密光检测装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术提供密光检测装置，涉及医疗器械领域，为解决现有技术中密光检测装置检测的灵敏度低的问题而设计。所述的密光检测装置包括：中空且密封的密光仓，所述密光仓的顶盖设置有进管口，所述密光仓的底盖设置有弃管口；封闭所述进管口的可旋转的上密封门；封闭弃管口的可旋转的下密封门；双密封门电机，与所述上密封门和所述下密封门连接，带动所述上密封门和所述下密封门旋转，使得所述上密封门处于密封状态和／或下密封门处于密封状态；检测盘，设置在所述密光仓中，所述检测盘上设置有放置试管的开孔；检测盘主轴，设置在所述密光仓的底盖上，与所述检测盘可旋转地连接，支撑并带动所述检测盘旋转。本实用新型专利技术可应用于免疫发光类检测仪器。（*该技术在2020年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及医疗器械领域，特别是指一种密光检测装置。
技术介绍
免疫发光类检测，是利用被检测物质发光(含自发光、电发光或化学发光)的原 理，对发光过程进行检测记数，并换算为被检测物的浓度，从而确定检测结果。检测过程 的前期需要对待测样品进行离心、混合、温育反应，检测过程的后期需要对发光物质进行探 测。探测通常是在一个密光环境中实施。在半自动或全自动仪器上，待测试管的放进、取出、 试剂添加都需要一定的开放空间，因此带来仪器密光度不够、背景值偏高等问题，从而影响 检测结果的一致性和准确性。现有的全自动免疫发光分析仪中，多采用在位检测结构，即样品与专用试剂温育 反应后，在环形盘或链上某个位置，附加一定的密光结构和探测器件。由于试管密光度以及 进出间隙的限制，造成密光性能下降，探测背景值偏高等缺陷，降低了检测的灵敏度。
技术实现思路
本技术要解决的技术问题是提供一种提高检测灵敏度的密光检测装置。为解决上述技术问题，本技术的实施例提供技术方案如下一种密光检测装置，包括中空且密封的密光仓，所述密光仓的顶盖设置有进管口，所述密光仓的底盖设置 有弃管口 ；封闭所述进管口的可旋转的上密封门；封闭所述弃管口的可旋转的下密封门；双密封门电机，与所述上密封门和所述下密封门连接，带动所述上密封门和所述 下密封门旋转，使得所述上密封门处于密封状态和/或下密封门处于密封状态；检测盘，设 置在所述密光仓中，所述检测盘上设置有放置试管的开孔；检测盘主轴，设置在所述密光仓的底盖上，与所述检测盘可旋转地连接，支撑并带 动所述检测盘旋转。所述密光仓的侧面设置有检测窗开口 ；在所述检测窗开口处与所述密光仓固定连 接有光学镜筒；所述光学镜筒的自由端固定连接有光子计数器。所述进管口和所述弃管口在竖直方向上同轴。所述双密封门电机带动所述上密封门和所述下密封门同步旋转，所述上密封门上 设置有供试管穿过的开孔。所述上密封门设置在所述密光仓的顶盖的上面，所述下密封门设置在所述密光仓 的底盖的下面；或者，所述密光仓的顶盖的侧面设置有凹槽，所述上密封门可旋转的嵌入在所述 密光仓的顶盖的凹槽中；所述密光仓的底盖的侧面设置有凹槽，所述下密封门可旋转的嵌入在所述密光仓底盖的凹槽中。所述密光仓的顶盖设置有底物添加口，当放置在所述检测盘的开孔中的试管旋转 到对应所述底物添加口的位置时，通过所述底物添加口往所述试管中添加底物。所述检测盘上设置有两个密光垫，所述两个密光垫在所述检测盘上的位置相应于 所述进管口和所述底物添加口在所述密光仓的顶盖的位置，当所述检测盘带动放置在所述 检测盘的开孔中的所述试管旋转到对应所述检测窗开口的位置时，所述两个密光垫分别密 封所述进管口和所述底物添加口。所述检测盘为倒置的筒形，所述检测盘的上表面的直径大于所述检测盘的筒形柱 体的直径。所述的密光检测装置，还包括与所述密光仓贯通的侧密光盒，在所述侧密光盒的内部设置有弹性突块，当所述 检测盘带动试管旋转时，所述弹性突块与所述试管摩擦。所述侧密光盒与所述密光仓的连接处设置有密封垫。所述侧密光盒与所述弹性突块通过弹性体连接。本技术的实施例具有以下有益效果上述方案中，光学镜筒汇聚检测盘上的试管中的被检测物的发光信号；光子计数 器采集所述发光信号，并将所述发光信号转换成电子信号。在结构上提高了密光环境的封 闭性，整个处理过程在封闭的环境中进行，提高了检测的灵敏度。附图说明图1是本技术密光检测装置的立体图；图2是本技术密光检测装置的主视图；图3是本技术密光检测装置的俯视局部剖面图；图4是本技术密光检测装置的主视剖面图；图5是本技术密光检测装置的局部放大图。