一种轴系误差校准系统及跟踪发射望远镜技术方案

本发明专利技术公开了一种轴系误差校准系统及跟踪发射望远镜，属于跟踪发射望远镜校准技术领域。轴系误差校准系统用于校准跟踪发射望远镜的跟踪轴和发射轴的轴系误差，包括长焦光学模块、成像光屏、信标生成模块、识别模块和计算模块。长焦光学模块用于聚焦发射光；成像光屏接收发射光形成聚焦光斑；信标生成模块生成信标光，在成像光屏上形成目标点并触发发射光；识别模块识别聚焦光斑和目标点的位置；计算模块计算二者的位置偏差，实现轴系误差校准。本发明专利技术通过共光路设计和集成化结构，简化了校准流程，提高了校准精度和效率，适用于跟踪发射望远镜的内部集成。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于跟踪发射望远镜校准，具体涉及一种轴系误差校准系统及跟踪发射望远镜。

技术介绍

1、随着光电对抗和光电探测技术的快速发展，高精度跟踪发射望远镜在军事、天文观测和空间通信等领域发挥着重要作用。这类望远镜的核心功能是通过跟踪目标并发射光束实现精确瞄准，其性能直接取决于跟踪轴与发射轴的轴线一致性。若两轴存在偏差，会导致发射光偏离目标，严重影响系统的跟踪和传输精度。

2、传统的校准方法通常依赖外部设备或人工干预，操作复杂且效率低下。例如，部分系统需要在望远镜外部安装辅助校准装置，不仅增加了校准的准备工作时间，还可能因环境因素（如振动、温度变化）引入额外误差。此外，现有校准技术往往难以实现实时校准，导致系统在长时间工作后因机械磨损或热变形而产生累积误差，影响整体性能。

3、另外，传统校准系统对光路的共轴性要求较高，但非共光路设计容易引入像差和基准漂移问题，进一步降低校准精度。尤其是在动态跟踪场景下，外部校准设备难以同步跟随望远镜运动，导致校准结果与实际工作状态不符。

4、因此，亟需一种结构简单、集成度高且能够实时校准的本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种轴系误差校准系统，用于校准跟踪发射望远镜的跟踪轴和发射轴的轴系误差，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的一种轴系误差校准系统，其特征在于，所述成像光屏（120）设于所述信标生成模块（130）和所述长焦光学模块（110）之间，所述成像光屏（120）开设有光孔，所述信标光（131）经过所述光孔成像，作为跟踪发射望远镜（300）探测跟踪的目标点像。

3.根据权利要求1所述的一种轴系误差校准系统，其特征在于，所述信标生成模块（130）设于所述长焦光学模块（110）和所述成像光屏（120）之间，且所述信标生成模块（130）设于所述发射光（200）的路径外，信...

【技术特征摘要】

1.一种轴系误差校准系统，用于校准跟踪发射望远镜的跟踪轴和发射轴的轴系误差，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的一种轴系误差校准系统，其特征在于，所述成像光屏（120）设于所述信标生成模块（130）和所述长焦光学模块（110）之间，所述成像光屏（120）开设有光孔，所述信标光（131）经过所述光孔成像，作为跟踪发射望远镜（300）探测跟踪的目标点像。

3.根据权利要求1所述的一种轴系误差校准系统，其特征在于，所述信标生成模块（130）设于所述长焦光学模块（110）和所述成像光屏（120）之间，且所述信标生成模块（130）设于所述发射光（200）的路径外，信标光（131）直接在成像光屏（120）靠近收发装置（311）的一面形成目标点，基于成像光屏（120）的漫反射特性，目标点被收发装置（311）所接收，收发装置（311）触发发射光（200）向目标点发射。

4.根据权利要求1所述的一种轴系误差校准系统，其特征在于，所述识别模块（140）包括成像镜头和识别相机，所述成像镜头用于将所述聚焦光斑和所述目标点成像于所述识别相机内，所述识别相机用于获取所述聚焦光斑和所述目标点的位置信息。

5.根据权利要求4所述的一种轴系误差校准系统，其特征在于，所述识别相机还用于识别所述聚焦光斑的形态，所述计算模块（150）用于对所述聚焦光斑进行形态计算。

6.根据权利要求1所述的一种轴系误差校准系统，其特征在于，所述长...

【专利技术属性】
技术研发人员：董道爱，吴梦雪，沈锋，缪洪波，蒲镜羽，
申请(专利权)人：中国科学院光电技术研究所，
类型：发明
国别省市：