集成电路单粒子效应的高效仿真方法、装置和电子设备制造方法及图纸

技术编号:40433548 阅读:34 留言:0更新日期:2024-02-22 22:59
本发明专利技术公开一种集成电路单粒子效应的高效仿真方法、装置和电子设备,涉及计算机模拟仿真领域。方法包括:在故障注入模式为定点故障注入的情况下,通过指定的故障注入节点生成包含故障注入的第一电路网表和第一仿真运行文件;在故障注入模式为随机故障注入的情况下,基于随机故障注入节点生成包含故障注入的第二电路网表和第二仿真运行文件;基于所述第一电路网表、所述第一仿真运行文件,以及所述第二电路网表和第二仿真运行文件进行仿真数据的提取;基于提取到的仿真数据,结合所述标准仿真数据进行数据分析、判断和筛选,确定目标输出仿真数据,可以应用于快速高效评估单粒子效应。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及计算机模拟仿真领域,尤其涉及一种集成电路单粒子效应的高效仿真方法、装置和电子设备


技术介绍

1、航天器由于其长期运行于太空高能粒子辐射环境中,容易受到高能粒子轰击而发生单粒子效应,致使集成电路故障,严重会导致电子系统出现错误,影响航天设备在空间中的正常工作,因此,如何有效地评估单粒子效应对宇航集成电路的影响受到了广泛关注。

2、目前,计算机模拟仿真评估具有周期短、费用低、易实现等优点,可对设计阶段的芯片进行评估,因此可以借助仿真技术缩短宇航集成电路的开发周期,指导宇航集成电路抗单粒子加固。传统的仿真方式,每次只对一个节点进行故障注入仿真,并且是人工手动进行故障注入,仿真结果通过人工查看波形进行判断。

3、导致在调用的故障注入模型发生变化时,由于模型发生变化,注入时间变化,或者节点变化时,都需进入电路网表内部手动进行修改,具体的,需要手动修改注入点的模型注入形式,对于需要多次仿真的场景,则需要多次进行重复的操作,耗时耗力,流程较为繁琐,并且针对大规模电路仿真场景,其仿真数据量庞大,仿真结果文件数目上百,人工逐个查看手动本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种集成电路单粒子效应的高效仿真方法,其特征在于,所述方法包括:

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,在所述通过建立工程下的无故障注入电路仿真运行路径,确定所述电路仿真网表在无故障注入的情况下对应的标准仿真数据之前,还包括:

3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述在故障注入模式为定点故障注入的情况下,通过指定的故障注入节点生成包含故障注入的第一电路网表和第一仿真运行文件,包括:

4.根据权利1所述的方法,其特征在于,在所述通过建立工程下的无故障注入电路仿真运行路径,确定所述电路仿真网表在无故障注入的情况下对应的标准仿真数据之前,还包括...

【技术特征摘要】

1.一种集成电路单粒子效应的高效仿真方法,其特征在于,所述方法包括:

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,在所述通过建立工程下的无故障注入电路仿真运行路径,确定所述电路仿真网表在无故障注入的情况下对应的标准仿真数据之前,还包括:

3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述在故障注入模式为定点故障注入的情况下,通过指定的故障注入节点生成包含故障注入的第一电路网表和第一仿真运行文件,包括:

4.根据权利1所述的方法,其特征在于,在所述通过建立工程下的无故障注入电路仿真运行路径,确定所述电路仿真网表在无故障注入的情况下对应的标准仿真数据之前,还包括:

5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述在故障注入模式为随机故障注入的情况下,基于随机故障注入节点生成包含故障注入的第二电路网表和第二仿...

【专利技术属性】
技术研发人员:郭燕萍卜建辉倪涛许婷李博王娟娟王春林程磊
申请(专利权)人:中国科学院微电子研究所
类型:发明
国别省市:

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