System.ArgumentOutOfRangeException: 索引和长度必须引用该字符串内的位置。 参数名: length 在 System.String.Substring(Int32 startIndex, Int32 length) 在 zhuanliShow.Bind() 功率器件的测试装置制造方法及图纸_技高网

功率器件的测试装置制造方法及图纸

技术编号:40179898 阅读:7 留言:0更新日期:2024-01-26 23:46
本发明专利技术公开了一种功率器件的测试装置,功率器件的测试装置包括:测试板;封装体,封装体设置于测试板上且内部用于设置待测试的功率器件,封装体内部设置有测试引脚,测试引脚的一端适于与待测试的功率器件电连接,另一端与测试板电连接。由此,通过将封装体设置于测试板上用于设置待测试的功率器件,并且封装体的内部设置测试引脚用于将待测试的功率器件和测试板电连接,从而可以将待测试的功率器件与测试板轻松连接,可以提高待测试的功率器件与测试板之间的适配性,以便于通过测试板完成对待测试的功率器件的测试。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及测试,尤其是涉及一种功率器件的测试装置


技术介绍

1、在功率器件的生产中,需要对封装后的功率器件进行电性能的测试,其中静态测试需要通过功率器件分析仪与待测功率器件连接,以对待测功率器件的静态电性能进行测试。

2、现有技术中,通过贴片式封装的功率器件,因其结构的特殊性,无法直接适配功率器件静态分析仪,这导致一般的功率器件静态分析仪无法对贴片式功率器件做静态测试。


技术实现思路

1、本专利技术旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一。为此,本专利技术的一个目的在于提出一种功率器件的测试装置,该功率器件的测试装置可以提高功率器件静态测试的可实施性。

2、根据本专利技术实施例的功率器件的测试装置,包括:测试板;封装体,所述封装体设置于所述测试板上且内部用于设置待测试的功率器件,所述封装体内部设置有测试引脚,所述测试引脚的一端适于与所述待测试的功率器件电连接,另一端与所述测试板电连接。

3、由此,通过将封装体设置于测试板上用于设置待测试的功率器件,并且封装体的内部设置测试引脚用于将待测试的功率器件和测试板电连接,从而可以将待测试的功率器件与测试板轻松连接,可以提高待测试的功率器件与测试板之间的适配性,以便于通过测试板完成对待测试的功率器件的测试。

4、在本专利技术的一些示例中,所述测试引脚包括第一引脚和第二引脚,所述第一引脚竖直延伸设置且下端与所述测试板电连接,所述第二引脚的一端与所述第一引脚的上端可弯折地连接,所述第二引脚的另一端适于被待测试的功率器件向下挤压且与待测试的功率器件电连接。

5、在本专利技术的一些示例中,所述封装体内部设置有第一容纳槽和第二容纳槽,所述第二容纳槽设置于所述第一容纳槽的一侧且与所述第一容纳槽相连通,所述第一容纳槽用于设置待测试的功率器件,所述第一引脚设置于所述第二容纳槽中,所述第二引脚至少部分地伸入所述第一容纳槽中。

6、在本专利技术的一些示例中,所述第二容纳槽的上下两侧均敞开设置,所述第一引脚的下端穿过所述第二容纳槽的下侧且与所述测试板电连接,所述第二引脚从所述第二容纳槽的上侧伸出至所述第一容纳槽中。

7、在本专利技术的一些示例中,所述测试引脚为多个,所述第二容纳槽为多个,多个所述测试引脚和多个所述第二容纳槽一一对应。

8、在本专利技术的一些示例中,所述封装体包括主体部和盖板部,所述主体部内设置有所述第一容纳槽和所述第二容纳槽,所述盖板部盖设于所述主体部的上侧且适于与所述主体部内部待测试的功率器件挤压配合。

9、在本专利技术的一些示例中,所述盖板部上设置有压块,所述压块向下凸出设置且用于压设所述主体部内部待测试的功率器件。

10、在本专利技术的一些示例中,所述主体部上设置有第一卡接部,所述盖板部上设置有第二卡接部,所述第一卡接部和所述第二卡接部中的一个为卡扣,另一个为卡槽,所述卡扣和所述卡槽可拆卸地卡接配合。

11、在本专利技术的一些示例中,所述主体部的一侧设置有夹头件,所述夹头件的下端延伸至所述第一容纳槽的下端且适于与待测试的功率器件相抵接,所述夹头件可朝向远离所述第一容纳槽的外侧转动,以使所述夹头件的下端选择性地向上撬动待测试的功率器件。

