本实用新型专利技术属于目标散射特性测试领域，公开了一种基于紧缩场/远场融合的单双站RCS测试暗室，本实用新型专利技术通过设置有转台、反射面和球面屏，并将第一接收天线、第一发射天线和第二发射天线设置在转台上，将第二接收天线设置在球面屏上，能够使第一接收天线和第一发射天线组成紧缩场单站模式，使第二接收天线和第二发射天线组成远场双站模式。本实用新型专利技术同时具有紧缩场单站模式和远场双站模式，能够适应更多用户的需求，同时节省建设成本。同时节省建设成本。同时节省建设成本。
【技术实现步骤摘要】
一种基于紧缩场/远场融合的单双站RCS测试暗室
[0001]本技术属于目标散射特性测试领域，具体涉及一种基于紧缩场/远场融合的单双站RCS测试暗室。
技术介绍
[0002]由于大多数雷达是独立工作的，所以单站RCS测试条件比较常见，但是不能排除雷达分置工作的情况，所以双站RCS测试条件也是必要的。往往根据应用需求，对于目标RCS测试，设计建设的暗室针对性比较强，例如紧缩场RCS测试暗室或者双站RCS测试暗室。为了适应更多用户的需求，同时节省建设成本，因此需要设计一种既能进行紧缩场单站RCS测试，也能进行双站RCS测试的多功能暗室。
技术实现思路
[0003]本技术的目的在于克服上述不足，提供一种基于紧缩场/远场融合的单双站RCS测试暗室，能够同时适用于紧缩场RCS测试和双站RCS测试。
[0004]为了达到上述目的，本技术包括转台、反射面和球面屏，转台位于反射面和球面屏的共同焦点上；
[0005]转台上设置有第一接收天线、第一发射天线和第二发射天线，球面屏上设置有第二接收天线；
[0006]第一接收天线和第一发射天线组成紧缩场单站模式，第二接收天线和第二发射天线组成远场双站模式。
[0007]球面屏顶部设置有滑道，第二接收天线底部设置有滑块，滑块置于滑道内。
[0008]转台与球面屏的距离R
r
如下：
[0009]R
r
＝2D2/
[0010]其中，D为被测目标的尺寸，λ为第二发射天线发射的测试波长。
[0011]紧缩场单站模式下，第一接收天线和第一发射天线位置相同。
[0012]第一接收天线和第一发射天线发射并接收反射面的信号，反射面反射并接收被测目标的信号，第一接收天线和第一发射天线均连接测量雷达。
[0013]远场双站模式下，第二发射天线发射信号至反射面，反射面反射信号至被测目标，被测目标反射信号至第二接收天线，第二接收天线连接测量雷达，测量雷达连接第二发射天线。
[0014]测量雷达包括下变频模块、数字采集模块、传输模块和上位机；下变频模块连接数字采集模块，数字采集模块连接传输模块，传输模块连接上位机。
[0015]下变频模块连接第一接收天线或第二接收天线，上位机连接第一发射天线或第二发射天线。
[0016]与现有技术相比，本技术通过设置有转台、反射面和球面屏，并将第一接收天线、第一发射天线和第二发射天线设置在转台上，将第二接收天线设置在球面屏上，能够使
第一接收天线和第一发射天线组成紧缩场单站模式，使第二接收天线和第二发射天线组成远场双站模式。本技术同时具有紧缩场单站模式和远场双站模式，能够适应更多用户的需求，同时节省建设成本。
附图说明
[0017]图1为本技术的结构示意图；
[0018]图2为本技术中紧缩场单站模式的系统图；
[0019]图3为本技术中远场双站模式的系统图；
[0020]图4为本技术中测量雷达的系统图；
[0021]其中，1、转台；2、反射面；3、球面屏。
具体实施方式
[0022]下面结合附图对本技术做进一步说明。
