产品检测方法、电子设备及存储介质技术

技术编号:40346048 阅读:30 留言:0更新日期:2024-02-09 14:31
本申请公开一种产品检测方法、电子设备及存储介质,方法包括:获取产品的缺陷图像,并确定所述缺陷图像对应的缺陷类型;根据所述缺陷类型确定区域尺寸,并根据所述区域尺寸分割所述缺陷图像,得到所述产品对应的多个区域图像;分类所述多个区域图像,得到多个图像组;确定每个图像组对应的目标缺陷识别模型,并调用所述目标缺陷识别模型处理所述图像组,得到所述产品对应的缺陷信息;确定所述产品对应的缺陷评价指标,并根据所述缺陷信息与所述缺陷评价指标确定所述产品的缺陷等级;根据所述缺陷等级确定所述产品的检测结果。本申请能够提高产品检测的准确性。

【技术实现步骤摘要】

本申请属于检测领域,尤其涉及一种产品检测方法、电子设备及存储介质


技术介绍

1、在对产品表面的缺陷检测问题上,基于深度学习的方式进行缺陷检测具备如下优势:端到端的学习方式可以消除数据预处理和对人类专家的依赖;深度学习的覆盖面广,适应性好,理论上可以映射到任何函数,可以解决复杂的缺陷检测问题。在产品检测过程中,将同一产品的表面图像输入至深度学习模型中,由深度学习模型得到产品的缺陷信息。

2、然而,随着生产工艺的成熟,产品良率较高,对于某一类型的产品,无法得到充足的缺陷图像作为训练数据;且由深度学习模型分析产品表面图像对应不同类型的缺陷,无法保证产品检测的准确性。


技术实现思路

1、本申请实施例提供了一种产品检测方法、电子设备及存储介质,以解决产品检测的准确性较低的问题。

2、本申请实施例第一方面提供一种产品检测方法,所述产品检测方法包括:获取产品的缺陷图像,并确定所述缺陷图像对应的缺陷类型;根据所述缺陷类型确定区域尺寸,并根据所述区域尺寸分割所述缺陷图像,得到所述产品对应的多个区域图像本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种产品检测方法,其特征在于,所述产品检测方法包括:

2.如权利要求1所述的产品检测方法,其特征在于,在所述获取产品的缺陷图像之后,所述方法还包括:

3.如权利要求1所述的产品检测方法,其特征在于,所述根据所述缺陷类型确定区域尺寸,包括:

4.如权利要求3所述的产品检测方法,其特征在于,所述根据所述区域尺寸分割所述缺陷图像,得到所述产品对应的多个区域图像,包括:

5.如权利要求1所述的产品检测方法,其特征在于,所述分类所述多个区域图像,得到多个图像组,包括:

6.如权利要求1所述的产品检测方法,其特征在于,所述确定每个图像组...

【技术特征摘要】

1.一种产品检测方法,其特征在于,所述产品检测方法包括:

2.如权利要求1所述的产品检测方法,其特征在于,在所述获取产品的缺陷图像之后,所述方法还包括:

3.如权利要求1所述的产品检测方法,其特征在于,所述根据所述缺陷类型确定区域尺寸,包括:

4.如权利要求3所述的产品检测方法,其特征在于,所述根据所述区域尺寸分割所述缺陷图像,得到所述产品对应的多个区域图像,包括:

5.如权利要求1所述的产品检测方法,其特征在于,所述分类所述多个区域图像,得到多个图像组,包括:

6.如权利要求1所述的产品检测方法,其特征在于,所述确定每个图像组对应的目标...

【专利技术属性】
技术研发人员:胡流彬肖寒琼张修龙刘衍忠
申请(专利权)人:富泰华工业深圳有限公司
类型:发明
国别省市:

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