本公开的实施例提供一种金属氧化物薄膜晶体管,该金属氧化物薄膜晶体管包括:设置在衬底基板(101)上的金属氧化物半导体层(102)以及与所述金属氧化物半导体层(102)接触的源极(103)和漏极(104);所述金属氧化物半导体层(102)为叠层结构,叠层结构至少包含第一半导体层(1021)和第二半导体层(1022),所述第一半导体层(1021)的载流子迁移率高于所述第二半导体层(1022)的载流子迁移率;所述金属氧化物半导体层(102)包括下表面(102a)、上表面(102b)以及侧表面(102c),所述源极(103)与所述侧表面(102c)和上表面(102b)接触;至少在所述侧表面(102c)与所述源极(103)或所述漏极(104)接触的区域包括位于所述第一半导体层(1021)的第一接触区域(105)和位于所述第二半导体层(1022)的第二接触区域(106);其中,所述金属氧化物半导体层(102)中第一接触区域(105)和第二接触区域(106)具有如下形状:所述形状具有所述金属氧化物半导体层(102)的下表面(102a)与第一接触区域(105)的侧表面(102c)之间呈第一角度,以及所述金属氧化物半导体层(102)的下表面(102a)与第二接触区域(106)的侧表面(102c)之间呈第二角度;所述第一角度大于所述第二角度。第一角度大于所述第二角度,使得载流子迁移率较高的膜层的侧面面积尽可能小,侧面沟道区域缺陷尽可能小。
【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
技术介绍
技术实现思路
【技术保护点】
PCT国内申请,权利要求书已公开。
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】
pct国内申请,权...
【专利技术属性】
技术研发人员:薛大鹏,王利忠,董水浪,胡合合,姚念琦,袁广才,宁策,李正亮,王东方,雷利平,许晨,黄杰,
申请(专利权)人:京东方科技集团股份有限公司,
类型:发明
国别省市:
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