System.ArgumentOutOfRangeException: 索引和长度必须引用该字符串内的位置。 参数名: length 在 System.String.Substring(Int32 startIndex, Int32 length) 在 zhuanliShow.Bind() 一种提升复杂芯片系统验证效率的验证方法技术方案_技高网

一种提升复杂芯片系统验证效率的验证方法技术方案

技术编号:40156109 阅读:9 留言:0更新日期:2024-01-26 23:31
本发明专利技术公开了一种提升复杂芯片系统验证效率的验证方法,包括将归纳总结的常见问题存储进状态寄存器;所述断言模块由状态寄存器模块触发,断言模块控制所述转存寄存器模块,使其转存系统运行出错时的数据;转存进行时,断言模块锁定所有寄存器中动态变化的数据,直至转存结束;将所有转存的数据输出,按照时间——问题——模块——寄存器的层级进行分类整理;归纳新的问题及验证方法。本发明专利技术提升了验证人员发现并解决问题的效率,进一步提高了验证工作的完备性,提高了芯片成功概率,节省了成本和时间,提升了验证效率。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术公开了一种提升复杂芯片系统验证效率的验证方法,涉及复杂芯片系统的前端设计和验证。


技术介绍

1、随着人工智能领域的高速发展,市场对芯片算力的需求日益高涨。芯片规模不断增长,功能越来越复杂,这给芯片设计制造行业带来了大量挑战。验证作为保证芯片设计质量的重要环节,提升验证效率可以显著降低成本,减少失败风险。

2、在芯片验证过程中,需要对运行发生错误时各模块内的数据进行分析。但是如内存、总线设备等模块内寄存器上的数据是动态变化的,这意味着这些数据在被使用完后或者发生异常后就会被改写覆盖,后续无法再获得。转存寄存器的作用就是将这些重要的动态数据转化为静态数据并记录下来。如此验证人员便可依据发生问题时的数据高效分析问题来源,给出具体解决方案,避免了无方向的猜测和尝试所带来的时间和精力的浪费,降低了研发流程的风险。


技术实现思路

1、本专利技术所要解决的技术问题是:针对现有技术的缺陷,提供一种提升复杂芯片系统验证效率的验证方法,以解决在验证过程中无法获得系统发生错误时芯片模块的动态数据的问题,方便验证人员快速高效分析问题,给出解决方案。

2、本专利技术为解决上述技术问题采用以下技术方案:

3、一种提升复杂芯片系统验证效率的验证方法,所述验证方法依托的系统架构包括设置于芯片系统中的状态寄存器模块、数据寄存器模块、转存寄存器模块和断言模块;

4、验证方法通过所述转存寄存器记录系统发生问题时相关模块的数据,包括如下步骤:

5、步骤一、将归纳总结的常见问题存储进状态寄存器模块;

6、步骤二、所述断言模块由状态寄存器模块触发,断言模块控制所述转存寄存器模块,使其转存系统运行出错时的数据;

7、步骤三、转存进行时,断言模块锁定所有寄存器中动态变化的数据,直至转存结束;

8、步骤四、将所有转存的数据输出,按照时间——问题——模块——寄存器的层级进行分类整理;

9、步骤五、归纳新的问题及验证方法。

10、作为进一步优选方案,步骤一中,所述状态寄存器模块为自研模块或第三方设计的模块;当状态寄存器模块为自研模块时,从设计时直接定制相关的状态寄存器;当状态寄存器模块为第三方设计的模块时,如果有与运行错误直接关联的状态寄存器,则直接使用该状态寄存器;如果没有与运行错误直接关联的状态寄存器,则通过组合多个间接相关的状态寄存器的方式来达成要求。

11、作为进一步优选方案,步骤二中,当状态寄存器模块中的特定位因为运行出错而变化时,触发断言模块,将出错时刻的数据转存至对应的转存寄存器模块。

12、作为进一步优选方案,步骤三中,所述断言模块锁定所有寄存器中动态变化的数据具体为,转存寄存器模块转存数据时锁定所有相关的动态变化的数据,直到所需数据完整转存完毕后再继续运行;所述所有相关的动态变化的数据包括延后复位或者停止移位。

13、作为进一步优选方案,步骤五具体包括:实际工作中发现未存储进状态寄存器模块的问题时,结合排查问题的困难度和复现的可能性进行评估,将评估结果大于设定阈值的问题更新至状态寄存器模块。

14、本专利技术采用以上技术方案与现有技术相比,具有以下技术效果:本专利技术将系统发生问题时各模块的动态数据及时转存至转存寄存器,提升了验证人员发现并解决问题的效率。作为常规验证方案的补充,进一步提高了验证工作的完备性,提高了芯片成功概率,节省了成本和时间,提升了验证效率。

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【技术保护点】

1.一种提升复杂芯片系统验证效率的验证方法,其特征在于,所述验证方法依托的系统架构包括设置于芯片系统中的状态寄存器模块、数据寄存器模块、转存寄存器模块和断言模块;验证方法通过所述转存寄存器记录系统发生问题时相关模块的数据,包括如下步骤:

2.如权利要求1所述的一种提升复杂芯片系统验证效率的验证方法,其特征在于:步骤一中,所述状态寄存器模块为自研模块或第三方设计的模块;

3.如权利要求1所述的一种提升复杂芯片系统验证效率的验证方法,其特征在于:步骤二中,当状态寄存器模块中的特定位因为运行出错而变化时,触发断言模块,将出错时刻的数据转存至对应的转存寄存器模块。

4.如权利要求1所述的一种提升复杂芯片系统验证效率的验证方法,其特征在于:步骤三中,所述断言模块锁定所有寄存器中动态变化的数据具体为,转存寄存器模块转存数据时锁定所有相关的动态变化的数据,直到所需数据完整转存完毕后再继续运行;

5.如权利要求1所述的一种提升复杂芯片系统验证效率的验证方法,其特征在于,步骤五具体包括:实际工作中发现未存储进状态寄存器模块的问题时,结合排查问题的困难度和复现的可能性进行评估,将评估结果大于设定阈值的问题更新至状态寄存器模块。

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【技术特征摘要】

1.一种提升复杂芯片系统验证效率的验证方法,其特征在于,所述验证方法依托的系统架构包括设置于芯片系统中的状态寄存器模块、数据寄存器模块、转存寄存器模块和断言模块;验证方法通过所述转存寄存器记录系统发生问题时相关模块的数据,包括如下步骤:

2.如权利要求1所述的一种提升复杂芯片系统验证效率的验证方法,其特征在于:步骤一中,所述状态寄存器模块为自研模块或第三方设计的模块;

3.如权利要求1所述的一种提升复杂芯片系统验证效率的验证方法,其特征在于:步骤二中,当状态寄存器模块中的特定位因为运行出错而变化时,触发断言...

【专利技术属性】
技术研发人员:许涛黄海林张小伟李力游小约翰·罗伯特·罗兰
申请(专利权)人:南京蓝洋智能科技有限公司
类型:发明
国别省市:

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