探针治具和电阻测试设备制造技术

技术编号:40222935 阅读:5 留言:0更新日期:2024-02-02 22:28
本技术公开了一种探针治具和电阻测试设备,探针治具包括主体、第一连接部和第二连接部,第一连接部设于主体的上侧,用于在横向上位置可调地连接上下驱动模组,第二连接部设于主体的下侧,第二连接部用于可拆卸地连接探针模块。在本技术中,通过设置第一连接部实现了探针治具与上下驱动模组的可调节连接,通过设置第二连接部实现了探针治具与探针模块的可拆卸连接,从而可以根据测试电阻产品的类别选则合适规格的探针模块进行连接测试,提高了探针治具的兼容性和利用率,方便了不同类别产品的合金电阻检测。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及电阻检测,具体涉及一种探针治具和电阻测试设备


技术介绍

1、在合金采样电阻测试中,针对整板的合金电阻检测,大部分需调阻设备及探针测试模块配合使用,该测试方式对探针测试模块匹配性要求较高,且探针测试模块一般是单一规格的,即一个探针测试模块只能测试一种类别的产品,探针测试模块兼容性差,模块利用率不高。


技术实现思路

1、因此,本技术旨在提供一种兼容性好、能够适用于多种类别的电阻产品测试的探针治具。

2、为解决上述技术问题,本技术提供一种探针治具,包括:

3、主体;

4、第一连接部,设于所述主体的上侧,所述第一连接部用于在横向上位置可调地连接上下驱动模组;以及,

5、第二连接部,设于所述主体的下侧,所述第二连接部用于可拆卸地连接探针模块。

6、在一实施例中,所述主体沿上下向贯设有观察通道,所述观察通道在所述主体的上侧形成有上开口,在所述主体下侧形成有下开口,所述第一连接部与所述上开口在纵向上呈并排设置,所述下开口用以朝向所述探针模块的探针设置。

7、在一实施例中,所述探针治具还包括放大镜片,所述放大镜片盖设于所述上开口。

8、在一实施例中,所述主体包括在上下方向依次设置的第一连接块和第二连接块,所述第一连接块在横向上的尺寸大于所述第二连接块,所述第一连接部设于所述第一连接块的上侧,所述第二连接部设于所述第二连接块的下侧,所述观察通道贯设于所述第一连接块和所述第二连接块,所述上开口形成于所述第一连接块上侧,所述下开口形成于所述第二连接块下侧。

9、在一实施例中,所述第一连接部包括凸设于所述主体上侧的安装板,所述安装板上开设有沿横向延伸的长形孔,所述长形孔沿纵向贯设于所述安装板。

10、在一实施例中,所述长形孔设有两个,两个所述长形孔在横向上呈间隔设置。

11、在一实施例中,所述第二连接部包括两组固定件,两组所述固定件在横向上分设于所述下开口的两侧。

12、在一实施例中,每组所述固定件分别包括多个螺栓,各所述螺栓分别用于螺接所述探针模块的上对应的螺孔。

13、在一实施例中,每组所述固定件分别形成有卡接部,各所述卡接部分别用于卡接所述探针模块的上对应的卡接配合部。

14、为解决上述技术问题,本技术提供一种电阻测试设备,包括:

15、承载模组,用于承载待检测的产品;

16、如上文所述的探针治具,用于可拆卸的连接探针模块;以及,

17、上下驱动模组,设于所述承载模组上方,所述探针治具在横向上位置可调地连接于所述上下驱动模组,所述上下驱动模组用于驱动探针治具向所述产品下压,以使得所述探针模块的探针触接所述产品上对应的触点。

18、本技术提供的技术方案,具有以下优点:

19、本技术提供的探针治具包括主体、第一连接部和第二连接部,第一连接部设于主体的上侧,用于在横向上位置可调地连接上下驱动模组,第二连接部设于主体的下侧,第二连接部用于可拆卸地连接探针模块。在本技术中,通过设置第一连接部实现了探针治具与上下驱动模组的可调节连接,通过设置第二连接部实现了探针治具与探针模块的可拆卸连接,从而可以根据测试电阻产品的类别选则合适规格的探针模块进行连接测试,提高了探针治具的兼容性和利用率,方便了不同类别产品的合金电阻检测。

本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种探针治具,其特征在于,包括:

2.如权利要求1所述的探针治具,其特征在于,所述主体沿上下向贯设有观察通道,所述观察通道在所述主体的上侧形成有上开口,在所述主体下侧形成有下开口,所述第一连接部与所述上开口在纵向上呈并排设置,所述下开口用以朝向所述探针模块的探针设置。

3.如权利要求2所述的探针治具,其特征在于,所述探针治具还包括放大镜片,所述放大镜片盖设于所述上开口。

4.如权利要求2所述的探针治具,其特征在于,所述主体包括在上下方向依次设置的第一连接块和第二连接块,所述第一连接块在横向上的尺寸大于所述第二连接块,所述第一连接部设于所述第一连接块的上侧,所述第二连接部设于所述第二连接块的下侧,所述观察通道贯设于所述第一连接块和所述第二连接块,所述上开口形成于所述第一连接块上侧,所述下开口形成于所述第二连接块下侧。

5.如权利要求1至4中任一项所述的探针治具,其特征在于,所述第一连接部包括凸设于所述主体上侧的安装板,所述安装板上开设有沿横向延伸的长形孔,所述长形孔沿纵向贯设于所述安装板。

6.如权利要求5所述的探针治具,其特征在于,所述长形孔设有两个,两个所述长形孔在横向上呈间隔设置。

7.如权利要求2至4中任一项所述的探针治具,其特征在于,所述第二连接部包括两组固定件,两组所述固定件在横向上分设于所述下开口的两侧。

8.如权利要求7所述的探针治具,其特征在于,每组所述固定件分别包括多个螺栓,各所述螺栓分别用于螺接所述探针模块的上对应的螺孔。

9.如权利要求7所述的探针治具,其特征在于,每组所述固定件分别形成有卡接部,各所述卡接部分别用于卡接所述探针模块的上对应的卡接配合部。

10.一种电阻测试设备,其特征在于,包括:

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【技术特征摘要】

1.一种探针治具,其特征在于,包括:

2.如权利要求1所述的探针治具,其特征在于,所述主体沿上下向贯设有观察通道,所述观察通道在所述主体的上侧形成有上开口,在所述主体下侧形成有下开口,所述第一连接部与所述上开口在纵向上呈并排设置,所述下开口用以朝向所述探针模块的探针设置。

3.如权利要求2所述的探针治具,其特征在于,所述探针治具还包括放大镜片,所述放大镜片盖设于所述上开口。

4.如权利要求2所述的探针治具,其特征在于,所述主体包括在上下方向依次设置的第一连接块和第二连接块,所述第一连接块在横向上的尺寸大于所述第二连接块,所述第一连接部设于所述第一连接块的上侧,所述第二连接部设于所述第二连接块的下侧,所述观察通道贯设于所述第一连接块和所述第二连接块,所述上开口形成于所述第一连接块上侧,所述下开口形成于所述第二连接块下侧。

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【专利技术属性】
技术研发人员:胡紫阳李智德程子鹏
申请(专利权)人:昆山业展电子有限公司
类型:新型
国别省市:

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