VDMOS终端结构和半导体器件制造技术

技术编号:40397722 阅读:19 留言:0更新日期:2024-02-20 22:25
本申请提供了一种VDMOS终端结构和半导体器件,该VDMOS终端结构包括:衬底;第一外延层,位于衬底的表面上;第二外延层,位于第一外延层的远离衬底的表面上,第一外延层与第二外延层的掺杂类型不同;沿预定方向间隔设置的多个第一沟槽,各第一沟槽位于第二外延层和第一外延层中,且在预定方向上多个第一沟槽的深度逐渐减小,预定方向为垂直于衬底厚度的方向,深度为第一沟槽在衬底厚度方向上的长度。本申请解决了现有技术中VDMOS终端结构的耐压能力较低的问题。

【技术实现步骤摘要】

本申请涉及半导体功率器件,具体而言,涉及一种vdmos(verticaldouble-diffused metal-oxide-semiconductor field effect transistor,垂直双扩散金属氧化物半导体场效应晶体管)终端结构和半导体器件。


技术介绍

1、sic mosfet(metal oxide semiconductor field effect transistor,简称为mos,金属氧化物半导体场效应晶体管)以耐高压高温、高频率、低功率损耗、高开关速度等优势被广泛的应用于新能源汽车、交通轨道、光伏等风口产业。sic mosfet根据其栅极结构可分为平面型mosfet(如double-diffused mosfet,双扩散mosfet,简称为dmosfet)与沟槽型mosfet(trench mosfet)。相较于dmosfet,sic trench mosfet具有更小导通电阻、更高功率密度等优势。

2、功率器件的最重要性能就是阻断高压,器件经过设计可以在pn结,金属-半导体接触,mos界面的耗尽层上承受高压本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种VDMOS终端结构,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的VDMOS终端结构,其特征在于,所述VDMOS终端结构还包括:

3.根据权利要求2所述的VDMOS终端结构,其特征在于,在所述预定方向上多个所述第一注入区的掺杂浓度逐渐减小。

4.根据权利要求2所述的VDMOS终端结构,其特征在于,在所述预定方向上多个所述第一注入区的宽度逐渐减小,所述宽度为所述第一注入区在所述预定方向上两个相对的边缘之间的距离。

5.根据权利要求2所述的VDMOS终端结构,其特征在于,所述VDMOS终端结构还包括:

6.根据权利要求1所述的...

【技术特征摘要】

1.一种vdmos终端结构,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的vdmos终端结构,其特征在于,所述vdmos终端结构还包括:

3.根据权利要求2所述的vdmos终端结构,其特征在于,在所述预定方向上多个所述第一注入区的掺杂浓度逐渐减小。

4.根据权利要求2所述的vdmos终端结构,其特征在于,在所述预定方向上多个所述第一注入区的宽度逐渐减小,所述宽度为所述第一注入区在所述预定方向上两个相对的边缘之间的距离。

5.根据权利要求2所述的vdmos终端结构,其特征在于,所述vdmos终端结构还包括:

6.根据...

【专利技术属性】
技术研发人员:冯尹张鹏
申请(专利权)人:珠海格力电子元器件有限公司
类型:发明
国别省市:

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