System.ArgumentOutOfRangeException: 索引和长度必须引用该字符串内的位置。 参数名: length 在 System.String.Substring(Int32 startIndex, Int32 length) 在 zhuanliShow.Bind() 一种B掺杂AlN单晶及制备方法技术_技高网
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一种B掺杂AlN单晶及制备方法技术

技术编号:40090613 阅读:7 留言:0更新日期:2024-01-23 16:09
本发明专利技术属于氮化铝单晶生长技术领域,具体涉及一种B掺杂AlN单晶及制备方法。所述B掺杂AlN单晶的制备方法为:设计坩埚内部的温区分隔套筒;使得分隔套筒将坩埚底部划分为低温区和高温区;在分隔套筒内部低温区内放入氮化硼多晶颗粒料,分隔套筒外部高温区填充氮化铝原料,然后进行B掺杂AlN单晶的生长。采用本发明专利技术的方法,能够实现掺杂的B源与AlN原料同时进行升华,而不存在分层现象,从而使得B元素能够在AlN单晶内均匀分布,而不存在偏析或者掺杂元素富集现象,使得元素掺杂更加均匀,并且不会对单晶生长产生附加难度,通过控制B元素与Al元素的掺杂比获得了结晶质量高、掺杂均匀的B掺杂AlN单晶。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于氮化铝单晶生长,具体涉及一种b掺杂aln单晶及制备方法。


技术介绍

1、aln晶体作为一种十分重要的超宽禁带半导体材料,不仅具有超高的禁带宽度(6.2ev),同时还具有高热导率(3.2w·cm-1k-1)、高电阻率及高表面声速(5600-6000m/s)等优异的物理性质,在激光器、大功率电子器件、光电子器件和声表面波器件中得到广泛应用。目前,物理气相传输法(pvt)是公认的制备大尺寸氮化铝单晶的有效途径,其生长机理主要是通过感应加热法在坩埚下方的高温区将aln原料升华,随后通过控制压力使升华的物料传输到低温生长区进行aln晶体的生长。整个过程中由于在封闭的氮气环境内进行,并且温度在2500℃以上,所以很难在生长过程中对aln实现外部气体的有效掺杂,但其他元素的掺杂对于提高aln整体性能方面尤为关键。

2、氮化硼目前是热导率性能最好的材料之一,b元素如果能够有效地掺入到氮化铝晶体中,能够有效的提升氮化铝在高温下的热导率,但目前国内尚未有报道表明已实现对aln单晶有效的故意掺杂,这主要是由于aln原料的升华温度在2500℃以上,掺杂的元素基本在达到aln的升华温度前就已经蒸发,故很难对aln单晶实现外来元素掺杂。

3、基于此,如何实现在pvt法生长aln单晶的过程中实现有效的b元素掺杂成为目前提高aln体块晶体性能亟待解决的难题。


技术实现思路

1、针对现有技术的不足,尤其是aln原料升华温度过高,无法实现外来元素有效掺杂的难题,本专利技术提供一种b掺杂aln单晶及制备方法。

2、采用本专利技术的方法,能够实现掺杂的b源与aln原料同时进行升华,而不存在分层现象,从而使得掺杂b元素能够在aln单晶内均匀分布,而不存在偏析或者掺杂元素富集现象,使得元素掺杂更加均匀,并且不会对单晶生长产生影响。

3、为实现上述目的,本专利技术是通过如下技术方案实现的:

4、本专利技术提供一种b掺杂aln单晶,所述b掺杂aln单晶中b与al的摩尔比为1:(5-10)。

5、本专利技术还提供上述b掺杂aln单晶的制备方法,由pvt法生长得到,步骤如下:

6、(1)设计坩埚内部的温区分隔套筒;所述分隔套筒中空,由上方的圆柱部件和下方的圆台部件构成;所述圆柱部件的底部半径与圆台部件的上底部半径相同,均为坩埚半径的1/3,所述圆台部件的下底部半径为坩埚底部半径的4/5;圆台部件高度与圆柱部件高度相同,均为坩埚高度的1/5;

7、(2)将所述分隔套筒置于坩埚底部中心位置,向所述分隔套筒内部放入氮化硼多晶颗粒料,分隔套筒外部填充氮化铝原料,氮化铝原料高度在分隔套筒高度的4/5以下;分隔套筒内部为低温区,外部为高温区;

