X光试验机样品放置平台及X光检测系统技术方案

技术编号:40159045 阅读:7 留言:0更新日期:2024-01-26 23:33
本技术涉及X光检测技术领域,具体而言,涉及一种X光试验机样品放置平台及X光检测系统,包括平台本体及设置于所述平台本体上的样品支架;所述样品支架包括底盘和侧支撑件,所述侧支撑件的底部与所述底盘转动连接,所述底盘与所述侧支撑件之间的其中一侧夹角区域用于放置待测样品;当所述待测样品正放时,所述底盘支撑整个所述待测样品;当所述待测样品倾斜放置时,所述底盘和所述侧支撑件共同支撑所述待测样品;当所述待测样品倾斜放置时,所述底盘和所述侧支撑件共同支撑所述待测样品,通过转动侧支撑件实现对待测样品的多角度调节,以满足多角度检测要求。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及x光检测,具体而言,涉及一种x光试验机样品放置平台及x光检测系统。


技术介绍

1、x光试验机利用x射线成像来判断轮胎、车轮等汽车零部件内部结构是否存在质量缺陷。

2、现有技术中,样品放置平台无任何支架,放置轮胎等样品进行检测时,样品只能放置于平台顶部的平面上,如此样品只能正放于平台上且仅有两个放置方向,即垂直方向和水平方向。

3、但因为实际检测过程中,需要对样品进行多角度无损探伤,检测人员临时找了木架或其它材质的支架进行斜支撑,但是木架只能支撑一个固定的倾斜角度且不能调节角度,因此都不能满足相关试验的多角度探测要求。


技术实现思路

1、本技术的目的在于提供一种x光试验机样品放置平台,其能够支撑待测样品并能够对其多角度调节,而满足多角度探测要求。

2、本技术的另一目的在于提供一种x光检测系统,其能够支撑待测样品并能够对其多角度调节,而满足多角度探测要求。

3、本技术的技术方案是这样实现的:

4、一种x光试验机样品放置平台,包括平台本体及设置于所述平台本体上的样品支架;

5、所述样品支架包括底盘和侧支撑件,所述侧支撑件的底部与所述底盘转动连接,所述底盘与所述侧支撑件之间的其中一侧夹角区域用于放置待测样品;

6、当所述待测样品正放时,所述底盘支撑整个所述待测样品;

7、当所述待测样品倾斜放置时,所述底盘和所述侧支撑件共同支撑所述待测样品。

8、进一步地,还包括角度调节机构,用于调节所述侧支撑件的转动角度。

9、进一步地,所述角度调节机构包括连接杆、第一滑台模组、第二滑台模组、第一锁紧机构和第二锁紧机构;

10、所述连接杆的一端通过所述第一滑台模组与所述底盘滑动连接,所述连接杆的另一端通过所述第二滑台模组与所述侧支撑件滑动连接,通过同时调节所述连接杆两端的滑动位置以调节所述侧支撑件的转动角度;

11、所述第一滑台模组上设置用于将其锁定的所述第一锁紧机构;

12、所述第二滑台模组上设置用于将其锁定的所述第二锁紧机构。

13、进一步地,所述第一滑台模组包括相匹配的第一滑轨和第一滑块,所述第一滑轨设置于所述侧支撑件,所述连接杆的一端与所述第一滑块铰接;

14、所述第二滑台模组包括相匹配的第二滑轨和第二滑块,所述第二滑轨设置于所述侧支撑件,所述连接杆的二端与所述第二滑块铰接;

15、所述第一锁紧机构为第一锁紧螺栓,所述第一锁紧螺栓设置于所述第一滑块上,拧紧所述第一锁紧螺栓能够抵紧于所述第一滑轨或所述侧支撑件而实现所述第一滑块的锁紧;

16、所述第二锁紧机构为第二锁紧螺栓,所述第二锁紧螺栓设置于所述第二滑块上,拧紧所述第二锁紧螺栓能够抵紧于所述第二滑轨或所述底盘而实现所述第二滑块的锁紧。

17、进一步地,所述角度调节机构能够调节所述侧支撑件的角度范围为0-90°。

18、进一步地,所述角度调节机构为至少一个伸缩件,所述伸缩件的一端与所述底盘固定连接、另一端与所述侧支撑件铰接;或者,所述伸缩件的一端与所述底盘铰接、另一端与所述侧支撑件固定连接。

