【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于雷达目标特性测试领域，具体涉及一种基于幅相电控技术的高效近场rcs测试方法及系统。
技术介绍
1、随着雷达技术的迅速发展，人们不仅希望得到雷达目标的位置信息，还期望获得目标的形状、体积和表面电磁参数等特征信息。经过若干年的发展，雷达隐身技术获得了突破性的进展，各种隐身武器相继出现，隐身与反隐身技术在现代化信息战争中起着重要作用。因此，对目标电磁散射特性的研究受到广泛关注。
2、对于隐身目标的测量，由于目标尺寸较大，因此进行rcs（雷达散射截面积）测量时，室内测试一般难以达到远场条件，通常的做法是采用外场测试或紧缩场测试，但是外场测试需要建造庞大的测试场，同时面临着易受外界环境干扰且相对暗室测量背景噪声较高的问题。紧缩场测试虽然避免了上述问题，但是由于需要通过紧缩场反射面实现球面波到平面波的转换，反射面作为紧缩场的核心，其质量直接决定了一个紧缩场的优劣，因此对反射面的工艺要求十分严苛，造价往往也十分高昂。于是近场测量技术便应运而生，近场测量则是直接在近场对目标进行测量，通过算法处理得到目标远场结果，由于近场测试可...
【技术保护点】
1.基于幅相电控技术的高效近场RCS测试方法，其特征在于，包括以下步骤：
2.根据权利要求1所述的基于幅相电控技术的高效近场RCS测试方法，其特征在于，所述通过衰减器和移相器控制馈源天线发射电磁波的初始相位和幅度，模拟扫描设备任意位置的电磁波发射，具体为：
3.根据权利要求1所述的基于幅相电控技术的高效近场RCS测试方法，其特征在于，所述散射中心分布与RCS之间的关系，具体为：
4.根据权利要求3所述的基于幅相电控技术的高效近场RCS测试方法，其特征在于，所述在获取后，对进行插值得到。
5.根据权利要求4所述的基于幅相电...
【技术特征摘要】
1.基于幅相电控技术的高效近场rcs测试方法，其特征在于，包括以下步骤：
2.根据权利要求1所述的基于幅相电控技术的高效近场rcs测试方法，其特征在于，所述通过衰减器和移相器控制馈源天线发射电磁波的初始相位和幅度，模拟扫描设备任意位置的电磁波发射，具体为：
3.根据权利要求1所述的基于幅相电控技术的高效近场rcs测试方法，其特征在于，所述散射中心分布与rcs之间的关系，具体为：
4.根据权利要求3所述的基于幅相电控技术的高效近场rcs测试方法，其特征在于，所述在获取后，对进行插值得到。
5.根据权利要求4所述的基于幅相电控技术的高效近场rcs测试方法，其特征在于...
【专利技术属性】
技术研发人员：张羽，郭嘉宁，余凯，程岳云，王勋，权婷，李世全，
申请(专利权)人：西安瀚博电子科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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