【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于电磁场微波测试领域，具体涉及一种基于半实物射频仿真幅相电控的天线测试方法及相关系统。
技术介绍
1、现有的平面近场天线测试方法，多为单探头，或2～4探头测试，即为单站或者多站测试，这种测试方法的测试时间长、效率低，难以满足对于天线测试的更现实需求。现有的球面近场天线测试方法，有单探头测试，或球面多探头测试，即为单站机械臂测试或单站拱形架测试，多站拱形架测试。在球面近场天线测试中，即使是球面多探头测试，探头排布也只是在一条圆环上，即是一条线上，测试时还是需要把圆环进行运动扫描才能完成全部测试。在球面近场天线测试中，多为在θ和φ二维运动，以完成全部的运动扫描测试。在球面近场天线测试，扫描测试时，相当于是以两条线(圆或圆弧)为基准，进行二维扫描测试。因此，球面近场多探头拱形架设计，受限于结构技术的限制，很难满足大尺寸被测物的测试要求。
技术实现思路
1、本专利技术的目的在于克服上述不足，提供一种基于半实物射频仿真幅相电控的天线测试方法及相关系统，一次可测试整个球面屏面阵天线的范围，相较于传统的球面多探头的线阵测试，大大提高了球面近场的测试效率。
2、为了达到上述目的，本专利技术采用如下技术方案：
3、第一方面，本专利技术提供基于半实物射频仿真幅相电控的天线测试系统，包括转台和球屏阵列；
4、球屏阵列包括维护平台，维护平台的侧面设置有阵列支架，阵列支架上固定有若干球面屏，所有球面屏组成阵列球面屏，每个球面屏上均设置有天线；
5、
6、本专利技术进一步的改进在于，球屏阵列的视场角范围为水平旋转±50°，俯仰旋转±40°。
7、本专利技术进一步的改进在于，球面屏上设置的天线为双极化天线。
8、本专利技术进一步的改进在于，球面屏上设置的天线为2-18ghz和18-40ghz。
9、本专利技术进一步的改进在于，每个球面屏上的天线设置有两种，两种天线间的间距满足幅相电控的间距要求。
10、本专利技术进一步的改进在于，转台包括底座，底座上设置有旋转台，旋转台上设置有极化杆，极化杆上设置有极化装置，极化装置连接天线，被测物放置在旋转台上。
11、第二方面，本专利技术提供基于半实物射频仿真幅相电控的天线测试系统的工作方法，包括以下步骤：
12、将被测物放置在转台上，使转台朝向球屏阵列；
13、对球屏阵列的天线进行通道选择和幅度相位控制；
14、开启天线照射被测物完成一次测试；
15、调整球屏阵列中球面屏的角度，再次完成测试；
16、从若干次测试中选择最优结果。
17、本专利技术进一步的改进在于，对球屏阵列的天线进行通道选择和幅度相位控制时，先进行粗位控制，再进行精位控制。
18、本专利技术进一步的改进在于，粗位控制的方法如下：
19、将球面屏上的各个天线支路对应的喇叭天线分别编码，将与喇叭天线连接的粗控单元对应编码，将阵列编码以表格形式存在控制计算机里；
20、控制计算机通过读出表格中相应的天线控制码，送到开关矩阵中，开关矩阵选通对应的天线路，完成粗位控制。
21、本专利技术进一步的改进在于，精位控制的方法如下：
22、将输入的射频信号功分，功分后的每路信号先后经过数控衰减、数控移相和放大后输出信号；
23、通过放大后的信号送到任意天线对应的辐射天线输入接口；
24、通过数控衰减器、数控移相器对幅度和相位进行控制，实现精位控制。
25、与现有技术相比，本专利技术具有如下有益效果：
26、本专利技术设置有球屏阵列，球屏阵列中的所有球面屏组成阵列球面屏，并且每个球面屏上均设置有天线，使用球面屏的天线阵列(作为一个面阵)，代替球面单探头或多探头的线阵。本专利技术一次可测试整个球面屏面阵天线的范围，相较于传统的球面多探头的线阵测试，大大提高了球面近场的测试效率。本专利技术能够根据被测物的尺寸及频率要求，来设计阵列球面屏的曲率半径，从而实现大尺寸被测物的测试环境搭建。本专利技术使半实物射频仿真和天线测试有机结合到一起，使用半实物射频仿真幅相电控技术，完成平面/球面近场的测试，便捷、高效。
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1.基于半实物射频仿真幅相电控的天线测试系统，其特征在于，包括转台(1)和球屏阵列(2)；
2.根据权利要求1所述的基于半实物射频仿真幅相电控的天线测试系统，其特征在于，球屏阵列(2)的视场角范围为水平旋转±50°，俯仰旋转±40°。
3.根据权利要求1所述的基于半实物射频仿真幅相电控的天线测试系统，其特征在于，球面屏(5)上设置的天线为双极化天线。
4.根据权利要求1或3所述的基于半实物射频仿真幅相电控的天线测试系统，其特征在于，球面屏(5)上设置的天线为2-18GHz和18-40GHz。
5.根据权利要求1或3所述的基于半实物射频仿真幅相电控的天线测试系统，其特征在于，每个球面屏(5)上的天线设置有两种，两种天线间的间距满足幅相电控的间距要求。
6.根据权利要求1所述的基于半实物射频仿真幅相电控的天线测试系统，其特征在于，转台(1)包括底座(6)，底座(6)上设置有旋转台(7)，旋转台(7)上设置有极化杆(8)，极化杆(8)上设置有极化装置(9)，极化装置(9)连接天线(10)，被测物放置在旋转台(7)上。
<...【技术特征摘要】
1.基于半实物射频仿真幅相电控的天线测试系统，其特征在于，包括转台(1)和球屏阵列(2)；
2.根据权利要求1所述的基于半实物射频仿真幅相电控的天线测试系统，其特征在于，球屏阵列(2)的视场角范围为水平旋转±50°，俯仰旋转±40°。
3.根据权利要求1所述的基于半实物射频仿真幅相电控的天线测试系统，其特征在于，球面屏(5)上设置的天线为双极化天线。
4.根据权利要求1或3所述的基于半实物射频仿真幅相电控的天线测试系统，其特征在于，球面屏(5)上设置的天线为2-18ghz和18-40ghz。
5.根据权利要求1或3所述的基于半实物射频仿真幅相电控的天线测试系统，其特征在于，每个球面屏(5)上的天线设置有两种，两种天线间的间距满足幅相电控的间距要求。
6.根据权利要求1所述的基于半实物射频仿真幅相...
【专利技术属性】
技术研发人员：张羽，李世全，
申请(专利权)人：西安瀚博电子科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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