8、(3)在坩埚顶部放置氮化铝籽晶,再将坩埚密封;

9、(4)将坩埚置于aln加热炉内,并设置为低埚位,所述低埚位下坩埚底部存在大于20℃的径向梯度;将坩埚内抽至真空后充入氮气,再进行升温生长,沉积面生长温度为2200-2250℃,生长结束后得到b掺杂aln单晶。

10、优选的,步骤(1)中,所述分隔套筒的材质为钨金属。

11、优选的,步骤(2)中,氮化硼多晶颗粒料与氮化铝原料的质量比为1:(8.2-16.4),以保证所得b掺杂aln单晶中b与al的摩尔比为1:(5-10)。

12、进一步优选的,步骤(2)中,氮化硼多晶颗粒料与氮化铝原料的质量比为1:16.4。

13、优选的,步骤(2)中,氮化硼多晶颗粒的粒径为1-3mm。

14、进一步优选的,步骤(2)中,氮化硼多晶颗粒的粒径为2±0.5mm。

15、优选的,步骤(4)中,所述坩埚高度1/2处与线圈中心重合。

16、本专利技术中,氮化铝原料为经多次除杂后可直接用于aln单晶生长的氮化铝原料。

17、优选的,步骤(4)中所述加热炉为电阻炉。

18、优选的,步骤(4)中所述生长的时间为40-60h。

19、本专利技术具有以下有益技术效果:

20、(1)采用本专利技术的方法,能够实现掺杂的b源与aln原料同时进行升华,而不存在分层现象,从而使得b元素能够在aln单晶内均匀分布,而不存在偏析或者掺杂元素富集现象,使得元素掺杂更加均匀,并且不会对单晶生长产生附加难度。

21、(2)本专利技术中通过控制b元素与al元素的掺杂比获得了结晶质量高、掺杂均匀的b掺杂aln单晶,该晶体1000度以下的热导率明显高于纯aln单晶。

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【技术保护点】

1.一种B掺杂AlN单晶,其特征在于,所述B掺杂AlN单晶中B与Al的摩尔比为1:(5-10)。

2.如权利要求1所述的B掺杂AlN单晶的制备方法,其特征在于,由PVT法生长得到,包括以下步骤:

3.根据权利要求2所述的制备方法,其特征在于,步骤(1)中,所述分隔套筒的材质为钨金属。

4.根据权利要求2所述的制备方法,其特征在于,步骤(2)中,氮化硼多晶颗粒料与氮化铝原料的质量比为1:(8.2-16.4)。

5.根据权利要求4所述的制备方法,其特征在于,步骤(2)中,氮化硼多晶颗粒料与氮化铝原料的质量比为1:16.4。

6.根据权利要求2所述的制备方法,其特征在于,步骤(2)中,氮化硼多晶颗粒的粒径为1-3mm。

7.根据权利要求6所述的制备方法,其特征在于,步骤(2)中,氮化硼多晶颗粒的粒径为2±0.5mm。

8.根据权利要求2所述的制备方法,其特征在于,步骤(4)中所述加热炉为电阻炉。

9.根据权利要求8所述的制备方法,其特征在于,步骤(4)中,所述坩埚高度1/2处与电阻炉线圈中心重合。

10.根据权利要求2所述的制备方法,其特征在于,步骤(4)中所述生长的时间为40-60h。

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【技术特征摘要】

1.一种b掺杂aln单晶,其特征在于,所述b掺杂aln单晶中b与al的摩尔比为1:(5-10)。

2.如权利要求1所述的b掺杂aln单晶的制备方法,其特征在于,由pvt法生长得到,包括以下步骤:

3.根据权利要求2所述的制备方法,其特征在于,步骤(1)中,所述分隔套筒的材质为钨金属。

4.根据权利要求2所述的制备方法,其特征在于,步骤(2)中,氮化硼多晶颗粒料与氮化铝原料的质量比为1:(8.2-16.4)。

5.根据权利要求4所述的制备方法,其特征在于,步骤(2)中,氮化硼多晶颗粒料与氮化铝原料的质...

【专利技术属性】
技术研发人员:王国栋曹文豪张雷王守志俞娇仙徐现刚
申请(专利权)人:山东大学
类型:发明
国别省市:

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