【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于波前探测，尤其涉及一种基于倾斜角度调制的低像素采样哈特曼波前传感器方法。
技术介绍
1、波前探测需要将任意形态的光波波前转化为计算机可识别、可处理的电信号，从而产生校正器需要的控制信号，这一波前信息的采集过程所要用到的是特定的波前传感器。常见的波前传感器包括波前曲率传感器、棱锥波前传感器以及夏克—哈特曼波前传感器。其中，夏克—哈特曼传感器由于其结构简单、能够同时测量x、y两个方向的斜率、光能利用率高等特点，逐渐成为自适应光学系统中应用最为广泛的波前传感器。其主要是通过微透镜阵列分割待测光束的波前，然后根据光电探测器上各子孔径光斑质心位置的偏移量来估算对应子波前的斜率，最后利用相应算法重构波前相位。但是夏克—哈特曼波前传感器的探测精度受微透镜阵列或子孔径采样率的限制，子孔径数目越多，孔径分辨率越高，然而子孔径分割越密集，单个孔径所占像素减少，采集的能量越低，降低了像差测量的能力，从而限制了波前复原精度，因此单个子孔径要覆盖一定的像素数才能对波前进行准确的复原。
2、自适应光学系统中，随着望远镜的口径增加，或者校正...
【技术保护点】
1.一种基于倾斜角度调制的低像素采样哈特曼波前传感器方法，其特征在于：通过引入倾斜调制器实现对入射光波多角度倾斜调制，从而增加了子光斑图像信息量，进而提升波前探测精度；
2.根据权利要求1所述的一种基于倾斜角度调制的低像素采样哈特曼波前传感器方法，其特征在于：所述倾斜调制器是包括倾斜镜或者液晶空间光调制器等在内的进行倾斜调制的器件。
3.根据权利要求1所述的一种基于倾斜角度调制的低像素采样哈特曼波前传感器方法，其特征在于：采用多种调制方式进行调制，其倾斜调制幅度M≤P/2-λ·f/LP，其中λ为激光波长，f为微透镜焦距，P为子孔径所占像素数，L...
【技术特征摘要】
1.一种基于倾斜角度调制的低像素采样哈特曼波前传感器方法，其特征在于：通过引入倾斜调制器实现对入射光波多角度倾斜调制，从而增加了子光斑图像信息量，进而提升波前探测精度；
2.根据权利要求1所述的一种基于倾斜角度调制的低像素采样哈特曼波前传感器方法，其特征在于：所述倾斜调制器是包括倾斜镜或者液晶空间光调制器等在内的进行倾斜调制的器件。
3.根据权利要求1所述的一种基于倾斜角度调制的低像素采样哈特曼波前传感器方法，其特征在于：采用多种调制方式进行调制，其倾斜调制幅度m≤p/2-λ·f/lp，其中λ为激光波长，f为微透镜焦距，p为子孔径所占像素数，lp为光电探测器像素尺寸。
4.根据权利要求1所述的一种...
【专利技术属性】
技术研发人员：赵晨思，赵旺，王帅，官泓利，
申请(专利权)人：中国科学院光电技术研究所，
类型：发明
国别省市：
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