【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及芯片设计领域，尤其涉及一种mcu上电自检电路及芯片、电子设备。
技术介绍
1、在芯片设计中，mcu（micro controller unit，微控制器）系统的供电通常由内部的ldo（low dropout regulator，低压差线性稳压器）模块提供。在mcu系统的上电过程中，为了确保内部的ldo模块上电成功，相关技术通常会设置对应的模拟检测电路和控制电路，以模拟检测电路能够检测ldo模块的输出电压和电流，检测电路可在确定ldo模块上电异常时输出报警信号，以使控制电路控制整个mcu系统重启，直至ldo模块的输出电压正常。上述相关技术的弊端在于，由于mcu系统通常会具备多个ldo模块，而该相关技术会在某个ldo模块上电失败时重启整个mcu系统，因此mcu系统因ldo模块故障重启而浪费大量时间，进而降低mcu系统的工作效率。
技术实现思路
1、本专利技术旨在至少在一定程度上解决相关技术中的技术问题之一。为此，本专利技术的第一个目的在于提出一种mcu上电自检电路，在muc内的第一ldo上电过程中，通过第一电压检测电路和上电检测电路检测第一ldo是否完成上电，同时在第一ldo未完成上电时，通过延时重启电路和请求电路控制第一ldo重新上电，从而实现了针对第一ldo的上电检测和自动重启，避免了mcu因第一ldo上电异常而整体重启的问题，进而提高了mcu的工作效率。
2、本专利技术的第二个目的在于提出一种芯片。
3、本专利技术的第三个目的在于提出一种电子
4、为达到上述目的，本专利技术第一方面实施例提出了一种mcu上电自检电路，mcu包括用于给内核供电的第一ldo，上电自检电路包括：第一电压检测电路、上电检测电路、请求电路、延时重启电路和状态控制器，第一电压检测电路分别与第一ldo和上电检测电路相连，请求电路分别与上电检测电路、延时重启电路和状态控制器相连，状态控制器分别与第一ldo、第一电压检测电路、上电检测电路和延时重启电路相连，其中，第一电压检测电路用于检测第一ldo上电过程中的第一电压，并基于第一电压输出第一ldo的上电状态信号；上电检测电路用于基于上电状态信号确定第一ldo在第一预设时间内是否完成上电，并输出相应的上电检测信号；请求电路用于基于上电检测信号确定第一ldo未在第一预设时间内完成上电时，输出延时重启请求信号；状态控制器用于基于延时重启请求信号控制第一ldo停止上电、第一电压检测电路和上电检测电路停止工作、以及延时重启电路工作；延时重启电路用于在延时第二预设时间后输出延时重启信号；请求电路还用于基于延时重启信号输出重启请求信号；状态控制器还用于基于重启请求信号控制第一ldo重新上电、第一电压检测电路和上电检测电路工作、以及延时重启电路停止工作。
5、根据本专利技术实施例的mcu上电自检电路，在muc内的第一ldo上电过程中，通过第一电压检测电路和上电检测电路检测第一ldo是否完成上电，同时在第一ldo未完成上电时，通过延时重启电路和请求电路控制第一ldo重新上电，从而实现了针对第一ldo的上电检测和自动重启，避免了mcu因第一ldo上电异常而整体重启的问题，进而提高了mcu的工作效率。
6、根据本专利技术的一个实施例，上电状态信号包括第一上电完成信号和第一上电未完成信号，第一电压检测电路具体用于：在第一电压小于第一预设电压阈值时，输出第一上电未完成信号；在第一电压大于等于第一预设电压阈值时，输出第一上电完成信号。
7、根据本专利技术的一个实施例，上电检测电路包括：第一预设计数器，用于存储第一预设计数值；第一计数器，第一计数器的使能端与状态控制器相连，用于在状态控制器的控制下进行计数并输出第一计数值；第一比较器，第一比较器的两个输入端分别与第一预设计数器和第一计数器的输出端对应相连，用于比较第一预设计数值和第一计数值，并输出第一比较信号；第一与门，第一与门的两个输入端分别与第一比较器的输出端和第一电压检测电路对应相连，第一与门的输出端与请求电路相连，用于基于第一比较信号和上电状态信号输出上电检测信号。
