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本申请公开一种产品检测方法、电子设备及存储介质，方法包括：获取产品的缺陷图像，并确定所述缺陷图像对应的缺陷类型；根据所述缺陷类型确定区域尺寸，并根据所述区域尺寸分割所述缺陷图像，得到所述产品对应的多个区域图像；分类所述多个区域图像，得到多个...
该专利属于富泰华工业（深圳）有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过富泰华工业（深圳）有限公司授权不得商用。

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