一种具有半铆结构的分流器电阻制造技术

本实用新型专利技术涉及电阻加工技术领域，涉及一种具有半铆结构的分流器电阻。本实用新型专利技术通过在电极片上设置有与采样引脚相匹配的盲孔，再将采样引脚与盲孔铆接，可有效避免了上下面可能会产生凸起物，外形更加美观，使得后续的安装使用更加方便；同时由于取样引脚是由盲孔铆接完成，使其在后续使用时，进一步避免了前后上下左右各方向脱落的风险，可靠性好。可靠性好。可靠性好。

【技术实现步骤摘要】
一种具有半铆结构的分流器电阻


[0001]本技术涉及电阻加工
，涉及一种具有半铆结构的分流器电阻。

技术介绍

[0002]现有的分流器电阻的引脚，一般是采用通孔铆接或焊接工艺，将引脚安装在分流器半成品的电极上；
[0003]现有通孔铆接或焊接工艺安装的引脚，引脚存在脱落的风险，同时外形不美观，上下面可能会产生凸起物影响后续的安装使用。

技术实现思路

[0004]本技术要解决的技术问题是提供一种避免了上下面可能会产生凸起物，外形更加美观，可靠性好的具有半铆结构的分流器电阻。
[0005]为了解决上述技术问题，本技术解决其技术问题所采用的技术方案是：
[0006]一种具有半铆结构的分流器电阻，包括电阻体以及设置在所述电阻体两侧的电极片，所述电极片与所述电阻体连接，且两电极片对称设置在所述电阻体两侧；
[0007]还包括采样引脚，所述电极片上设置有与所述采样引脚相匹配的盲孔，所述采样引脚一端与所述盲孔铆接在一起，通过采样引脚、电极片分别采集电压信息以及电流信息。
[0008]进一步地，所述电极片上设置有连接孔，所述连接孔边缘设置有防滑纹路。
[0009]进一步地，所述采样引脚一端设置有凸台，所述凸台直径大于所述采样引脚直径，所述凸台卡设在所述盲孔内，使得所述采样引脚不能从所述盲孔上脱离。
[0010]进一步地，所述凸台直径与所述盲孔直径相同，对所述盲孔进行冲压时在所述盲孔内壁上形成压块，所述压块与所述采样引脚抵接，且所述压块将所述凸台压设在所述盲孔内。
[0011]进一步地，所述电极片上设置有冲压孔，所述冲压孔的中线与所述盲孔中线重合，所述冲压孔的深度为所述盲孔深度的1/8
‑
1/5。
[0012]进一步地，所述凸台与所述采样引脚为一体成型结构，且所述凸台的高度为所述采样引脚高度的1/5
‑
1/4。
[0013]进一步地，采样引脚的形状为圆柱体、棱柱体、棱锥体、圆锥体或圆台中的任意一种，所述采样引脚上设置有防滑齿面。
[0014]进一步地，所述采样引脚包括采样端以及铆接端，采样端与所述铆接端连接，所述铆接端与所述压块连接，所述采样端的高度与所述电极片厚度相同。
[0015]进一步地，所述采样极片上设置有与圆形冲压线，沿着冲压线对所述采样极片进行冲切后在所述采样极片上形成冲压孔。
[0016]进一步地，所述盲孔与采样引脚侧面相接触并通过电子束焊接呈一体，且焊接高度小于等于所述冲压孔的深度。
[0017]本技术的有益效果：
[0018]本技术通过在电极片上设置有与采样引脚相匹配的盲孔，再将采样引脚与盲孔铆接，可有效避免了上下面可能会产生凸起物，外形更加美观，使得后续的安装使用更加方便；同时由于取样引脚是由盲孔铆接完成，使其在后续使用时，进一步避免了前后上下左右各方向脱落的风险，可靠性好。
附图说明
[0019]图1是本技术的一种具有半铆结构的分流器电阻示意图。
[0020]图2是本技术的俯视图。
[0021]图中标号说明：1、电阻体；2、电极片；21、连接孔；3、采样引脚；31、采样端；32、铆接端；33、凸台；4、盲孔；41、压块；42、冲压孔；43、冲压线；
具体实施方式
[0022]下面结合附图和具体实施例对本技术作进一步说明，以使本领域的技术人员可以更好地理解本技术并能予以实施，但所举实施例不作为对本技术的限定。
[0023]参照图1
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2所示，一种具有半铆结构的分流器电阻，包括电阻体1以及设置在所述电阻体1两侧的电极片2，所述电极片2与所述电阻体1连接，且两电极片2对称设置在所述电阻体1两侧；
[0024]还包括采样引脚3，所述电极片2上设置有与所述采样引脚3相匹配的盲孔4，所述采样引脚3一端与所述盲孔4铆接在一起，通过采样引脚3、电极片2分别采集电压信息以及电流信息。