8、根据本专利技术的一个实施例，第一计数器的清零端与状态控制器相连，用于在状态控制器的控制下对第一计数值清零。
9、根据本专利技术的一个实施例，请求电路包括：第一触发器，第一触发器的输入端与上电检测电路相连，第一触发器的清零端与延时重启电路相连，第一触发器的输出端与状态控制器相连，用于基于上电检测信号确定第一ldo未在第一预设时间内完成上电且未接收到延时重启信号时，输出延时重启请求信号，以及在接收到延时重启信号时，输出重启请求信号。
10、根据本专利技术的一个实施例，延时重启电路包括：第二预设计数器，用于存储第二预设计数值；第二计数器，第二计数器的使能端与状态控制器相连，用于在状态控制器的控制下进行计数并输出第二计数值；第二比较器，第二比较器的两个输入端分别与第二预设计数器和第二计数器的输出端对应相连，用于比较第二预设计数值和第二计数值，并输出第二比较信号，第二比较信号包括延时重启信号。
11、根据本专利技术的一个实施例，第二计数器的清零端与第二比较器的输出端相连，用于基于第二比较信号对第二计数值清零。
12、根据本专利技术的一个实施例，上电自检电路还包括：重启次数检测电路，重启次数检测电路与第一触发器的输出端相连，用于基于延时重启请求信号输出第一ldo的重启次数检测信号；报警电路，报警电路与重启次数检测电路相连，用于基于重启次数检测信号确定第一ldo的重新上电次数，并在重新上电次数达到预设次数阈值时，输出报警信号；延时重启电路与报警电路相连，用于基于报警信号停止输出延时重启信号。
13、根据本专利技术的一个实施例，重启次数检测电路包括：第二触发器，第二触发器的输入端与第一触发器的输出端相连，第二触发器的输出端与报警电路相连，用于在检测到第一触发器的输出信号切换至延时重启请求信号时，输出重启次数检测信号。
14、根据本专利技术的一个实施例，报警电路包括：第三预设计数器，用于存储第三预设计数值；第三计数器，第三计数器的使能端与重启次数检测电路相连，用于在重启次数检测信号的控制下进行计数并输出第三计数值；第三比较器，第三比较器的两个输入端分别与第三预设计数器和第三计数器的输出端对应相连，用于比较第三预设计数值和第三计数值，并输出第三比较信号，第三比较信号包括报警信号。
15、根据本专利技术的一个实施例，延时重启电路还包括：反相器，反相器的输入端与第三比较器的输出端相连，用于对第三比较信号进行反相；第二与门，第二与门的两个输入端分别与反相器的输出端和第二比较器的输出端对应相连，用于基于反相后的第三比较信号和第二比较信号输出延时重启信号或停止输出延时重启信号。
16、根据本专利技术的一个实施例，报警电路还与mcu的外部电源管理模块相连，用于将报警信号传输至外部电源管理模块，以便外部电源管理模块基于报警信号确定是否控制mcu的外部电源给mcu供电，以使第一ldo重新上电。
1本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种MCU上电自检电路，其特征在于，所述MCU包括用于给内核供电的第一LDO，所述上电自检电路包括：第一电压检测电路、上电检测电路、请求电路、延时重启电路和状态控制器，所述第一电压检测电路分别与所述第一LDO和所述上电检测电路相连，所述请求电路分别与所述上电检测电路、所述延时重启电路和所述状态控制器相连，所述状态控制器分别与所述第一LDO、所述第一电压检测电路、所述上电检测电路和所述延时重启电路相连，其中，
2.根据权利要求1所述的电路，其特征在于，所述上电状态信号包括第一上电完成信号和第一上电未完成信号，所述第一电压检测电路具体用于：
