一种IGBT驱动芯片测试系统技术方案

本发明专利技术涉及半导体功率器件测试技术领域，公开了一种IGBT驱动芯片测试系统，系统包括：至少两种芯片测试座、测试模块以及上位机，至少两种芯片测试座分别与测试模块以及上位机依次连接，至少两种芯片测试座用于为至少两种类型的待测试的IGBT驱动芯片与测试模块提供电气连接，测试模块用于为任一类型的待测试的IGBT驱动芯片提供激励信号，采集任一类型的待测试的IGBT驱动芯片在激励信号的作用下产生的测试信号并发送至上位机，上位机用于根据待测试的IGBT驱动芯片的类型创建测试程序，根据测试程序以及测试信号生成测试结果。本发明专利技术解决了现有技术中存在缺少IGBT驱动芯片测试系统的问题。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及半导体功率器件测试，具体涉及一种igbt驱动芯片测试系统。

技术介绍

1、绝缘栅双极型晶体管(insulate-gate bipolar transistor，igbt)具有易于控制，损耗低，开关速度快等优点，被广泛应用于直流输电、新能源发电、轨道牵引、电动汽车及工业变频等领域。igbt驱动器是用于控制igbt开关的设备，同时也负责实时检测和保护igbt的运行。igbt驱动器经过模拟驱动、数字驱动技术路线的更迭，目前正朝着驱动功能集成化、芯片化的技术方向发展，随着功率器件电压、电流等级的不断攀升，高压驱动芯片的自主研发及测试验证变得越发重要。目前，在国内igbt驱动芯片处于研发阶段，缺少相应的测试系统来验证igbt驱动芯片的有效性。因此，现有技术中存在缺少igbt驱动芯片测试系统的问题。

技术实现思路

1、有鉴于此，本专利技术提供了一种igbt驱动芯片测试系统，以解决现有技术中存在缺少igbt驱动芯片测试系统的问题。

2、本专利技术提供了一种igbt驱动芯片测试系统，包括：至少两种芯本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种IGBT驱动芯片测试系统，其特征在于，所述系统包括：至少两种芯片测试座、测试模块以及上位机，所述至少两种芯片测试座分别与所述测试模块以及所述上位机依次连接，所述至少两种芯片测试座用于为至少两种类型的待测试的IGBT驱动芯片与所述测试模块提供电气连接，所述测试模块用于为任一类型的待测试的IGBT驱动芯片提供激励信号，采集所述任一类型的待测试的IGBT驱动芯片在所述激励信号的作用下产生的测试信号并发送至所述上位机，所述上位机用于根据待测试的IGBT驱动芯片的类型创建测试程序，根据所述测试程序以及所述测试信号生成测试结果。

2.根据权利要求1所述的IGBT驱动芯片测试系统，...

【技术特征摘要】

1.一种igbt驱动芯片测试系统，其特征在于，所述系统包括：至少两种芯片测试座、测试模块以及上位机，所述至少两种芯片测试座分别与所述测试模块以及所述上位机依次连接，所述至少两种芯片测试座用于为至少两种类型的待测试的igbt驱动芯片与所述测试模块提供电气连接，所述测试模块用于为任一类型的待测试的igbt驱动芯片提供激励信号，采集所述任一类型的待测试的igbt驱动芯片在所述激励信号的作用下产生的测试信号并发送至所述上位机，所述上位机用于根据待测试的igbt驱动芯片的类型创建测试程序，根据所述测试程序以及所述测试信号生成测试结果。

2.根据权利要求1所述的igbt驱动芯片测试系统，其特征在于，所述系统还包括：pcb板、接线端子以及排线，所述待测试的igbt驱动芯片的类型包括：igbt模拟驱动芯片以及igbt数字驱动芯片，所述至少两种芯片测试座包括：igbt模拟驱动芯片对应的芯片测试座以及igbt数字驱动芯片对应的芯片测试座，所述芯片测试座焊接在pcb板上，通过接线端子以及排线与测试模块连接。

3.根据权利要求1所述的igbt驱动芯片测试系统，其特征在于，所述系统还包括：下位机，所述下位机与测试模块以及上位机连接，用于对测试模块采集的测试信号进行格式转换后发送至所述上位机。

4.根据权利要求3所述的igbt驱动芯片测试系统，其特征在于，所述测试模块包括：供电单元、信号发生器、电子负载、测试仪器仪表以及信号收集单元，待测试的igbt驱动芯片通过芯片测试座分别与所述供电单元、所述信号发生器、所述电子负载以及所述测试仪器仪表连接，所述信号收集单元连接所述测试仪器仪表与下位机；所述供电单元用于为待测试的igbt驱动芯片提供工作电压，所述信号发生器用于为待测试的igbt驱动芯片提供激励信号，所述电子负载用于为待测试的igbt驱动芯片提供模拟负载，所述测试仪器仪表用于采集待测试的igbt驱动芯片在激励信号的作用下产生的测试信号并发送至所述信号收集单元，...

【专利技术属性】
技术研发人员：池浦田，关兆亮，许航宇，白建成，客金坤，
申请(专利权)人：国网智能电网研究院有限公司，
类型：发明
国别省市：