【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及半导体功率器件测试，具体涉及一种igbt驱动芯片测试系统。
技术介绍
1、绝缘栅双极型晶体管(insulate-gate bipolar transistor，igbt)具有易于控制，损耗低，开关速度快等优点，被广泛应用于直流输电、新能源发电、轨道牵引、电动汽车及工业变频等领域。igbt驱动器是用于控制igbt开关的设备，同时也负责实时检测和保护igbt的运行。igbt驱动器经过模拟驱动、数字驱动技术路线的更迭，目前正朝着驱动功能集成化、芯片化的技术方向发展，随着功率器件电压、电流等级的不断攀升，高压驱动芯片的自主研发及测试验证变得越发重要。目前，在国内igbt驱动芯片处于研发阶段，缺少相应的测试系统来验证igbt驱动芯片的有效性。因此，现有技术中存在缺少igbt驱动芯片测试系统的问题。
技术实现思路
1、有鉴于此，本专利技术提供了一种igbt驱动芯片测试系统，以解决现有技术中存在缺少igbt驱动芯片测试系统的问题。
2、本专利技术提供了一种igbt驱动芯片测试系统，包括：至少两种芯片测试座、测试模块以及上位机，至少两种芯片测试座分别与测试模块以及上位机依次连接，至少两种芯片测试座用于为至少两种类型的待测试的igbt驱动芯片与测试模块提供电气连接，测试模块用于为任一类型的待测试的igbt驱动芯片提供激励信号，采集任一类型的待测试的igbt驱动芯片在激励信号的作用下产生的测试信号并发送至上位机，上位机用于根据待测试的igbt驱动芯片的类型创建测试程序，根据测
3、在本专利技术实施例中，通过芯片测试座将待测试的igbt驱动芯片与测试模块和上位机连接，上位机根据测试程序获取测试模块采集的待测试的igbt驱动芯片在不同激励信号下产生的测试信号并生成测试结果，避免了过程繁琐的人工测试，提高了igbt驱动芯片的测试效率。其中，至少两种芯片测试座可为至少两种类型的待测试的igbt驱动芯片与测试模块提供电气连接，实现了扩大igbt驱动芯片测试系统使用范围的目的，达到了提高igbt驱动芯片测试系统适用性的效果，解决了现有技术中存在缺少igbt驱动芯片测试系统的问题。
4、在一种可选的实施方式中，系统还包括：pcb板、接线端子以及排线，待测试的igbt驱动芯片的类型包括：igbt模拟驱动芯片以及igbt数字驱动芯片，至少两种芯片测试座包括：igbt模拟驱动芯片对应的芯片测试座以及igbt数字驱动芯片对应的芯片测试座，芯片测试座焊接在pcb板上，通过接线端子以及排线与测试模块连接。
5、在本专利技术实施例中，芯片测试座焊接在pcb板上，通过接线端子以及排线与测试模块连接，达到了提高系统集成性、便于使用以及提高系统稳定性的目的。
6、在一种可选的实施方式中，系统还包括：下位机，下位机与测试模块以及上位机连接，用于对测试模块采集的测试信号进行格式转换后发送至上位机。
7、在本专利技术实施例中，通过下位机对测试模块采集的测试信号进行格式转换后发送至上位机，达到了提高测试信号准确性的目的，从而实现了提高测试结果可靠性的目的。
8、在一种可选的实施方式中，测试模块包括：供电单元、信号发生器、电子负载、测试仪器仪表以及信号收集单元，待测试的igbt驱动芯片通过芯片测试座分别与供电单元、信号发生器、电子负载以及测试仪器仪表连接，信号收集单元连接测试仪器仪表与下位机；供电单元用于为待测试的igbt驱动芯片提供工作电压，信号发生器用于为待测试的igbt驱动芯片提供激励信号，电子负载用于为待测试的igbt驱动芯片提供模拟负载，测试仪器仪表用于采集待测试的igbt驱动芯片在激励信号的作用下产生的测试信号并发送至信号收集单元，信号收集单元用于对测试信号进行整形后发送至下位机。
9、在本专利技术实施例中，通过测试模块为待测试的igbt驱动芯片供电，提供激励信号，进行测试信号采集以及对测试信号进行整形后发送至下位机，实现了对待测试的igbt驱动芯片进行自动化测试的目的，达到了提高驱动芯片测试效率的目的。
10、在一种可选的实施方式中，测试仪器仪表包括：示波器以及万用表，测试信号包括：输出波形以及阻抗特性，示波器以及万用表均与芯片测试座以及信号收集单元连接，示波器以及万用表分别用于采集待测试的igbt驱动芯片在激励信号下的输出波形以及阻抗特性并发送至信号收集单元。
