【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及半导体芯片测试，特别涉及一种芯片测试座自动清洁装置及芯片自动测试设备。
技术介绍
1、近年来，5g、人工智能、物联网、云计算、智能电动车等新兴科技领域快速崛起，随着技术不断发展成熟，半导体芯片的应用场景越来越广阔。
2、芯片在生产出厂之前，一般需要进行各项功能测试，以确保芯片质量和可靠性。目前，市面上的芯片测试设备通常采用芯片测试座搭载芯片，以执行对芯片的测试任务。若芯片测试座出现脏污将会影响芯片的测试结果，故每隔一段时间对芯片测试座进行清洁，但均是通过人工手动清洁，耗时费力、清洁效率低。
技术实现思路
1、本专利技术的主要目的是提出一种芯片测试座自动清洁装置，旨在解决目前芯片测试设备的芯片测试座通过人工手动清洁耗时费力、清洁效率低的技术问题。
2、为实现上述目的，本专利技术提出一种芯片测试座自动清洁装置，该芯片测试座自动清洁装置包括移动架、清洁组件和驱动机构，所述驱动机构的输出执行端与所述移动架连接，所述清洁组件为至少一个且至少一个所述清洁组件设于所述移动架上，所述清洁组件包括扫灰件，所述扫灰件对芯片测试座进行扫灰清洁。
3、在一些实施例中，所述清洁组件还包括升降座、安装件和驱动组件，所述升降座可移动地设于所述移动架上，所述驱动组件设于所述移动架上且与所述升降座连接，所述安装件设于所述升降座上且所述安装件的一端可拆卸地安装所述扫灰件。
4、在一些实施例中，所述驱动组件包括驱动电机、转动臂和弹性件；
5、所述
6、所述弹性件的一端连接所述移动架，另一端连接所述升降座，所述弹性件对所述升降座施加与所述挤压力方向相反的弹性力。
7、在一些实施例中，所述安装件的一端和所述扫灰件的其中一者上设置有磁铁块，其中另一者上设置有与所述磁铁块磁吸连接的磁吸件。
8、在一些实施例中，所述安装件的一端和所述扫灰件的其中一者上设置有定位凸起，其中另一者设置有与所述定位凸起插装配合的定位孔。
9、在一些实施例中，所述清洁组件还包括驱动件，所述驱动件设于所述升降座上且位于所述安装件的一侧，所述安装件的另一端与所述驱动件的输出端连接，所述驱动件用于驱动所述安装件转动。
10、在一些实施例中，所述驱动件为双轴电机，所述双轴电机的输出轴的两端分别从其机体的相对两侧伸出；
11、所述双轴电机的输出轴为中空轴，所述安装件位于所述双轴电机的输出轴的一端，所述双轴电机的输出轴的另一端用于连接负压装置；
12、所述扫灰件上设有第一气体通道，所述安装件上设有第二气体通道，所述第一气体通道的一端开口为吸尘口，所述第二气体通道的两端开口分别与所述第一气体通道的另一端开口和所述双轴电机的输出轴相连通。
13、在一些实施例中，所述芯片测试座自动清洁装置还包括至少一个放置座，所述放置座上设有至少一个用于放置所述扫灰件的放置区。
14、在一些实施例中，所述放置区构造有放置槽和用于供所述扫灰件进出所述放置槽的进出口；
15、所述扫灰件的侧面设置有环形凹槽，所述放置槽的侧壁凸出设置有卡持部，所述卡持部卡持于所述环形凹槽中以承载所述扫灰件。
16、本专利技术还提出一种芯片自动测试设备，该芯片自动测试设备包括如前述记载的芯片测试座自动清洁装置。
17、本专利技术芯片测试座自动清洁装置清洁芯片测试座，其可通过驱动机构驱动移动架带动清洁组件移动，以使清洁组件的扫灰件移动至芯片测试座处对其进行扫灰清洁；并在清洁完成之后，通过驱动机构驱动移动架带动清洁组件移动，以使清洁组件的扫灰件离开已清洁的芯片测试座。本专利技术芯片测试座自动清洁装置可取代人工，实现对芯片测试座的自动清洁，省时省力，清洁效率高。
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1.一种芯片测试座自动清洁装置，其特征在于，包括移动架、清洁组件和驱动机构，所述驱动机构的输出执行端与所述移动架连接，所述清洁组件为至少一个且至少一个所述清洁组件设于所述移动架上，所述清洁组件包括扫灰件，所述扫灰件对芯片测试座进行扫灰清洁。
2.根据权利要求1所述的芯片测试座自动清洁装置，其特征在于，所述清洁组件还包括升降座、安装件和驱动组件，所述升降座可移动地设于所述移动架上，所述驱动组件设于所述移动架上且与所述升降座连接，所述安装件设于所述升降座上且所述安装件的一端可拆卸地安装所述扫灰件。
3.根据权利要求2所述的芯片测试座自动清洁装置，其特征在于，所述驱动组件包括驱动电机、转动臂和弹性件；
4.根据权利要求2所述的芯片测试座自动清洁装置，其特征在于，所述安装件的一端和所述扫灰件的其中一者上设置有磁铁块，其中另一者上设置有与所述磁铁块磁吸连接的磁吸件。
5.根据权利要求4所述的芯片测试座自动清洁装置，其特征在于，所述安装件的一端和所述扫灰件的其中一者上设置有定位凸起，其中另一者设置有与所述定位凸起插装配合的定位孔。
7.根据权利要求6所述的芯片测试座自动清洁装置，其特征在于，所述驱动件为双轴电机，所述双轴电机的输出轴的两端分别从其机体的相对两侧伸出；
8.根据权利要求2～7任一项所述的芯片测试座自动清洁装置，其特征在于，还包括至少一个放置座，所述放置座上设有至少一个用于放置所述扫灰件的放置区。
9.根据权利要求8所述的芯片测试座自动清洁装置，其特征在于，所述放置区构造有放置槽和用于供所述扫灰件进出所述放置槽的进出口；
10.一种芯片自动测试设备，其特征在于，包括如权利要求1-9任一项所述的芯片测试座自动清洁装置。
...【技术特征摘要】
1.一种芯片测试座自动清洁装置，其特征在于，包括移动架、清洁组件和驱动机构，所述驱动机构的输出执行端与所述移动架连接，所述清洁组件为至少一个且至少一个所述清洁组件设于所述移动架上，所述清洁组件包括扫灰件，所述扫灰件对芯片测试座进行扫灰清洁。
2.根据权利要求1所述的芯片测试座自动清洁装置，其特征在于，所述清洁组件还包括升降座、安装件和驱动组件，所述升降座可移动地设于所述移动架上，所述驱动组件设于所述移动架上且与所述升降座连接，所述安装件设于所述升降座上且所述安装件的一端可拆卸地安装所述扫灰件。
3.根据权利要求2所述的芯片测试座自动清洁装置，其特征在于，所述驱动组件包括驱动电机、转动臂和弹性件；
4.根据权利要求2所述的芯片测试座自动清洁装置，其特征在于，所述安装件的一端和所述扫灰件的其中一者上设置有磁铁块，其中另一者上设置有与所述磁铁块磁吸连接的磁吸件。
5.根据权利要求4所述的芯片测试座自动清洁装置，其特征在于，所述安...
【专利技术属性】
技术研发人员：徐永刚，彭瑞，童炜，孙成思，何瀚，王灿，
申请(专利权)人：成都态坦测试科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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