一种基于激光的墙面平整度质量检测方法技术

技术编号:40148364 阅读:30 留言:0更新日期:2024-01-24 00:49
本发明专利技术公开了一种基于激光的墙面平整度质量检测方法,包括如下步骤:准备激光雷达设备,然后在墙面上找寻两个在同一水平线上的两个点,将激光照射灯贴合在墙面,起点在其中一个点上,然后向另外一个点照射,在另一个点上通过光线收集器对其光照情况进行检测;将激光雷达设备对准房间的墙面进行打点检测,获取墙面检测点的空间坐标数据,计算得到所述检测点的墙面平整偏差值,判断是否超过预设范围值;进行激光点云空间数据坐标换算和数据处理;读取待测房屋各个轮廓信息,计算房屋各个尺寸,以及结合边界提取结果,进行边界轮廓的平面检测,划分出不平整区域。本发明专利技术可以解决现有的墙体表面平整度进行检测的各种问题。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及建筑施工领域,具体为一种基于激光的墙面平整度质量检测方法


技术介绍

1、墙体在施工完成后需要对其表面平整度进行检测,传统的是通过垂线的方式对其表面进行人工观察,其精确度较低,现有技术中也有通过检测板对其进行检测,其结构虽然比较简单,但是,其在使用时非常耗费人力,需要不断地对检测板进行托举,其检测原理也难以满足用户的需求,尤其是一些高端住宅的需求,一旦出现偏差,则会影响使用者的居住体验。


技术实现思路

1、本专利技术提供了一种基于激光的墙面平整度质量检测方法,可以解决现有的墙体表面平整度进行检测的各种问题。

2、为实现上述目的,本专利技术提供如下技术方案:一种基于激光的墙面平整度质量检测方法,包括如下步骤:

3、s1、准备激光雷达设备,激光雷达设备包括激光照射灯和光线收集器,然后在墙面上找寻两个在同一水平线上的两个点,将激光照射灯贴合在墙面,起点在其中一个点上,然后向另外一个点照射,在另一个点上通过光线收集器对其光照情况进行检测;

4、s2、将激光雷达设备对准本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种基于激光的墙面平整度质量检测方法,其特征在于,包括如下步骤:

2.根据权利要求1所述的基于激光的墙面平整度质量检测方法,其特征在于:S1中测量高出墙体基准面的凸起高度时,将激光照射灯沿标尺向远离零刻度点的方向缓慢移动,直到激光测量线投射到凸起处的测量点时停止移动,读取该位置的标尺刻度,并进行记录。

3.根据权利要求1所述的基于激光的墙面平整度质量检测方法,其特征在于:S1中测量低于墙体基准面的凹进深度时,将激光照射灯置于标尺零刻度点的位置,用划规测量激光测量线与凹进处的测量点的直线距离,然后读取划规的测量数据,并进行记录。

4.根据权利要求1所...

【技术特征摘要】

1.一种基于激光的墙面平整度质量检测方法,其特征在于,包括如下步骤:

2.根据权利要求1所述的基于激光的墙面平整度质量检测方法,其特征在于:s1中测量高出墙体基准面的凸起高度时,将激光照射灯沿标尺向远离零刻度点的方向缓慢移动,直到激光测量线投射到凸起处的测量点时停止移动,读取该位置的标尺刻度,并进行记录。

3.根据权利要求1所述的基于激光的墙面平整度质量检测方法,其特征在于:s1中测量低于墙体基准面的凹进深度时,将激光照射灯置于标尺零刻度点的位置,用划规测量激光测量线与凹进处的测量点的直线距离,然后读取划规的测量数据,并进行记录。

4.根据权利要求1所述的基于激光的墙面平整度质量检测方法,其特征在于:s2中对墙面平整偏差值是否超过预设范围值的判断的结果若为不合格则进行不合格标记;若判断的结果为合格,则按照预设的扫描方式对房间墙面的下一检测点进行打点检测,直至完成房间所有墙面的平整度检测。

5.根据权利要求1所述的基于激光的墙面平整度质量检测方法,其特征在于:s2中获取墙面检测点的空间坐标数据为激光雷达设备采用从左...

【专利技术属性】
技术研发人员:王源兴吴志云农海
申请(专利权)人:上海二十冶建设有限公司
类型:发明
国别省市:

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