11、在本专利技术实施例中，利用示波器以及万用表采集待测试的igbt驱动芯片对应的输出波形以及阻抗特性，实现了对待测试的igbt驱动芯片进行多样化测试的目的。
12、在一种可选的实施方式中，上位机由工控机以及io设备组成，io设备与工控机连接，用于为工控机提供人机交互功能。
13、在本专利技术实施例中，利用显示器及io设备为工控机提供人机交互功能，实现了对测试过程进行实时展示的目的，达到了提高系统操作便捷性的效果。
14、在一种可选的实施方式中，测试程序包括：预设测试项目以及预设测试项目对应的合格判据，上位机还用于根据测试信号生成测试数据，根据待测试的igbt驱动芯片的类型选取预设测试项目建立测试流程，根据测试流程、测试流程中预设测试项目对应的合格判据以及测试数据生成测试结果，利用可视化技术对测试流程以及测试结果进行展示。
15、在本专利技术实施例中，上位机可根据待测试的igbt驱动芯片的类型定制对应的测试流程并进行展示，达到了进一步提高系统测试效率的效果。
16、在一种可选的实施方式中，上位机还用于将测试结果以预设表的形式存储在数据库中，预设表包括：待测试的igbt驱动芯片对应的编号、测试时间、测试数据以及合格判据；和/或将测试结果以测试记录文件的形式存储，测试记录文件的名称以测试时间加驱动芯片编号的方式命名，名称通过手动录入、扫描条形码录入或者扫描二维码录入。
17、在本专利技术实施例中，上位机可采用多种形式对测试结果进行自动化的存储，实现了对测试结果进行追溯的目的，达到了进一步提高系统测试效率的效果。
18、在一种可选的实施方式中，igbt驱动芯片测试系统整体采用屏柜集成式设计。
19、在本专利技术实施例中，igbt驱动芯片测试系统整体采用屏柜集成式设计，达到了节省空间、减少布线以及提高系统可靠性的效果。
20、在一种可选的实施方式中，igbt驱动芯片测试系统还包括：启动按钮、急停按钮以及上电自检模块，启动按钮用于控制系统上电，急停按钮用于控制系统断电，上电自检模块用于检测系统上电后是否正常工作。
21、在本专利技术实施例中，通过为igbt驱动芯片测试系统配置：启动按钮、急停按钮以及上电自检模块，达到了进一步提高系统可靠性及智能性的效果。
本文档来自技高网...【技术保护点】
1.一种IGBT驱动芯片测试系统，其特征在于，所述系统包括：至少两种芯片测试座、测试模块以及上位机，所述至少两种芯片测试座分别与所述测试模块以及所述上位机依次连接，所述至少两种芯片测试座用于为至少两种类型的待测试的IGBT驱动芯片与所述测试模块提供电气连接，所述测试模块用于为任一类型的待测试的IGBT驱动芯片提供激励信号，采集所述任一类型的待测试的IGBT驱动芯片在所述激励信号的作用下产生的测试信号并发送至所述上位机，所述上位机用于根据待测试的IGBT驱动芯片的类型创建测试程序，根据所述测试程序以及所述测试信号生成测试结果。
2.根据权利要求1所述的IGBT驱动芯片测试系统，其特征在于，所述系统还包括：PCB板、接线端子以及排线，所述待测试的IGBT驱动芯片的类型包括：IGBT模拟驱动芯片以及IGBT数字驱动芯片，所述至少两种芯片测试座包括：IGBT模拟驱动芯片对应的芯片测试座以及IGBT数字驱动芯片对应的芯片测试座，所述芯片测试座焊接在PCB板上，通过接线端子以及排线与测试模块连接。
3.根据权利要求1所述的IGBT驱动芯片测试系统，其特征在于，所述系统
4.根据权利要求3所述的IGBT驱动芯片测试系统，其特征在于，所述测试模块包括：供电单元、信号发生器、电子负载、测试仪器仪表以及信号收集单元，待测试的IGBT驱动芯片通过芯片测试座分别与所述供电单元、所述信号发生器、所述电子负载以及所述测试仪器仪表连接，所述信号收集单元连接所述测试仪器仪表与下位机；所述供电单元用于为待测试的IGBT驱动芯片提供工作电压，所述信号发生器用于为待测试的IGBT驱动芯片提供激励信号，所述电子负载用于为待测试的IGBT驱动芯片提供模拟负载，所述测试仪器仪表用于采集待测试的IGBT驱动芯片在激励信号的作用下产生的测试信号并发送至所述信号收集单元，所述信号收集单元用于对所述测试信号进行整形后发送至下位机。