19、进一步地,所述伸缩件为伸缩气缸、电动伸缩杆或液压杆。

20、进一步地,所述角度调节机构包括至少两个同步设置的所述伸缩件,所有所述伸缩件同步运行以带动所述侧支撑件转动。

21、一种x光检测系统,包括所述的x光试验机样品放置平台。

22、进一步地,还包括x光试验机和待测样品,所述待测样品放置于所述样品支架上,且所述x光试验机与所述待测样品对应设置,所述x光试验机通过x射线成像以检测所述待测样品内部结构是否存在缺陷。

23、相比于现有技术而言,本技术的有益效果是:

24、本申请在原有的平台本体上设置样品支架,样品支架括底盘和侧支撑件,所述侧支撑件的底部与所述底盘转动连接,所述底盘与所述侧支撑件之间的其中一侧夹角区域用于放置待测样品;当所述待测样品正放时,所述底盘支撑整个所述待测样品;当所述待测样品倾斜放置时,所述底盘和所述侧支撑件共同支撑所述待测样品,通过转动侧支撑件实现对待测样品的多角度调节,以满足多角度检测要求。

本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种X光试验机样品放置平台,其特征在于,包括平台本体(1)及设置于所述平台本体(1)上的样品支架(2);

2.根据权利要求1所述的X光试验机样品放置平台,其特征在于,还包括角度调节机构(23),用于调节所述侧支撑件(22)的转动角度。

3.根据权利要求2所述的X光试验机样品放置平台,其特征在于,所述角度调节机构(23)包括连接杆(231)、第一滑台模组(232)、第二滑台模组(233)、第一锁紧机构(234)和第二锁紧机构(235);

4.根据权利要求3所述的X光试验机样品放置平台,其特征在于,所述第一滑台模组(232)包括相匹配的第一滑轨和第一滑块,所述第一滑轨设置于所述侧支撑件(22),所述连接杆(231)的一端与所述第一滑块铰接;

5.根据权利要求3所述的X光试验机样品放置平台,其特征在于,所述角度调节机构(23)能够调节所述侧支撑件(22)的角度范围为0-90°。

6.根据权利要求2所述的X光试验机样品放置平台,其特征在于,所述角度调节机构(23)为至少一个伸缩件,所述伸缩件的一端与所述底盘(21)固定连接、另一端与所述侧支撑件(22)铰接;或者,所述伸缩件的一端与所述底盘(21)铰接、另一端与所述侧支撑件(22)固定连接。

7.根据权利要求6所述的X光试验机样品放置平台,其特征在于,所述伸缩件为伸缩气缸、电动伸缩杆或液压杆。

8.根据权利要求6所述的X光试验机样品放置平台,其特征在于,所述角度调节机构(23)包括至少两个同步设置的所述伸缩件,所有所述伸缩件同步运行以带动所述侧支撑件(22)转动。

9.一种X光检测系统,其特征在于,包括权利要求1-8中任一项所述的X光试验机样品放置平台。

10.根据权利要求9所述的X光检测系统,其特征在于,还包括X光试验机和待测样品,所述待测样品放置于所述样品支架(2)上,且所述X光试验机与所述待测样品对应设置,所述X光试验机通过X射线成像以检测所述待测样品内部结构是否存在缺陷。

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【技术特征摘要】

1.一种x光试验机样品放置平台,其特征在于,包括平台本体(1)及设置于所述平台本体(1)上的样品支架(2);

2.根据权利要求1所述的x光试验机样品放置平台,其特征在于,还包括角度调节机构(23),用于调节所述侧支撑件(22)的转动角度。

3.根据权利要求2所述的x光试验机样品放置平台,其特征在于,所述角度调节机构(23)包括连接杆(231)、第一滑台模组(232)、第二滑台模组(233)、第一锁紧机构(234)和第二锁紧机构(235);

4.根据权利要求3所述的x光试验机样品放置平台,其特征在于,所述第一滑台模组(232)包括相匹配的第一滑轨和第一滑块,所述第一滑轨设置于所述侧支撑件(22),所述连接杆(231)的一端与所述第一滑块铰接;

5.根据权利要求3所述的x光试验机样品放置平台,其特征在于,所述角度调节机构(23)能够调节所述侧支撑件(22)的角度范围为0-90°。

6.根据权利要求2所述的x光试验...

【专利技术属性】
技术研发人员:金汉杰王琰肖凌云尹彦刘迎春周晓琴蒋皓静董红磊胡文浩席明
申请(专利权)人:中国标准化研究院
类型:新型
国别省市:

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