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本发明涉及半导体功率器件测试技术领域，公开了一种IGBT驱动芯片测试系统，系统包括：至少两种芯片测试座、测试模块以及上位机，至少两种芯片测试座分别与测试模块以及上位机依次连接，至少两种芯片测试座用于为至少两种类型的待测试的IGBT驱动芯片与...
该专利属于国网智能电网研究院有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过国网智能电网研究院有限公司授权不得商用。

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