，所述支撑底座(1)的顶部开设有矩形开槽，所述支撑底座(1)的顶部矩形开槽两侧开设有相对圆形开槽，所述支撑底座(1)的顶部矩形开槽的一侧圆形开槽内固定连接有第一伸缩管(602)，所述第一伸缩管(602)的内腔活动连接有第一伸缩杆(6)，所述支撑底座(1)的顶部矩形开槽另一侧圆形开槽内固定连接有第二伸缩管(702)，所述第二伸缩管(702)的内腔活动连接有第二伸缩杆(7)。

2.根据权利要求1所述的一种PD芯片响应度测试系统，其特征在于，所述支撑底座(1)的顶部固定连接有测试主机(2)，所述测试主机(2)的内部通信端固定连接有第一探针(601)，所述第一探针(601)贯穿第一伸缩管(602)一侧圆形开孔和第一伸缩杆(6)的中部圆形开孔且固定连接在第一伸缩杆(6)的一侧。

3.根据权利要求2所述的一种PD芯片响应度测试系统，其特征在于，所述测试主机(2)的内部通信端固定连接有第二探针(701)，所述第二探针(701)贯穿第二伸缩管(702)一侧圆形开孔和第二伸缩杆(7)的中部圆形开孔且固定连接在第二伸缩杆(7)的一侧。

4.根据权利要求1所述的一种PD芯片响应度测试系统，其特征在于，所述支撑底座(1)的顶部矩形开槽内固定连接有正极源(5)，所述正极源(5)的正面固定连接有正极块(3)，所述正极源(5)的背面输入端与测试主机(2)内部的输出端为电连接。

5.根据权利要求1所述的一种PD芯片响应度测试系统，其特征在于，所述支撑底座(1)的顶部矩形开槽内在与正极源(5)相对的一侧固定连接有负级源(4)，所述负级源(4)的背面输入端与测试主机(2)内部的输出端为电连接。

6.根据权利要求1所述的一种PD芯片响应度测试系统，其特征在于，所述支撑底座(1)的底部四周固定连接有脚垫(101)。

7.根据权利要求2所述的一种PD芯片响应度测试系统，其特征在于，所述测试主机(2)的一侧固定连接有电源接口(201)。

8.根据权利要求2所述的一种PD芯片响应度测试系统，其特征在于，所述测试主机(2)的正面固定连接有显示屏(203)，所述测试主机(2)的正面在靠近显示屏(203)的下方活动连接有操控按钮(202)。

9.根据权利要求1所述的一种PD芯片响应度测试系统，其特征在于，所述支撑底座(1)在靠近顶部矩形开槽的一侧固定连接有开合副板(103)。

10.根据权利要求9所述的一种PD芯片响应度测试系统，其特征在于，所述支撑底座(1)在靠近顶部矩形开槽与开合副板(103)相对的一侧固定连接有开合主板(102)，所述开合主板(102)的顶部贯开设有横向开槽，所述开合主板(102)的内部活动连接有盖板(1021)，所述盖板(1021)的尺寸大小与支撑底座(1)的顶部矩形开槽尺寸大小一致，所述盖板(1021)的顶部固定连接有推把(1022)。

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【技术特征摘要】

1.一种pd芯片响应度测试系统，包括支撑底座(1)，其特征在于，所述支撑底座(1)的顶部开设有矩形开槽，所述支撑底座(1)的顶部矩形开槽两侧开设有相对圆形开槽，所述支撑底座(1)的顶部矩形开槽的一侧圆形开槽内固定连接有第一伸缩管(602)，所述第一伸缩管(602)的内腔活动连接有第一伸缩杆(6)，所述支撑底座(1)的顶部矩形开槽另一侧圆形开槽内固定连接有第二伸缩管(702)，所述第二伸缩管(702)的内腔活动连接有第二伸缩杆(7)。

2.根据权利要求1所述的一种pd芯片响应度测试系统，其特征在于，所述支撑底座(1)的顶部固定连接有测试主机(2)，所述测试主机(2)的内部通信端固定连接有第一探针(601)，所述第一探针(601)贯穿第一伸缩管(602)一侧圆形开孔和第一伸缩杆(6)的中部圆形开孔且固定连接在第一伸缩杆(6)的一侧。

3.根据权利要求2所述的一种pd芯片响应度测试系统，其特征在于，所述测试主机(2)的内部通信端固定连接有第二探针(701)，所述第二探针(701)贯穿第二伸缩管(702)一侧圆形开孔和第二伸缩杆(7)的中部圆形开孔且固定连接在第二伸缩杆(7)的一侧。

4.根据权利要求1所述的一种pd芯片响应度测试系统，其特征在于，所述支撑底座(1)的顶部矩形开槽内固定连接有正极源(5)，所述正极源(5)的正面固定连接有正极块(3)，所述正极源(5)的背面输入端与测试主机(2)内部的输出端为电连接。...

【专利技术属性】
技术研发人员：邹长广，蔡志宏，褚明辉，
申请(专利权)人：武汉万赢半导体科技有限公司，
类型：新型
国别省市：