【技术实现步骤摘要】
【】本专利技术涉及显示，具体涉及一种发光器件的检测装置及检测方法。
技术介绍
0、
技术介绍
1、有机发光二极管(organic light emitting diodes,oled)和量子点发光二极管(quantum dot light emitting diodes，qled)等发光二极管，是不需要额外光源的自发光技术，其是通过载流子的注入和复合而致发光的现象，发光强度与注入的电流成正比。
2、自发光器件由于亮度高、功耗低、响应快、清晰度高、柔性好、发光效率高等优点，已应用于各种显示产品。目前，自发光器件的寿命一直是制约其广泛应用的瓶颈，特别是量子点发光二极管，而寿命衰减情况和发光情况是息息相关的，如何准确检测出发光器件中膜层的发光情况是需要研究的课题。
技术实现思路
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技术实现思路
1、本专利技术实施例提出一种发光器件的检测装置及检测方法，能较好地分析出自发光器件中部分膜层的发光情况。
2、为解决上述技术问题，本专利技术实施例提供了一种发光器件的检测方法，应用于检测装置，所述检测装置包括激发光光源组件、供电组件和光信号采集处理组件，所述发光器件包括层叠设置的发光层和载流子传输层；所述检测方法包括：
3、将所述发光器件置于所述检测装置中，并使所述发光器件中所述载流子传输层背离所述发光层的一侧靠近所述激发光光源组件；
4、利用所述供电组件向所述发光器件供电，以使所述发光层电致发光；
5、利
6、利用所述光信号采集处理组件，采集所述发光器件射出的出射光信号，并根据所述出射光信号确定所述发光层光致发光对应的第一光强度变化信息、所述载流子传输层光致发光对应的第二光强度变化信息以及所述发光层电致发光对应的第三光强度变化信息。
7、为解决上述技术问题，本专利技术实施例还提供了一种发光器件的检测装置，所述发光器件包括层叠设置的发光层和载流子传输层，所述检测装置包括：
8、激发光光源组件，用于提供射入所述发光器件的第一激发光信号和第二激发光信号，所述第一激发光信号用于激发所述发光层光致发光，所述第二激发光信号为脉冲信号，用于激发所述载流子传输层光致发光，所述激发光光源组件设置在所述载流子传输层背离所述发光层的一侧；
9、供电组件，用于为所述发光器件供电，以使所述发光层电致发光；
10、光信号采集处理组件，用于采集所述发光器件射出的出射光信号，并根据所述出射光信号确定所述发光层光致发光对应的第一光强度变化信息、所述载流子传输层光致发光对应的第二光强度变化信息以及所述发光层电致发光对应的第三光强度变化信息。
11、本专利技术实施例提供的发光器件的检测装置和检测方法，通过设置激发光光源组件、供电组件和光信号采集处理组件，并利用激发光光源组件提供射入发光器件的第一激发光信号和第二激发光信号，第一激发光信号用于激发发光层光致发光，第二激发光信号为脉冲信号，用于激发载流子传输层光致发光，利用供电组件为发光器件供电，以使发光层电致发光，利用光信号采集处理组件采集发光器件射出的出射光信号，并根据出射光信号确定发光层光致发光对应的第一光强度变化信息、载流子传输层光致发光对应的第二光强度变化信息以及发光层电致发光对应的第三光强度变化信息，从而能较准确地检测出发光器件中部分膜层的发光情况，有利于后续基于该检测结果选取合适的膜层制备材料制备发光器件，进而提高发光器件的寿命。
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1.一种发光器件的检测方法，其特征在于，应用于检测装置，所述检测装置包括激发光光源组件、供电组件和光信号采集处理组件，所述发光器件包括层叠设置的发光层和载流子传输层；所述检测方法包括：
2.根据权利要求1所述的发光器件的检测方法，其特征在于，所述激发光光源组件包括纳秒脉冲波组件和可调谐波组件，所述利用所述激发光光源组件向所述发光器件射入第一激发光信号和第二激发光信号，包括：
3.根据权利要求2所述的发光器件的检测方法，其特征在于，
4.根据权利要求3所述的发光器件的检测方法，其特征在于，所述第一入射方向和所述第二入射方向之间的交汇点在所述发光器件上的投影位置落在所述发光器件的有效显示区域内，且所述第一入射方向和所述第二入射方向与所述发光器件之间的夹角范围均为30°～60°。
5.根据权利要求3所述的发光器件的检测方法，其特征在于，所述发光层具有第一最大吸收波长，所述载流子传输层具有第二最大吸收波长，所述第一最大吸收波长大于所述第二最大吸收波长；所述第一波长大于所述第二最大吸收波长且小于所述第一最大吸收波长，所述第二波长小于所述第二最
6.根据权利要求3所述的发光器件的检测方法，其特征在于，所述预设脉冲输出能量在20uJ-80uJ范围内，预设脉冲宽度在0.3ns-10ns范围内。
