【技术实现步骤摘要】
本技术涉及光通信领域，具体涉及应用在光器件封装制造过程中的一种不带插针的box tosa liv测试系统。
技术介绍
1、随着光通信行业的迅猛发展，现在对tosa（transmitter optical subassembly，光发射次模块）的需求量越来越多，光器件封装企业之间的竞争也越来越激烈，降成本成了光器件厂商立足的首要任务。而在实际制程内，由于工艺条件以及测试方法的限制，有的器件的不良缺陷，只有在做成完成品或者插针焊接完成后才能够进行测试筛选，对器件的成本控制很不利。
技术实现思路
1、本技术的目的是为了解决上述问题，提供了一种不带插针的box tosa liv测试系统,在光接收探头的pd上安装与tosa管壳出光口匹配的治具，待需要测试的tosa器件在加电端固定好后，将管壳出光口对准治具口，启动测试软件，对器件进行liv曲线扫描。
2、本技术为实现上述目的所采用的技术方案是：一种不带插针的box tosa liv测试系统，其特征在于：包括liv测试设备、pd、软带加电夹具，所述pd包括接光pd、pd出光口治具、固定管壳治具，所述接光pd上连接pd出光口治具，所述pd出光口治具上连接用于固定待测件管壳的固定管壳治具，所述软带加电夹具包括加电夹、接电线，所述接电线用于连接加电夹与liv测试设备，所述加电夹包括上底板、下底板，两者中部通过轴连接，后部通过弹簧连接，前部为用于夹持待测件软带的夹口，所述夹口中设有用于给软带加电的探针和软带限位槽。
3、所述pd
4、所述软带限位槽位于上底板上，所述探针通过pcb板连接于下底板上，所述接电线与pcb板焊接。
5、所述待测件为不带插针的box tosa。
6、本技术同现有技术相比，具有如下优点：
7、1)本技术将测试工序靠前，在透镜贴装、插针焊接之前，大大节约了工时成本和物料成本。
8、2)测试不良品可以进行coc更换，对于coc以外的原材料的利用率达到最大化，降低报废率，提高了成品率。
9、3)不需要带插针测试，解决了由于跳线插拔不良导致的测试曲线不良误判问题。
10、4)不需要带插针测试，解决了器件在liv测试工序造成的插针端面损伤的问题。
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1.一种不带插针的BOX TOSA LIV测试系统，其特征在于：包括LIV测试设备（1）、PD（2）、软带加电夹具（3），所述PD（2）包括接光PD（201）、PD出光口治具（205）、固定管壳治具（202），所述接光PD（201）上连接PD出光口治具（205），所述PD出光口治具（205）上连接用于固定待测件管壳的固定管壳治具（202），所述软带加电夹具（3）包括加电夹、接电线（5），所述接电线（5）用于连接加电夹与LIV测试设备（1），所述加电夹包括上底板（301）、下底板（302），两者中部通过轴（307）连接，后部通过弹簧（303）连接，前部为用于夹持待测件软带的夹口，所述夹口中设有用于给软带加电的探针（304）和软带限位槽（305）。
2.根据权利要求1所述的一种不带插针的BOX TOSA LIV测试系统，其特征在于：所述PD出光口治具（205）通过螺栓（206）连接固定管壳治具（202），所述固定管壳治具（202）包括用于放置待测件管壳的卡口（203）及用于固定固定管壳治具（202）的螺母（204），所述螺母（204）上开设用于卡口（203）露出的开口。<...
【技术特征摘要】
1.一种不带插针的box tosa liv测试系统，其特征在于：包括liv测试设备（1）、pd（2）、软带加电夹具（3），所述pd（2）包括接光pd（201）、pd出光口治具（205）、固定管壳治具（202），所述接光pd（201）上连接pd出光口治具（205），所述pd出光口治具（205）上连接用于固定待测件管壳的固定管壳治具（202），所述软带加电夹具（3）包括加电夹、接电线（5），所述接电线（5）用于连接加电夹与liv测试设备（1），所述加电夹包括上底板（301）、下底板（302），两者中部通过轴（307）连接，后部通过弹簧（303）连接，前部为用于夹持待测件软带的夹口，所述夹口中设有用于给软带加电的探针（304）和软带限位槽（305）。
2.根据权利要求1所述的一种不带插...
【专利技术属性】
技术研发人员：洪振海，时伟，丁德强，武晓伟，朱春华，
申请(专利权)人：大连藏龙光电子科技有限公司，
类型：新型
国别省市：
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