【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及图像缺陷检测领域，具体涉及一种充电器表面缺陷视觉检测方法。
技术介绍
1、充电器作为电子产品的配套设备，已应用到各个方面，在生产过程中，充电器表面会不可避免地出现诸如裂痕等缺陷，为了保证用户能够安全有效的使用充电器，对充电器的质量进行检测是必需的，其中对充电器表面的缺陷检测则是具有更加重要的地位。
2、相关技术中通常利用图像分割技术提取出充电器表面的缺陷区域。但在生产过程中充电器表面的裂痕缺陷在不同位置处的深度存在较大差异，导致不同位置处的像素点灰度值的差异过大，直接对充电器表面图像进行图像分割往往会导致一部分缺陷的丢失，从而得不到完整的裂痕缺陷区域，从而降低对充电器表面缺陷检测的准确性。
技术实现思路
1、为了解决充电器表面的裂痕缺陷在不同位置处的深度存在较大差异，通过现有技术往往得不到完整的裂痕缺陷区域，从而降低对充电器表面缺陷检测的准确性的技术问题，本专利技术的目的在于提供一种充电器表面缺陷视觉检测方法，所采用的技术方案具体如下：
2、本专利技术提出了一种充电器表面缺陷视觉检测方法，所述方法包括：
3、获取充电器表面的灰度图像；对所述灰度图像进行阈值分割获得充电器表面的裂痕分段；
4、在灰度图像中以每个裂痕分段的端点处的像素点作为种子点，根据种子点和预设邻域范围内其他像素点之间的灰度差异，获得每个种子点的初始像素块；
5、根据每个初始像素块中所有像素点的灰度值获得对应初始像素块的灰度参数；任意选取一个初
6、基于所述缺陷区域对充电器表面进行缺陷检测。
7、进一步地，所述根据种子点和预设邻域范围内其他像素点之间的灰度差异，获得每个种子点的初始像素块包括：
8、将任意一个种子点作为标记点，将所述标记点和预设邻域范围内每个其他像素点的灰度值差值的绝对值进行负相关的归一化，获得标记点与对应其他像素点之间的像素点相似度；
9、确定预设邻域范围内标记点与其他像素点之间的像素点相似度是否满足预设条件；
10、若满足预设条件，则将像素点相似度的最大值对应的其他像素点作为下一个标记点，并在下一个标记点的预设邻域范围内继续执行选取过程；
11、若不满足预设条件，则停止选取下一个标记点，将得到的所有标记点组成的区域作为对应种子点的初始像素块；
12、遍历所有种子点，获得每个种子点的初始像素块。
13、进一步地，所述确定预设邻域范围内标记点与其他像素点之间的像素点相似度是否满足预设条件包括：
14、若预设邻域范围内所述像素点相似度的最大值大于预设相似度阈值，则满足预设条件；
15、若预设邻域范围内所述像素点相似度的最大值不大于预设相似度阈值，则不满足预设条件。
16、进一步地，所述根据每个初始像素块中所有像素点的灰度值获得对应初始像素块的灰度参数包括：
17、将每个所述初始像素块中所有像素点的灰度值的平均值，作为对应初始像素块的灰度参数。
18、进一步地，所述根据所述灰度参数的差异，对主像素块和其他初始像素块进行合并，获得合并后的判断像素块包括：
19、将与主像素块的边缘存在重合的其他初始像素块，作为主像素块的相邻像素块；
20、对主像素块与每个所述相邻像素块的灰度参数的差值的绝对值进行负相关的归一化，获得每次合并前主像素块与对应相邻像素块之间的块相似度；
21、将所述块相似度大于预设合并阈值对应的所述相邻像素块，作为主像素块的可合并像素块；
22、将所有所述可合并像素块与主像素块组成的整体区域，作为每次合并后的判断像素块。
23、进一步地，所述根据每次合并前后的主像素块和判断像素块中像素点数量的差异判断合并是否收敛包括：
24、将每次合并后的判断像素块中像素点数量与合并前的主像素块中像素点数量的差值，作为每次合并前后的数量变化幅度；
25、将所述数量变化幅度与合并前的主像素块中像素点数量的比值，作为每次合并前后的数量变化率；
26、若所述数量变化率大于预设变化率阈值，则合并未收敛，否则合并已收敛。
27、进一步地，所述更新合并后的新的主像素块的灰度参数包括：
28、将每次合并后的新的主像素块中所有像素点的灰度值的平均值，作为合并后的新的主像素块的整体灰度；
29、将所述整体灰度与每次合并前的主像素块的每个所述可合并像素块的灰度参数的差值的绝对值，作为整体灰度差异；
30、将每次合并后的新的主像素块中像素点数量与合并前的主像素块的每个所述可合并像素块中像素点数量的差值的绝对值，作为像素点数量差异；
31、将所述整体灰度差异和所述像素点数量差异的和值，作为合并后的新的主像素块与合并前对应的可合并像素块之间的差异程度；
