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自动辨别微粒的衍射图像测量分析系统及方法技术方案

技术编号:4041566 阅读:229 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
一种自动辨别微粒的衍射图像测量分析系统及方法,系统有由流动微粒组成的样品流,与样品流相交的相干激发光束,具有第一中心散射角度的相干散射光束的第一散射光接受物镜部分、第一分光及滤波部分、第一成像测量及数据输出部分、图像处理电路及计算机部分以及与图像处理电路及计算机部分相连的显示部分;方法是获得相应的可调波长及偏振衍射图像数据;存储数据;进行图像空间坐标变换;进行特征甄别并选取特征区域;选取衍射图像模式特征;确定所测量微粒在衍射图像特征参数矢量样本空间的位置;确定所测量微粒在衍射图像特征参数矢量样本空间的位置。本发明专利技术具有可根据微粒内部三维结构特征快速分析辨别大量微粒以及无需对微粒染色的优点。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种衍射图像测量分析系统及方法。特别是涉及一种测量由微粒相干 散射光形成的波长及偏振可调的衍射图像信号,计算提取其与微粒内部三维结构特征高度 相关的图像特征,可自动快速准确分析辩别微粒的自动辨别微粒的衍射图像测量分析系统 及方法。
技术介绍
在细胞生物学研究,生物技术研究,药物研发,环境污染监测,大气科学等许多领 域内研究人员需要可快速准确分析辨别大量线性尺度为一微米至数百微米的单个微粒的 方法及仪器系统。很多情况下,包括以细胞为代表的生物微粒在内的微粒之功能或其对与 外界的相互作用常常与其三维结构形态紧密关联。因此通过对比微粒三维结构形态的特征 与差异是分析辨别微粒的最佳方法之一。例如光学显微镜是人类用于观察微粒结构形态最 早也是目前最常用的仪器之一。但由于下述原因,使用光学显微镜分析辨别微粒的方法具 有局限性,很难用于对包含大量微粒的微粒群落进行快速分析辨别。第一,常用的光学显微 镜(如荧光显微镜,明视场或暗视场显微镜等)是基于非相干成像原理设计的,其图像是通 过对微粒三维结构的二维投影而形成,利用这种图像所测的微粒结构特征为结构二维投影 特征,无法真实反映微粒的本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种自动辨别微粒的衍射图像测量分析系统,包括有由流动微粒(1)组成的样品流(2),其特征在于,还设置有与样品流(2)相交的相干激发光束(3),测量被相干激发光束(3)所激发的微粒射出的具有第一中心散射角度(23)的相干散射光束(4)的第一散射光接受物镜部分(A),第一分光及滤波部分(B),第一成像测量及数据输出部分(C),图像处理电路及计算机部分(D)以及与图像处理电路及计算机部分(D)相连的显示部分;其中,所述的第一分光及滤波部分(B)用于对所接收的微粒发射的散射光进行分光和滤波;所述的第一成像测量及数据输出部分(C)用于对分光和滤波后的散射光进行成像测量及数据输出,从而获得由相干散射光束(...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:董珂胡新华
申请(专利权)人:董珂胡新华
类型:发明
国别省市:31[中国|上海]

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