【技术实现步骤摘要】
本技术涉及电子元件检测，具体为一种电子元件电气性能检测装置。
技术介绍
1、电子元件是构成电路的基本单位，有时会将多个同类的电子元件集成到一个集成芯片中进行封装，或者将多个可能实现特定功能的电路集成封装在一个集成芯片中，在这些集成芯片生产完成后，需要对其电气性能进行检测，以保证其能实现特定的功能，为此本技术提出一种电子元件电气性能检测装置。
技术实现思路
1、本技术的目的在于提出一种电子元件电气性能检测装置，以解决上述
技术介绍
中提出的问题。
2、为实现上述目的，本技术提供如下技术方案，一种电子元件电气性能检测装置，包括移动台，其特征在于：所述移动台顶部安装有用于放置电子元件的放置台，所述放置台两侧壁上设置有若干个供电子元件的引脚插入的引脚槽，所述移动台两侧通过连接杆与输送机构连接，所述输送机构两侧上方设置有用于检测电子元件电气性能的检测机构，所述放置台上方设置有用于对电子元件进行测试结果标记的标记机构。
3、优选的，所述检测机构上安装有若干个与引脚槽数量相同的第一伸缩机，所述第一伸缩机的伸缩端上安装有探针。
4、优选的，所述标记机构上安装有若干个第二伸缩机，所述第二伸缩机的伸缩端上设置有印章，每个所述印章上印出的标记不同，对应不同的检测结果。
5、优选的，所述印章滑动安装在开设于第二伸缩机伸缩端底部的滑槽上，所述滑槽内设置有用于缓冲的弹簧，所述弹簧一端与印章连接，另一端与滑槽连接。
6、与现有技术相比，本技术的有益效果是：
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1.一种电子元件电气性能检测装置，包括移动台(1)，其特征在于：所述移动台(1)顶部安装有用于放置电子元件的放置台(11)，所述放置台(11)两侧壁上设置有若干个供电子元件的引脚插入的引脚槽(12)，所述移动台(1)两侧通过连接杆(13)与输送机构(2)连接，所述输送机构(2)两侧上方设置有用于检测电子元件电气性能的检测机构(3)，所述放置台(11)上方设置有用于对电子元件进行测试结果标记的标记机构(4)。
2.根据权利要求1所述的一种电子元件电气性能检测装置，其特征在于：所述检测机构(3)上安装有若干个与引脚槽(12)数量相同的第一伸缩机(31)，所述第一伸缩机(31)的伸缩端上安装有探针(32)。
3.根据权利要求1所述的一种电子元件电气性能检测装置，其特征在于：所述标记机构(4)上安装有若干个第二伸缩机(41)，所述第二伸缩机(41)的伸缩端上设置有印章(42)，每个所述印章(42)上印出的标记不同，对应不同的检测结果。
4.根据权利要求3所述的一种电子元件电气性能检测装置，其特征在于：所述印章(42)滑动安装在开设于第二伸缩机(41)伸
...【技术特征摘要】
1.一种电子元件电气性能检测装置，包括移动台(1)，其特征在于：所述移动台(1)顶部安装有用于放置电子元件的放置台(11)，所述放置台(11)两侧壁上设置有若干个供电子元件的引脚插入的引脚槽(12)，所述移动台(1)两侧通过连接杆(13)与输送机构(2)连接，所述输送机构(2)两侧上方设置有用于检测电子元件电气性能的检测机构(3)，所述放置台(11)上方设置有用于对电子元件进行测试结果标记的标记机构(4)。
2.根据权利要求1所述的一种电子元件电气性能检测装置，其特征在于：所述检测机构(3)上安装有若干个与引脚槽(12)数量相同的第一伸缩...
【专利技术属性】
技术研发人员：刘玉城，
申请(专利权)人：大余县裕沣电子有限公司，
类型：新型
国别省市：
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