[0025]本技术通过在电极片2上设置有与采样引脚3相匹配的盲孔4，再将采样引脚3与盲孔4铆接，可有效避免了上下面可能会产生凸起物，外形更加美观，使得后续的安装使用更加方便；同时由于取样引脚是由盲孔4铆接完成，使其在后续使用时，进一步避免了前后上下左右各方向脱落的风险，可靠性好。
[0026]所述电极片2上设置有连接孔21，所述连接孔21边缘设置有防滑纹路。
[0027]采样时，将电极片2外侧的两个连接孔21与测试电路中的电流线相连接，中间两个采样引脚3与测试电路中的电压取样线路相连，即可达到其取样测试的作用，有效保证采样的准确度。
[0028]所述采样引脚3一端设置有凸台33，所述凸台33直径大于所述采样引脚3直径，所述凸台33卡设在所述盲孔4内，使得所述采样引脚3不能从所述盲孔4上脱离。
[0029]所述凸台33直径与所述盲孔4直径相同，对所述盲孔4进行冲压时在所述盲孔4内壁上形成压块41，所述压块41与所述采样引脚3抵接，且所述压块41将所述凸台33压设在所述盲孔4内，即可将原材料加工出产品的完整结构，节省工序，效率提升极高。
[0030]所述电极片2上设置有冲压孔42，所述冲压孔42的中线与所述盲孔4中线重合，所述冲压孔42的深度为所述盲孔4深度的1/8
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1/5。
[0031]所述凸台33与所述采样引脚3为一体成型结构，且所述凸台33的高度为所述采样引脚3高度的1/5
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1/4。
[0032]采样引脚3的形状为圆柱体、棱柱体、棱锥体、圆锥体或圆台中的任意一种，所述采样引脚3上设置有防滑齿面。
[0033]所述采样引脚3包括采样端31以及铆接端32，采样端31与所述铆接端32连接，所述铆接端32与所述压块41连接，所述采样端31的高度与所述电极片2厚度相同。
[0034]所述采样极片上设置有与圆形冲压线43，沿着冲压线43对所述采样极片进行冲切后在所述采样极片上形成冲压孔42。
[0035]所述圆形冲压线43可在电阻加工阶段可以一次性完成，可在实际使用过程中快速冲切出冲压孔42，保证冲压孔42的位置准确性，保证采样引脚3与所述电极片2的连接稳定性。
[0036]本技术中所述电极片2为低电阻材料制成，所述低电阻材料为紫铜或者黄铜。
[0037]具体的，本技术的电阻结构呈中心对称，两边采样极片为紫铜材质，中间为电阻体1材质，其生产所用的原材料为紫铜与电阻体1焊接而成的拼接电阻带，拼接电阻带经模具等设备冲压，即可获得本技术的分流器电阻。
[0038]所述盲孔4与采样引脚3侧面相接触并通过电子束焊接呈一体，且焊接高度小于等于所述冲压孔42的深度。
[0039]本技术在生产时，先将中间的电阻体1带材与两侧的电极片2用电子束焊接在一起，所述电极片2为紫铜材质，然后用冲压模具等设备加工出所需结构的半成品，同时在需要安本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种具有半铆结构的分流器电阻，其特征在于，包括电阻体以及设置在所述电阻体两侧的电极片，所述电极片与所述电阻体连接，且两电极片对称设置在所述电阻体两侧；还包括采样引脚，所述电极片上设置有与所述采样引脚相匹配的盲孔，所述采样引脚一端与所述盲孔铆接在一起，通过采样引脚、电极片分别采集电压信息以及电流信息。2.如权利要求1所述的具有半铆结构的分流器电阻，其特征在于，所述电极片上设置有连接孔，所述连接孔边缘设置有防滑纹路。3.如权利要求1所述的具有半铆结构的分流器电阻，其特征在于，所述采样引脚一端设置有凸台，所述凸台直径大于所述采样引脚直径，所述凸台卡设在所述盲孔内，使得所述采样引脚不能从所述盲孔上脱离。4.如权利要求3所述的具有半铆结构的分流器电阻，其特征在于，所述凸台直径与所述盲孔直径相同，对所述盲孔进行冲压时在所述盲孔内壁上形成压块，所述压块与所述采样引脚抵接，且所述压块将所述凸台压设在所述盲孔内。5.如权利要求4所述的具有半铆结构的分流器电阻，其特征在于，所述电极片上设置有冲压孔，所述冲压孔的中线与所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：胡紫阳，邓小辉，李智德，
申请(专利权)人：昆山业展电子有限公司，
类型：新型
国别省市：