一种利用自由放置单圆柱目标的结构光标定方法技术

本发明专利技术提供了一种利用自由放置的单个圆柱靶标的线结构光系统标定方法，包括S1：基于Scheimpflug相机厚透镜成像模型的系统结构，建立了新的线结构光测量系统；S2：基于射影几何原理，建立了圆柱靶标，光平面与相机成像之间的成像模型；S3：结合线结构光测量系统的结构与圆柱靶标成像模型，根据几何关系建立圆柱靶标与相机之间的相对位置；S4：根据圆柱靶标与对应图像之间的相对关系，结合图像边缘提取，计算圆柱靶标与图像的转换关系；S5：根据图像光条点，计算各个实际光条与相机的相对位置，应用最小二乘法，求解最优的线结构光系统参数。该发明专利技术相比于现有技术中常用的平面靶标自由摆放，更适用于针对曲面的线结构光测量系统标定，提高对曲面的测量精度。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及结构光测量，具体涉及一种基于scheimpflug相机成像的线结构光三维测量系统的相机与激光器位置关系的计算方法。

技术介绍

1、结构光测量系统主要包括相机，激光器以及配套的扫描运动装置，工作原理是激光器发出特定形状的激光，如一个光平面，与被测物体的表面相交，随着被测物体表面形状的不同，激光的形式也会发生对应的变化，通过相机拍摄到这些激光的图像，根据相机参数，相机与激光器相对位置，对图像进行三维求解，从而实现三维测量。

2、在结构光测量系统中，相机与激光器之间相对位置关系的确定是对物体三维位置的定解条件，线结构光系统的标定是保证测量精度的关键环节。在测量过程中，两者的位置关系的准确性直接影响了对物体三维测量的尺寸与形状的精度。

3、在实际应用中，大量的测量对象是曲面零件，但当前普遍的应用二维平面靶标进行标定，存在受到相机外部参数标定精度的制约，明暗条纹差异过大导致数据不稳定，不适于曲面零件测量的缺陷。

4、现有的技术通常直接利用相机标定环节的外部参数构建单应性矩阵，如段发阶提出的基于联合外参估计的标定方法，本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种利用自由放置单圆柱目标的结构光标定方法，其特征在于：

2.根据权利1所述，本专利技术的测量方法包括以下步骤：

【技术特征摘要】

1.一种利用自由放置单圆柱目标的结构光标定方法，其特征在于：<...

【专利技术属性】
技术研发人员：崔继文，郭冬宇，谭久彬，
申请(专利权)人：哈尔滨工业大学，
类型：发明
国别省市：