32、将每次合并后的新的主像素块的中心点和合并前的主像素块的每个所述可合并像素块的中心点之间的距离，作为合并后新的主像素块与合并前对应的可合并像素块之间的距离参数；
33、根据合并后新的主像素块与合并前所有所述可合并像素块之间的所述差异程度和所述距离参数，获得每次合并前后的变化程度；
34、将所述变化程度与所述整体灰度值的乘积值，作为每次合并后的新的主像素块的灰度参数。
35、进一步地，所述根据合并后新的主像素块与合并前所有所述可合并像素块之间的所述差异程度和所述距离参数，获得每次合并前后的变化程度包括：
36、将每次合并后新的主像素块与合并前每个所述可合并像素块对应的所述差异程度和所述距离参数的乘积值，作为合并后新的主像素块与合并前对应的所述可合并像素块之间的变化指标；
37、对合并后新的主像素块与合并前的所有所述可合并像素块之间的变化指标的平均值进行归一化，获得每次合并前后的变化程度。
38、进一步地，所述基于所述缺陷区域对充电器表面进行缺陷检测包括：
39、将所述缺陷区域进行平滑滤波处理后的结果，作为充电器表面的裂痕区域。
40、进一步地，所述阈值分割的方法为大津阈值分割。
41、本专利技术具有如下有益效果：
42、本专利技术考虑到直接对图像进行分割得不到完整的裂痕缺陷，降低对充电器表面缺陷检测的准确性，因此本专利技术首先对充电器表面的灰度图像进行阈值分割得到裂痕分段，从而初步提取出充电器表面的裂痕区域，考虑到由于裂痕缺陷在不同位置处的深度存在较大差异，初步提取的裂痕分段并不是连续的，并且存在部分裂痕本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种充电器表面缺陷视觉检测方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的一种充电器表面缺陷视觉检测方法，其特征在于，所述根据种子点和预设邻域范围内其他像素点之间的灰度差异，获得每个种子点的初始像素块包括：
3.根据权利要求2所述的一种充电器表面缺陷视觉检测方法，其特征在于，所述确定预设邻域范围内标记点与其他像素点之间的像素点相似度是否满足预设条件包括：
4.根据权利要求1所述的一种充电器表面缺陷视觉检测方法，其特征在于，所述根据每个初始像素块中所有像素点的灰度值获得对应初始像素块的灰度参数包括：
5.根据权利要求1所述的一种充电器表面缺陷视觉检测方法，其特征在于，所述根据所述灰度参数的差异，对主像素块和其他初始像素块进行合并，获得合并后的判断像素块包括：
6.根据权利要求1所述的一种充电器表面缺陷视觉检测方法，其特征在于，所述根据每次合并前后的主像素块和判断像素块中像素点数量的差异判断合并是否收敛包括：
7.根据权利要求5所述的一种充电器表面缺陷视觉检测方法，其特征在于，所述更新合并后的新的主
8.根据权利要求7所述的一种充电器表面缺陷视觉检测方法，其特征在于，所述根据合并后新的主像素块与合并前所有所述可合并像素块之间的所述差异程度和所述距离参数，获得每次合并前后的变化程度包括：
9.根据权利要求1所述的一种充电器表面缺陷视觉检测方法，其特征在于，所述基于所述缺陷区域对充电器表面进行缺陷检测包括：
10.根据权利要求1所述的一种充电器表面缺陷视觉检测方法，其特征在于，所述阈值分割的方法为大津阈值分割。
...【技术特征摘要】
1.一种充电器表面缺陷视觉检测方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的一种充电器表面缺陷视觉检测方法，其特征在于，所述根据种子点和预设邻域范围内其他像素点之间的灰度差异，获得每个种子点的初始像素块包括：
3.根据权利要求2所述的一种充电器表面缺陷视觉检测方法，其特征在于，所述确定预设邻域范围内标记点与其他像素点之间的像素点相似度是否满足预设条件包括：
4.根据权利要求1所述的一种充电器表面缺陷视觉检测方法，其特征在于，所述根据每个初始像素块中所有像素点的灰度值获得对应初始像素块的灰度参数包括：
5.根据权利要求1所述的一种充电器表面缺陷视觉检测方法，其特征在于，所述根据所述灰度参数的差异，对主像素块和其他初始像素块进行合并，获得合并后的判断像素块包括：
...【专利技术属性】
技术研发人员：易立华，
申请(专利权)人：东莞市江霖五金实业有限公司，
类型：发明
国别省市：
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