7.根据权利要求1-6中任一项所述的发光器件的检测方法，其特征在于，所述载流子传输层包括电子传输层或空穴传输层。
8.根据权利要求1-6中任一项所述的发光器件的检测方法，其特征在于，所述光信号采集处理组件包括光电探测器、预设电阻、直流电流放大器和锁相放大器，所述预设电阻的一端分别与所述光电探测器的正极和所述锁相放大器的正极电连接，所述预设电阻的另一端分别与所述锁相放大器的负极和所述直流电流放大器的正极电连接，所述光电探测器的负极与所述直流电流放大器的负极电连接；所述利用所述光信号采集处理组件，采集所述发光器件射出的出射光信号，并根据所述出射光信号确定所述发光层光致发光对应的第一光强度变化信息、所述载流子传输层光致发光对应的第二光强度变化信息以及所述发光层电致发光对应的第三光强度变化信息，包括:
9.根据权利要求8所述的发光器件的检测方法，其特征在于，所述检测装置还包括处理器，所述处理器和所述光信号采集处理组件电连接，用于：
10.根据权利要求9所述的发光器件的检测方法，其特征在于，所述根据所述第三最大发光强度、所述第三目标光强度和所述第一光强度衰减程度，确定第三光强度衰减程度，包括：
11.根据权利要求10所述发光器件的检测方法，其特征在于，所述发光器件包括多个，各个所述发光器件中除所述发光层和所述载流子传输层以外的其它各个膜层的对应层结构和对应组成成分均相同，所述处理器还用于：
12.根据权利要求11所述发光器件的检测方法，其特征在于，
13.一种发光器件的检测装置，其特征在于，所述发光器件包括层叠设置的发光层和载流子传输层，所述检测装置包括：
14.根据权利要求13所述的发光器件的检测装置，其特征在于，所述激发光光源组件包括纳秒脉冲波组件和可调谐波组件，所述可调谐波组件用于提供射入所述发光器件的所述第一激发光信号，所述纳秒脉冲波组件用于提供射入所述发光器件的所述第二激发光信号。
15.根据权利要求13所述的发光器件的检测装置，其特征在于，所述光信号采集处理组件包括光电探测器、预设电阻、直流电流放大器和锁相放大器，所述预设电阻的一端分别与所述光电探测器的正极和所述锁相放大器的正极电连接，所述预设电阻的另一端分别与所述锁相放大器的负极和所述直流电流放大器的正极电连接，所述光电探测器的负极与所述直流电流放大器的负极电连接；
16.根据权利要求13所述的发光器件的检测装置，其特征在于，所述检测装置还包括与所述光信号采集处理组件电连接的处理器。
...【技术特征摘要】
1.一种发光器件的检测方法，其特征在于，应用于检测装置，所述检测装置包括激发光光源组件、供电组件和光信号采集处理组件，所述发光器件包括层叠设置的发光层和载流子传输层；所述检测方法包括：
2.根据权利要求1所述的发光器件的检测方法，其特征在于，所述激发光光源组件包括纳秒脉冲波组件和可调谐波组件，所述利用所述激发光光源组件向所述发光器件射入第一激发光信号和第二激发光信号，包括：
3.根据权利要求2所述的发光器件的检测方法，其特征在于，
4.根据权利要求3所述的发光器件的检测方法，其特征在于，所述第一入射方向和所述第二入射方向之间的交汇点在所述发光器件上的投影位置落在所述发光器件的有效显示区域内，且所述第一入射方向和所述第二入射方向与所述发光器件之间的夹角范围均为30°～60°。
5.根据权利要求3所述的发光器件的检测方法，其特征在于，所述发光层具有第一最大吸收波长，所述载流子传输层具有第二最大吸收波长，所述第一最大吸收波长大于所述第二最大吸收波长；所述第一波长大于所述第二最大吸收波长且小于所述第一最大吸收波长，所述第二波长小于所述第二最大吸收波长。
6.根据权利要求3所述的发光器件的检测方法，其特征在于，所述预设脉冲输出能量在20uj-80uj范围内，预设脉冲宽度在0.3ns-10ns范围内。
7.根据权利要求1-6中任一项所述的发光器件的检测方法，其特征在于，所述载流子传输层包括电子传输层或空穴传输层。
8.根据权利要求1-6中任一项所述的发光器件的检测方法，其特征在于，所述光信号采集处理组件包括光电探测器、预设电阻、直流电流放大器和锁相放大器，所述预设电阻的一端分别与所述光电探测器的正极和所述锁相放大器的正极电连接，所述预设电阻的另一端分别与所述锁相放大器的负极和所述直流电流放大器的正极电连接，所述光电探测器的负极与所述直流电流放大器的负极电连接；所述利用所述光信号采集处...
【专利技术属性】
技术研发人员：王成，吴龙佳，
申请(专利权)人：TCL科技集团股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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