【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于测试光谱透过率的，特别涉及一种采用激光阵列测试光学系统光谱透过率的装置及方法。
技术介绍
1、光谱透过率直接地反映了整个光学系统的辐射光通量的损耗与成像质量的好坏，所以对光谱透过率的测量是非常重要的。
2、光电检测技术日渐成为各行业着重使用的高新测量技术，而在光电检测设备的生产过程中，光学系统的性能好坏是影响设备性能的重要因素。评价光学系统性能的指标中光谱透过率的大小会直接影响系统的成像亮度和清晰程度。
3、目前光谱透过率检测方法光源大多为单色仪，在一定程度上限制了光谱范围；另外由于测试大多是通过单通道系统进行的，导致两次测试时的辐射光通量存在差异，从而增大了最终测试结果的不准确度。
技术实现思路
1、针对上述问题，本专利技术提供一种采用激光阵列测试光学系统光谱透过率的装置及方法，简单、快速地对光学系统光谱透过率进行测试。
2、一种采用激光阵列测试光学系统光谱透过率的装置，包括：滑轨或靶轮、阵列激光器、平行光管、光阑、翻转反射镜、样品区和探测器；所述阵列激光器安装在滑轨或靶轮上，阵列激光器摆放在平行光管的焦面处得到平行光，所述光阑安装在平行光管的出光口处，翻转反射镜安装在光阑与样品区的中间，所述探测器安装在样品区正后方；调整滑轨或靶轮，阵列激光器中的激光器作为光源获得光束，光束通过平行光管后变成平行光，调整光阑的大小得到合适的光束口径，翻转反射镜为0度时，平行光通过样品区后汇聚在探测器靶面上，得到第一数值，翻转反射镜为45度时，平行
3、进一步地，所述阵列激光器由多个激光器排列在滑轨上或靶轮上组合而成，调整滑轨或靶轮上不同激光器的位置，激光器均放置在平行光管的焦面处，经过平行光管后得到平行光，该平行光用于通过样品区测得光谱透过率。
4、进一步地，光源为阵列激光器发出的可以达到较大的波长范围且能量强的光束，用于快速测量光谱透过率。
5、本专利技术还提供一种采用激光阵列测试光学系统光谱透过率的装置的测试方法，包括：调整滑轨或靶轮，选择阵列激光器中的合适的激光器为光源获得光束，光束通过平行光管后变成平行光，调整光阑的大小得到合适的光束口径，翻转反射镜为0度时，平行光通过样品区后汇聚在探测器靶面上，得到第一数值，翻转反射镜为45度时，平行光反射45度汇聚在探测器靶面上，得到第二数值，从而获得光谱透过率为第一数值/第二数值。
6、有益效果：
7、本专利技术能够快速切换激光器，选择所需波长进行测试，解决了单色仪切光慢、波段较宽的问题。
本文档来自技高网...【技术保护点】
1.一种采用激光阵列测试光学系统光谱透过率的装置，其特征在于，包括：滑轨或靶轮、阵列激光器、平行光管、光阑、翻转反射镜、样品区和探测器；所述阵列激光器安装在滑轨或靶轮上，阵列激光器摆放在平行光管的焦面处得到平行光，所述光阑安装在平行光管的出光口处，翻转反射镜安装在光阑与样品区的中间，所述探测器安装在样品区正后方；调整滑轨或靶轮，阵列激光器中的激光器作为光源获得光束，光束通过平行光管后变成平行光，调整光阑的大小得到合适的光束口径，翻转反射镜为0度时，平行光通过样品区后汇聚在探测器靶面上，得到第一数值，翻转反射镜为45度时，平行光反射45度汇聚在探测器靶面上，得到第二数值，获得光谱透过率为第一数值/第二数值。
2.根据权利要求1所述的一种采用激光阵列测试光学系统光谱透过率的装置，其特征在于，所述阵列激光器由多个激光器排列在滑轨上或靶轮上组合而成，调整滑轨或靶轮上不同激光器的位置，激光器均放置在平行光管的焦面处，经过平行光管后得到平行光，该平行光用于通过样品区测得光谱透过率。
3.根据权利要求1所述的一种采用激光阵列测试光学系统光谱透过率的装置，其特征在于，光源
4.根据权利要求3所述的一种采用激光阵列测试光学系统光谱透过率的装置，其特征在于，所述较大的波长范围为大于或等于635nm。
5.根据权利要求1-4之一所述的一种采用激光阵列测试光学系统光谱透过率的装置的测试方法，其特征在于，调整滑轨或靶轮，选择阵列激光器中的合适的激光器为光源获得光束，光束通过平行光管后变成平行光，调整光阑的大小得到合适的光束口径，翻转反射镜为0度时，平行光通过样品区后汇聚在探测器靶面上，得到第一数值，翻转反射镜为45度时，平行光反射45度汇聚在探测器靶面上，得到第二数值，从而获得光谱透过率为第一数值/第二数值。
...【技术特征摘要】
1.一种采用激光阵列测试光学系统光谱透过率的装置，其特征在于，包括：滑轨或靶轮、阵列激光器、平行光管、光阑、翻转反射镜、样品区和探测器；所述阵列激光器安装在滑轨或靶轮上，阵列激光器摆放在平行光管的焦面处得到平行光，所述光阑安装在平行光管的出光口处，翻转反射镜安装在光阑与样品区的中间，所述探测器安装在样品区正后方；调整滑轨或靶轮，阵列激光器中的激光器作为光源获得光束，光束通过平行光管后变成平行光，调整光阑的大小得到合适的光束口径，翻转反射镜为0度时，平行光通过样品区后汇聚在探测器靶面上，得到第一数值，翻转反射镜为45度时，平行光反射45度汇聚在探测器靶面上，得到第二数值，获得光谱透过率为第一数值/第二数值。
2.根据权利要求1所述的一种采用激光阵列测试光学系统光谱透过率的装置，其特征在于，所述阵列激光器由多个激光器排列在滑轨上或靶轮上组合而成，调整滑轨或靶轮上不同激光器的位置，激光器均放置在平行光...
【专利技术属性】
技术研发人员：魏铮，林昭珩，曹学东，李东阳，
申请(专利权)人：中国科学院光电技术研究所，
类型：发明
国别省市：
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