[0023]参见图1，本技术包括转台1、反射面2和球面屏3，转台1位于反射面2和球面屏3的共同焦点上；转台1上设置有第一接收天线、第一发射天线和第二发射天线，球面屏3上设置有第二接收天线；第一接收天线和第一发射天线组成紧缩场单站模式，第二接收天线和第二发射天线组成远场双站模式。球面屏3顶部设置有滑道，第二接收天线底部设置有滑块，滑块置于滑道内，第二接收天线能够在球面屏3上滑动，从而改变双站角，实现对静区目标的双站RCS测试。转台1与球面屏3的距离R
r
如下：
[0024]R
r
＝2D2/
[0025]其中，D为被测目标的尺寸，λ为第二发射天线发射的测试波长。
[0026]参见图2，紧缩场单站模式下，第一接收天线和第一发射天线位置相同。第一接收天线和第一发射天线发射并接收反射面2的信号，反射面2反射并接收被测目标的信号，第一接收天线和第一发射天线均连接测量雷达。
[0027]紧缩场RCS测试时，采用准单站模式，上位机设置通过网口设置测量雷达的工作参数，经第一发射天线将信号辐射出去，经反射面2，再经过被测目标反射回波信号到反射面2，经第一接收天线接收信号，传输到测量雷达，经过下变频处理，最后对中频信号进行数字采集，传输到上位机，记录测量数据。
[0028]参见图3，远场双站模式下，第二发射天线发射信号至反射面，反射面反射信号至被测目标，被测目标反射信号至第二接收天线，第二接收天线连接测量雷达，测量雷达连接第二发射天线。
[0029]室内远场RCS测试时，采用双站模式，上位机设置通过网口设置测量雷达的工作参数，经第二发射天线将信号辐射出去，经反射面2，再经过被测目标反射回波信号，通过与第二发射天线形成双站角的第二接收天线接收回波信号，传输到测量雷达，经过下变频处理，最后对中频信号进行数字采集，传输到上位机，记录测量数据。第二发射天线与第二接收天线之间形成的双站角可以通过第二接收天线在球面屏3上移动实现双站角的变化，同时第二接收天线到目标距离满足远场条件。
[0030]参见图4，测量雷达包括下变频模块、数字采集模块、传输模块和上位机；下变频模块连接数字采集模块，数字采集模块连接传输模块，传输模块连接上位机。下变频模块连接
第一接收天线或第二接收天线，上位机连接第一发射天线或第二发射天线。
[0031]本技术能够针对不同的测试目标尺寸，具体的参数尺寸都可做调整，达到节省成本的目的。
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【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种基于紧缩场/远场融合的单双站RCS测试暗室，其特征在于，包括转台(1)、反射面(2)和球面屏(3)，转台(1)位于反射面(2)和球面屏(3)的共同焦点上；转台(1)上设置有第一接收天线、第一发射天线和第二发射天线，球面屏(3)上设置有第二接收天线；第一接收天线和第一发射天线组成紧缩场单站模式，第二接收天线和第二发射天线组成远场双站模式。2.根据权利要求1所述的一种基于紧缩场/远场融合的单双站RCS测试暗室，其特征在于，球面屏(3)顶部设置有滑道，第二接收天线底部设置有滑块，滑块置于滑道内。3.根据权利要求1所述的一种基于紧缩场/远场融合的单双站RCS测试暗室，其特征在于，转台(1)与球面屏(3)的距离R
r
如下：R
r
＝2D2/λ其中，D为被测目标的尺寸，λ为第二发射天线发射的测试波长。4.根据权利要求1所述的一种基于紧缩场/远场融合的单双站RCS测试暗室，其特征在于，紧缩场单站模式下，第一接收天线和第...
【专利技术属性】
技术研发人员：张羽，郭嘉宁，章锦文，程岳云，余凯，黄鑫，张瑶，
申请(专利权)人：西安瀚博电子科技有限公司，
类型：新型
国别省市：
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