【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种字线缺陷的侦测装置，更明确地说，有关一种侦测一字线是否与 其他字线短路而造成缺陷的侦测装置。
技术介绍
在存储器中，使用者可通过一字线(Word Line)与一比特线(Bit Line)，将数据储 存至一对应的存储单元中。然而若当一第一字线与一第二字线短路时，当使用者欲将一数 据储存至对应于该第一字线的一第一存储单元时，同时该数据亦会被储存至对应于该第二 字线的一第二存储单元，如此便会覆盖掉原本该第二存储单元所储存的数据，而造成使用 者在读取该第二存储单元时，会读取到错误的数据，造成使用者的不便。
技术实现思路
本专利技术提供一种字线缺陷的侦测装置。该侦测装置包含一第一字线耦接于至少 一存储单元；一第二字线设置相邻于该第一字线；以及一控制器耦接于该第一字线与该第 二字线，该控制器先启动该第一字线以读取一预先储存于该存储单元中的第一数据，该控 制器再以一预定时间，使该第一字线处于悬浮状态，然后写入一与该第一数据互补的一第 二数据至该存储单元，然后该控制器再次启动该第一字线以从该存储单元读取出一第三数 据，并比较该第三数据与该第二数据以判断该第一字线与...
【技术保护点】
一种字线缺陷的侦测装置，其特征在于，包含：一第一字线耦接于至少一存储单元；一第二字线设置相邻于该第一字线；以及一控制器耦接于该第一字线与该第二字线，该控制器先启动该第一字线以读取一预先储存于该存储单元中的第一数据，该控制器再以一预定时间，使该第一字线处于悬浮状态，然后写入一与该第一数据互补的一第二数据至该存储单元，然后该控制器再次启动该第一字线以从该存储单元读取出一第三数据，并比较该第三数据与该第二数据以判断该第一字线与该第二字线之间是否存在一电性连接路径。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：陈伟仁，陈和颖，杨连圣，吴书仁，
申请(专利权)人：钰创科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：71[中国|台湾]
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