12、在本专利技术的一些示例中,所述夹头件包括手柄部、转动部和抵接部,所述转动部可转动地设置于所述主体部的一侧,所述抵接部设置于所述转动部的下端且适于与所述待测试的功率器件的下侧抵接配合,所述手柄部设置于所述转动部的上侧。

13、本专利技术的附加方面和优点将在下面的描述中部分给出,部分将从下面的描述中变得明显,或通过本专利技术的实践了解到。

本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种功率器件的测试装置,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的功率器件的测试装置,其特征在于,所述测试引脚包括第一引脚和第二引脚,所述第一引脚竖直延伸设置且下端与所述测试板电连接,所述第二引脚的一端与所述第一引脚的上端可弯折地连接,所述第二引脚的另一端适于被待测试的功率器件向下挤压且与待测试的功率器件电连接。

3.根据权利要求2所述的功率器件的测试装置,其特征在于,所述封装体内部设置有第一容纳槽和第二容纳槽,所述第二容纳槽设置于所述第一容纳槽的一侧且与所述第一容纳槽相连通,所述第一容纳槽用于设置待测试的功率器件,所述第一引脚设置于所述第二容纳槽中,所述第二引脚至少部分地伸入所述第一容纳槽中。

4.根据权利要求3所述的功率器件的测试装置,其特征在于,所述第二容纳槽的上下两侧均敞开设置,所述第一引脚的下端穿过所述第二容纳槽的下侧且与所述测试板电连接,所述第二引脚从所述第二容纳槽的上侧伸出至所述第一容纳槽中。

5.根据权利要求3所述的功率器件的测试装置,其特征在于,所述测试引脚为多个,所述第二容纳槽为多个,多个所述测试引脚和多个所述第二容纳槽一一对应。

6.根据权利要求3所述的功率器件的测试装置,其特征在于,所述封装体包括主体部和盖板部,所述主体部内设置有所述第一容纳槽和所述第二容纳槽,所述盖板部盖设于所述主体部的上侧且适于与所述主体部内部待测试的功率器件挤压配合。

7.根据权利要求6所述的功率器件的测试装置,其特征在于,所述盖板部上设置有压块,所述压块向下凸出设置且用于压设所述主体部内部待测试的功率器件。

8.根据权利要求6所述的功率器件的测试装置,其特征在于,所述主体部上设置有第一卡接部,所述盖板部上设置有第二卡接部,所述第一卡接部和所述第二卡接部中的一个为卡扣,另一个为卡槽,所述卡扣和所述卡槽可拆卸地卡接配合。

9.根据权利要求6所述的功率器件的测试装置,其特征在于,所述主体部的一侧设置有夹头件,所述夹头件的下端延伸至所述第一容纳槽的下端且适于与待测试的功率器件相抵接,所述夹头件可朝向远离所述第一容纳槽的外侧转动,以使所述夹头件的下端选择性地向上撬动待测试的功率器件。

10.根据权利要求9所述的功率器件的测试装置,其特征在于,所述夹头件包括手柄部、转动部和抵接部,所述转动部可转动地设置于所述主体部的一侧,所述抵接部设置于所述转动部的下端且适于与所述待测试的功率器件的下侧抵接配合,所述手柄部设置于所述转动部的上侧。

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【技术特征摘要】

1.一种功率器件的测试装置,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的功率器件的测试装置,其特征在于,所述测试引脚包括第一引脚和第二引脚,所述第一引脚竖直延伸设置且下端与所述测试板电连接,所述第二引脚的一端与所述第一引脚的上端可弯折地连接,所述第二引脚的另一端适于被待测试的功率器件向下挤压且与待测试的功率器件电连接。

3.根据权利要求2所述的功率器件的测试装置,其特征在于,所述封装体内部设置有第一容纳槽和第二容纳槽,所述第二容纳槽设置于所述第一容纳槽的一侧且与所述第一容纳槽相连通,所述第一容纳槽用于设置待测试的功率器件,所述第一引脚设置于所述第二容纳槽中,所述第二引脚至少部分地伸入所述第一容纳槽中。

4.根据权利要求3所述的功率器件的测试装置,其特征在于,所述第二容纳槽的上下两侧均敞开设置,所述第一引脚的下端穿过所述第二容纳槽的下侧且与所述测试板电连接,所述第二引脚从所述第二容纳槽的上侧伸出至所述第一容纳槽中。

5.根据权利要求3所述的功率器件的测试装置,其特征在于,所述测试引脚为多个,所述第二容纳槽为多个,多个所述测试引脚和多个所述第二容纳槽一一对应。

6.根据权利要求3所述的功率器件的测试装置,其特征在...

【专利技术属性】
技术研发人员:张嫚嫚陈健纯纪泽轩
申请(专利权)人:海信家电集团股份有限公司
类型:发明
国别省市:

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