5.根据权利要求4所述的IGBT驱动芯片测试系统，其特征在于，所述测试仪器仪表包括：示波器以及万用表，所述测试信号包括：输出波形以及阻抗特性，所述示波器以及万用表均与芯片测试座以及信号收集单元连接，所述示波器以及万用表分别用于采集待测试的IGBT驱动芯片在激励信号下的输出波形以及阻抗特性并发送至信号收集单元。
6.根据权利要求1所述的IGBT驱动芯片测试系统，其特征在于，所述上位机由工控机以及io设备组成，所述io设备与工控机连接，用于为工控机提供人机交互功能。
7.根据权利要求2所述的IGBT驱动芯片测试系统，其特征在于，所述测试程序包括：预设测试项目以及预设测试项目对应的合格判据，所述上位机还用于根据测试信号生成测试数据，根据待测试的IGBT驱动芯片的类型选取预设测试项目建立测试流程，根据测试流程、测试流程中预设测试项目对应的合格判据以及所述测试数据生成测试结果，利用可视化技术对所述测试流程以及所述测试结果进行展示。
8.根据权利要求7所述的IGBT驱动芯片测试系统，其特征在于，上位机还用于将测试结果以预设表的形式存储在数据库中，所述预设表包括：待测试的IGBT驱动芯片对应的编号、测试时间、测试数据以及合格判据；和/或将测试结果以测试记录文件的形式存储，所述测试记录文件的名称以测试时间加驱动芯片编号的方式命名，所述名称通过手动录入、扫描条形码录入或者扫描二维码录入。
9.根据权利要求1所述的IGBT驱动芯片测试系统，其特征在于，所述IGBT驱动芯片测试系统整体采用屏柜集成式设计。
10.根据权利要求9所述的IGBT驱动芯片测试系统，其特征在于，所述IGBT驱动芯片测试系统还包括：启动按钮、急停按钮以及上电自检模块，所述启动按钮用于控制所述系统上电，所述急停按钮用于控制所述系统断电，所述上电自检模块用于检测所述系统上电后是否正常工作。
...【技术特征摘要】
1.一种igbt驱动芯片测试系统，其特征在于，所述系统包括：至少两种芯片测试座、测试模块以及上位机，所述至少两种芯片测试座分别与所述测试模块以及所述上位机依次连接，所述至少两种芯片测试座用于为至少两种类型的待测试的igbt驱动芯片与所述测试模块提供电气连接，所述测试模块用于为任一类型的待测试的igbt驱动芯片提供激励信号，采集所述任一类型的待测试的igbt驱动芯片在所述激励信号的作用下产生的测试信号并发送至所述上位机，所述上位机用于根据待测试的igbt驱动芯片的类型创建测试程序，根据所述测试程序以及所述测试信号生成测试结果。
2.根据权利要求1所述的igbt驱动芯片测试系统，其特征在于，所述系统还包括：pcb板、接线端子以及排线，所述待测试的igbt驱动芯片的类型包括：igbt模拟驱动芯片以及igbt数字驱动芯片，所述至少两种芯片测试座包括：igbt模拟驱动芯片对应的芯片测试座以及igbt数字驱动芯片对应的芯片测试座，所述芯片测试座焊接在pcb板上，通过接线端子以及排线与测试模块连接。
3.根据权利要求1所述的igbt驱动芯片测试系统，其特征在于，所述系统还包括：下位机，所述下位机与测试模块以及上位机连接，用于对测试模块采集的测试信号进行格式转换后发送至所述上位机。
4.根据权利要求3所述的igbt驱动芯片测试系统，其特征在于，所述测试模块包括：供电单元、信号发生器、电子负载、测试仪器仪表以及信号收集单元，待测试的igbt驱动芯片通过芯片测试座分别与所述供电单元、所述信号发生器、所述电子负载以及所述测试仪器仪表连接，所述信号收集单元连接所述测试仪器仪表与下位机；所述供电单元用于为待测试的igbt驱动芯片提供工作电压，所述信号发生器用于为待测试的igbt驱动芯片提供激励信号，所述电子负载用于为待测试的igbt驱动芯片提供模拟负载，所述测试仪器仪表用于采集待测试的igbt驱动芯片在激励信号的作用下产生的测试信号并发送至所述信号收集单元，...
【专利技术属性】
技术研发人员：池浦田，关兆亮，许航宇，白建成，客金坤，
申请(专利权)人：国网智能电网研究院有限公司，
类型：发明
国别省市：
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。