【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及半导体光电领域，尤其涉及一种光电测试方法及光电检测装置。
技术介绍
1、在常规uv(紫外)光模组的电性测试过程中，一般使用一台电源或源表，对uv光模组通电测试，通过人工判断电压/电流是否在合格范围内，同步确认uv光器件的发光亮暗情况，因uv光辐射对人体有伤害，测试人员需戴防uv面罩作业，戴面罩会过滤正常作业时所需的光线，作业过程中常有误判现象，且测试效率低下。
2、因此，亟需一种光电测试方法及光电检测装置以解决上述技术问题。
技术实现思路
1、本专利技术的目的在于，提供一种光电测试方法及光电检测装置，用于改善现有技术的光电检测装置对uv光模组进行通电测试的测试效率低下的技术问题。
2、为解决上述技术问题，本专利技术提供了一种光电测试方法，方法包括：
3、s10，获取待测uv模组光源点亮后的实际发光图形；
4、s20，比较实际发光图形与标准发光图形之间的匹配度；
5、s30，根据匹配度确定待测uv模组光源点亮后的工作状
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1.一种光电测试方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的光电测试方法，其特征在于，所述S10步骤具体包括：
3.根据权利要求2所述的光电测试方法，其特征在于，所述S101步骤中，所述固定载具包括多个镂空部，每一个所述镂空部内对应设置一个所述UV模组。
4.根据权利要求2所述的光电测试方法，其特征在于，所述S103步骤中，所述影像测试组件包括摄像模组。
5.根据权利要求1所述的光电测试方法，其特征在于，所述S20步骤中，采用处理图像分析算法比较所述实际发光图形与标准发光图形之间的匹配度，所述处理图像分析算...
【技术特征摘要】
1.一种光电测试方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的光电测试方法，其特征在于，所述s10步骤具体包括：
3.根据权利要求2所述的光电测试方法，其特征在于，所述s101步骤中，所述固定载具包括多个镂空部，每一个所述镂空部内对应设置一个所述uv模组。
4.根据权利要求2所述的光电测试方法，其特征在于，所述s103步骤中，所述影像测试组件包括摄像模组。
5.根据权利要求1所述的光电测试方法，其特征在于，所述s20步骤中，采用处理图像分析算法比较所述实际发光图形与标准发光图形之间的匹配度，所述处理图像分析算法包括图像匹配算法、逻辑匹配算法以及人工智能匹配算法中的任意一种。
6.根据...
【专利技术属性】
技术研发人员：周桥，钱永存，陈景文，王永忠，
申请(专利权)人：武汉优炜芯科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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