【技术实现步骤摘要】
本申请涉及pcb板测试，特别涉及一种pcb板测试装置。
技术介绍
1、pcb板作为电子系统研制和生产中的重要组成部分，其质量的好坏直接影响整个设备的质量，因此在pcb板在生产过程中，需要对pcb板的电气性能进行检测。而操作者在对pcb板进行检测的过程中，由于长时间的工作，容易造成对pcb板检测分类的不准确，例如是将未检测的电路板放置在完成检测的合格区域，将检测不合格的pcb板放置在合格的pcb板区域等，降低了pcb板检测的准确性，提高了pcb板的生产成本。
技术实现思路
1、本申请旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一。为此，本申请提出一种pcb板测试装置，能够避免将未检测或不合格的pcb板放置于合格放置区内，提高pcb板测试的准确性，降低成本，且测试范围增大，提高测试效率，提高生产效率。
2、根据本申请实施例所述的pcb板测试装置，包括：机座，设置有合格放置区；测试机构，设置于所述机座，所述测试机构设置有定位柱和定位块，所述定位柱用于限制pcb板的四周，所述定位柱与所述pcb板的侧壁抵接，所述定位块对称设置于所述pcb板的对角线上，所述定位块设置有直角位，所述pcb板对角位的两个角与所述直角位抵接，所述测试机构设置有探针，所述探针可抵接所述pcb板；防错感应器，设置有多个，多个所述防错感应器间隔排列设置于所述底座靠近所述合格放置区的一侧，所述防错感应器与所述测试机构电连接；报警器，分别与所述测试机构、所述防错感应器电连接。
3、根据本申请实施例所述的pc
4、根据本申请实施例所述的pcb板测试装置，所述测试机构包括上测试组件和下测试组件，所述上测试组件升降设置于下测试组件的上方，所述探针包括上探针和下探针，所述上探针设置于所述上测试组件，所述下探针设置于所述下测试组件，所述上探针和所述下探针可与所述pcb板抵接，所述定位柱和定位块设置于所述下测试组件，所述上测试组件设置有定位孔和定位槽，所述定位柱、所述定位块分别嵌入所述定位孔、所述定位槽内。
5、根据本申请实施例所述的pcb板测试装置，所述下测试组件包括底板和盖板，所述底板设置有支撑柱，所述盖板设置于所述支撑柱，所述盖板可相对于所述底板上下滑动，所述下探针设置于所述底板，所述盖板设置有通孔，所述盖板沿所述支撑柱下滑时，所述下探针伸出所述通孔。
6、根据本申请实施例所述的pcb板测试装置，所述底板和所述盖板之间设置有多块中间板，所述中间板间隔设置，所述中间板设置有贯穿孔，所述下探针穿设于所述贯穿孔。
7、根据本申请实施例所述的pcb板测试装置，所述支撑柱包括底柱和顶柱，所述顶柱位于所述底柱的上方，所述顶柱和所述底柱之间通过弹簧连接，所述底板与所述底柱连接，所述盖板与所述顶柱连接。
8、根据本申请实施例所述的pcb板测试装置，所述上测试组件和所述下测试组件的结构相同。
9、根据本申请实施例所述的pcb板测试装置，所述机座包括底座和机架，所述机架设置于所述底座，所述机架升降设置有压板，所述上测试组件设置于所述压板，所述下测试组件设置于所述底座。
10、本申请的附加方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本申请的实践了解到。
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1.PCB板测试装置，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的PCB板测试装置，其特征在于，所述测试机构包括上测试组件和下测试组件，所述上测试组件升降设置于下测试组件的上方，所述探针包括上探针和下探针，所述上探针设置于所述上测试组件，所述下探针设置于所述下测试组件，所述上探针和所述下探针可与所述PCB板抵接，所述定位柱和定位块设置于所述下测试组件，所述上测试组件设置有定位孔和定位槽，所述定位柱、所述定位块分别嵌入所述定位孔、所述定位槽内。
3.根据权利要求2所述的PCB板测试装置，其特征在于，所述下测试组件包括底板和盖板，所述底板设置有支撑柱，所述盖板设置于所述支撑柱，所述盖板可相对于所述底板上下滑动，所述下探针设置于所述底板，所述盖板设置有通孔，所述盖板沿所述支撑柱下滑时，所述下探针伸出所述通孔。
4.根据权利要求3所述的PCB板测试装置，其特征在于，所述底板和所述盖板之间设置有多块中间板，所述中间板间隔设置，所述中间板设置有贯穿孔，所述下探针穿设于所述贯穿孔。
5.根据权利要求3所述的PCB板测试装置，其特征在于，所述支撑柱
6.根据权利要求2所述的PCB板测试装置，其特征在于，所述上测试组件和所述下测试组件的结构相同。
7.根据权利要求6所述的PCB板测试装置，其特征在于，所述机座包括底座和机架，所述机架设置于所述底座，所述机架升降设置有压板，所述上测试组件设置于所述压板，所述下测试组件设置于所述底座。
...【技术特征摘要】
1.pcb板测试装置，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的pcb板测试装置，其特征在于，所述测试机构包括上测试组件和下测试组件，所述上测试组件升降设置于下测试组件的上方，所述探针包括上探针和下探针，所述上探针设置于所述上测试组件，所述下探针设置于所述下测试组件，所述上探针和所述下探针可与所述pcb板抵接，所述定位柱和定位块设置于所述下测试组件，所述上测试组件设置有定位孔和定位槽，所述定位柱、所述定位块分别嵌入所述定位孔、所述定位槽内。
3.根据权利要求2所述的pcb板测试装置，其特征在于，所述下测试组件包括底板和盖板，所述底板设置有支撑柱，所述盖板设置于所述支撑柱，所述盖板可相对于所述底板上下滑动，所述下探针设置于所述底板，所述盖板设置有通孔，所述盖板沿所述支撑柱下滑时，所述...
【专利技术属性】
技术研发人员：李诚，何懂海，吴巨芳，
申请(专利权)人：东莞泰山电子有限公司，
类型：新型
国别省市：
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