3.根据权利要求1所述的电路，其特征在于，所述上电检测电路包括：
4.根据权利要求3所述的电路，其特征在于，所述第一计数器的清零端与所述状态控制器相连，用于在所述状态控制器的控制下对所述第一计数值清零。
5.根据权利要求1所述的电路，其特征在于，所述请求电路包括：第一触发器，所述第一触发器的输入端与所述上电检测电路相连，所述第一触发器的清零端与所述延时重启电路相连，所述第一触发器的输出端与所述状
6.根据权利要求5所述的电路，其特征在于，所述延时重启电路包括：
7.根据权利要求6所述的电路，其特征在于，所述第二计数器的清零端与所述第二比较器的输出端相连，用于基于所述第二比较信号对所述第二计数值清零。
8.根据权利要求6所述的电路，其特征在于，所述上电自检电路还包括：
9.根据权利要求8所述的电路，其特征在于，所述重启次数检测电路包括：第二触发器，所述第二触发器的输入端与所述第一触发器的输出端相连，所述第二触发器的输出端与所述报警电路相连，用于在检测到所述第一触发器的输出信号切换至所述延时重启请求信号时，输出所述重启次数检测信号。
10.根据权利要求8所述的电路，其特征在于，所述报警电路包括：
11.根据权利要求10所述的电路，其特征在于，所述延时重启电路还包括：
12.根据权利要求8所述的电路，其特征在于，所述报警电路还与所述MCU的外部电源管理模块相连，用于将所述报警信号传输至所述外部电源管理模块，以便所述外部电源管理模块基于所述报警信号确定是否控制所述MCU的外部电源给所述MCU供电，以使所述第一LDO重新上电。
13.根据权利要求3、6或10所述的电路，其特征在于，所述状态控制器还用于向各预设计数器写入相应的预设计数值。
14.根据权利要求8所述的电路，其特征在于，所述上电自检电路还包括：第二LDO、第二电压检测电路和时钟电路，
15.一种芯片，其特征在于，包括：
16.一种电子设备，其特征在于，包括根据权利要求1-14任一项所述的MCU上电自检电路，或者根据权利要求15所述的芯片。
...【技术特征摘要】
1.一种mcu上电自检电路，其特征在于，所述mcu包括用于给内核供电的第一ldo，所述上电自检电路包括：第一电压检测电路、上电检测电路、请求电路、延时重启电路和状态控制器，所述第一电压检测电路分别与所述第一ldo和所述上电检测电路相连，所述请求电路分别与所述上电检测电路、所述延时重启电路和所述状态控制器相连，所述状态控制器分别与所述第一ldo、所述第一电压检测电路、所述上电检测电路和所述延时重启电路相连，其中，
2.根据权利要求1所述的电路，其特征在于，所述上电状态信号包括第一上电完成信号和第一上电未完成信号，所述第一电压检测电路具体用于：
3.根据权利要求1所述的电路，其特征在于，所述上电检测电路包括：
4.根据权利要求3所述的电路，其特征在于，所述第一计数器的清零端与所述状态控制器相连，用于在所述状态控制器的控制下对所述第一计数值清零。
5.根据权利要求1所述的电路，其特征在于，所述请求电路包括：第一触发器，所述第一触发器的输入端与所述上电检测电路相连，所述第一触发器的清零端与所述延时重启电路相连，所述第一触发器的输出端与所述状态控制器相连，用于基于所述上电检测信号确定所述第一ldo未在第一预设时间内完成上电且未接收到所述延时重启信号时，输出延时重启请求信号，以及在接收到所述延时重启信号时，输出重启请求信号。
6.根据权利要求5所述的电路，其特征在于，所述延时重启电路包括：
7.根据权利要求6所述的电路，其特征在于，所述...
【专利技术属性】
技术研发人员：陈岗，陈诗卓，张曼蓉，周小鹏，
申请(专利权)人：苏州萨沙迈半导体有限公司，
类型：发明
国别省市：
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