【技术实现步骤摘要】
本公开涉及测试和测量仪器，并且更特别地涉及用于减少测试和测量仪器(诸如示波器)中与处理采集数据相关联的死区时间(deadtime)的电路和方法。
技术介绍
1、在其中测试和测量设备(诸如数字示波器)测量来自被测设备(dut)的感兴趣的信号的系统中，信号以其来采样的速率通常比处理器可以使用普通图形处理在显示器上渲染的速率快。
2、在常规仪器中，来自dut的输入样本流通常被细分为活跃和不活跃子集，以支持其中存储和渲染/分析样本数据在时间上交替的架构。活跃/不活跃子集的结果是，当输入流被存储时，测量仪器实际上对渲染/分析时间期间来自dut的样本和潜在触发条件视而不见。根据仪器结构，该“死区”时间可能是显著的，有时超过从dut接收信号的实际时间的99％。
3、最终结果是，示波器可能具有非常高的采样速率，但仍具有从对用户而言感兴趣的dut中捕获异常事件的低可能性。
4、本公开的示例解决了常规设备的这些和其他缺陷。
技术实现思路
【技术保护点】
1.一种测试和测量仪器，包括：
2.根据权利要求1所述的测试和测量仪器，进一步包括光栅存储器，并且其中直方图被存储在光栅存储器中。
3.根据权利要求1所述的测试和测量仪器，其中所述一系列数字样本被存储在采集存储器中，并且所述直方图同时被存储在光栅存储器中。
4.根据权利要求1所述的测试和测量仪器，其中，所述光栅化器被构造成基于触发结果来生成直方图。
5.根据权利要求4所述的测试和测量仪器，进一步包括环形缓冲器，用于临时存储所述一系列数字样本，并且其中存储在直方图中的数字样本的值在环形缓冲器中与触发结果偏移。
6.根据权利要求5所述的测试和测量仪器，其中所述一系列数字样本中的样本的数量少于直方图中的列的数量，并且其中所述一系列数字样本在直方图中的放置取决于触发子样本位置。
7.根据权利要求1所述的测试和测量仪器，其中，所述光栅化器被构造成从多达所有的一系列数字样本生成直方图。
8.根据权利要求1所述的测试和测量仪器，其中所述直方图用于生成光栅显示，并且其中不在直方图中表示将不会影响光栅显示的外观的所
9.根据权利要求1所述的测试和测量仪器，其中所述直方图是二维的。
10.一种测试和测量仪器，包括：
11.根据权利要求10所述的测试和测量仪器，进一步包括第二显示驱动器，所述第二显示驱动器被构造成基于所述一系列数字样本在显示设备上生成第二波形图。
12.根据权利要求10所述的测试和测量仪器，进一步包括光栅存储器，并且其中光栅被存储在光栅存储器中。
13.根据权利要求10所述的测试和测量仪器，其中，所述一系列数字样本被存储在采集存储器中，并且光栅同时被存储在光栅存储器中。
14.根据权利要求10所述的测试和测量仪器，其中所述一系列数字样本的一部分中的样本的数量少于直方图中的列的数量，并且其中所述一系列数字样本在直方图中的放置取决于触发子样本位置。
15.一种测试和测量仪器中的方法，包括：
16.根据权利要求15所述的方法，其中检索所述一系列数字样本中的至少一些是基于与触发的位置的偏移的。
17.根据权利要求16所述的方法，其中生成直方图包括用比直方图中的列的数量少的样本的数量填充直方图，并且其中直方图中的所述一系列数字样本的位置取决于触发子样本位置。
18.根据权利要求15所述的方法，其中，针对多达所有的一系列数字样本生成光栅显示。
19.根据权利要求15所述的方法，进一步包括在测试和测量仪器上显示光栅显示。
20.根据权利要求19所述的方法，进一步包括显示来自所述一系列数字样本的波形显示，所述波形显示与光栅显示分离。
...【技术特征摘要】
1.一种测试和测量仪器，包括：
2.根据权利要求1所述的测试和测量仪器，进一步包括光栅存储器，并且其中直方图被存储在光栅存储器中。
3.根据权利要求1所述的测试和测量仪器，其中所述一系列数字样本被存储在采集存储器中，并且所述直方图同时被存储在光栅存储器中。
4.根据权利要求1所述的测试和测量仪器，其中，所述光栅化器被构造成基于触发结果来生成直方图。
5.根据权利要求4所述的测试和测量仪器，进一步包括环形缓冲器，用于临时存储所述一系列数字样本，并且其中存储在直方图中的数字样本的值在环形缓冲器中与触发结果偏移。
6.根据权利要求5所述的测试和测量仪器，其中所述一系列数字样本中的样本的数量少于直方图中的列的数量，并且其中所述一系列数字样本在直方图中的放置取决于触发子样本位置。
7.根据权利要求1所述的测试和测量仪器，其中，所述光栅化器被构造成从多达所有的一系列数字样本生成直方图。
8.根据权利要求1所述的测试和测量仪器，其中所述直方图用于生成光栅显示，并且其中不在直方图中表示将不会影响光栅显示的外观的所述一系列数字样本的细节。
9.根据权利要求1所述的测试和测量仪器，其中所述直方图是二维的。
10.一种测试和测量仪器，包括：
11.根据权利要求10所述的测试和测量仪器，...
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