具体实施方式为使本技术的实施例要解决的技术问题、技术方案和优点更加清楚，下面将 结合附图及具体实施例进行详细描述。图1是本技术密光检测装置的立体图，图2是本技术密光检测装置的主 视图；图3是本技术密光检测装置的俯视局部剖面图；图4是本技术密光检测装 置的主视剖面图；图5是本技术密光检测装置的局部放大图，图4中用圆圈示出了图5 的放大部位。图1中示意出了主视图和俯视图的观察方向。如图所示，为本技术所述的密光检测装置，包括中空且密封的密光仓1，所述密光仓1的顶盖3设置有进管口，所述密光仓1的底盖设置有弃管口；封闭所述进管口的可旋转的上密封门4 ；封闭所述弃管口的可旋转的下密封门15 ；双密封门电机5，与所述上密封门4和所述下密封门15连接，带动所述上密封门4和所述下密封门15旋转；使得所述上密封门4处于密封状态和/或下密封门15处于密封 状态；检测盘2，设置在所述密光仓1中，所述检测盘2上设置有放置试管9的开孔；检测盘主轴18，设置在所述密光仓1的底盖上，与所述检测盘2可旋转地连接，支 撑并带动所述检测盘2旋转。所述密光仓1的侧面设置有检测窗12开口 ；在所述检测窗12开口处与所述密光 仓1固定连接的光学镜筒10 ；光子计数器，与所述光学镜筒10固定连接；在所述检测窗12开口处与所述密光仓1固定连接有光学镜筒10 ；所述光学镜筒 10的自由端固定连接有光子计数器11。所述的密光检测装置，还包括检测盘步进电机6、检测盘带轮13、同步带14、电机 带轮16。光学镜筒10、光子计数器11以及检测盘步进电机6设置在密光仓1外部，光学镜 筒10与光子计数器11同轴。所述进管口和所述弃管口在竖直方向上同轴。所述双密封门电机5带动所述上密封门4和所述下密封门15同步旋转，所述上密 封门4上设置有供试管9穿过的开孔。所述上密封门4设置在所述密光仓1的顶盖3的上面，所述下密封门15设置在所 述密光仓1的底盖的下面；或者，所述密光仓1的顶盖3的侧面设置有凹槽，所述上密封门4可旋转的嵌入在 所述密光仓1的顶盖3的凹槽中；所述密光仓1的底盖的侧面设置有凹槽，所述下密封门15 可旋转的嵌入在所述密光仓1底盖的凹槽中。进管口和弃管口可以为上下正对，进管口、弃管口的外侧设置的同轴对齐的上密 封门4和下密封门15可以同时旋转。双密封门电机5驱动上下密封门15转动，停留在不 同位置，分别在上开下关、上下关、上下开三个位置，实现上进管、密光、下出管。上密封门4 打开而下密封门15关闭时，通过进管口进试管9 ；上密封门4关闭下密封门15打开时，通 过下密封门15丢弃试管9，上密封门4和下密封门15同时关闭时，起到密光的作用。上密 封门4和下密封门15为同步旋转的上下扇形门，在上密封门4开一个口，通过该开口，往检 测盘2中放试管9，同时方便电机控制，在工艺上比较容易实现。所述密光仓1的顶盖3设置有底物添加口，当放置在所述检测盘2的开孔中的试 管9旋转到对应所述底物添加口的位置时，通过所述底物添加口往所述试管9中添加底物。所述检测盘2上设置有两个密光垫17，图1中未示出密光仓1的顶盖3。所述两 个密光垫在所述检测盘2上的位置相应于所述进管口和所述底物添加口在所述密光仓1的 顶盖3的位置，当所述检测盘2带动放置在所述检测盘2的开孔中的所述试管9旋转到对 应所述检测窗12开口的位置时，所述两个密光垫分别密封所述进管口和所述底物添加口。检测盘2的外侧设有弹性混勻装置，也就是说，所述的密光检测装置，还包括与 所述密光仓1贯通的侧本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种密光检测装置，其特征在于，包括：中空且密封的密光仓，所述密光仓的顶盖设置有进管口，所述密光仓的底盖设置有弃管口；封闭所述进管口的可旋转的上密封门；封闭所述弃管口的可旋转的下密封门；双密封门电机，与所述上密封门和所述下密封门连接，带动所述上密封门和所述下密封门旋转，使得所述上密封门处于密封状态和／或下密封门处于密封状态；检测盘，设置在所述密光仓中，所述检测盘上设置有放置试管的开孔；检测盘主轴，设置在所述密光仓的底盖上，与所述检测盘可旋转地连接，支撑并带动所述检测盘旋转。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：陈任远，高春海，刘英，曹瑞，孟刚，谷风华，张明明，雷金春，李自双，
申请(专利权)人：北京利德曼生化股份有限公司，
类型：实用新型
国别省市：11[中国|北京]