System.ArgumentOutOfRangeException: 索引和长度必须引用该字符串内的位置。 参数名: length 在 System.String.Substring(Int32 startIndex, Int32 length) 在 zhuanliShow.Bind()
【技术实现步骤摘要】
所属的技术人员能够理解,本专利技术的各个方面可以实现为系统、方法或程序产品。因此,本专利技术的各个方面可以具体实现为以下形式,即:完全的硬件实施方式、完全的软件实施方式(包括固件、微代码等),或硬件和软件方面结合的实施方式,这里可以统称为“电路”、“模块”或“系统”。下面参照图6来描述根据本专利技术的这种实施方式的电子设备600。图6显示的电子设备600仅仅是一个示例,不应对本专利技术实施例的功能和使用范围带来任何限制。如图6所示,电子设备600以通用计算设备的形式表现。电子设备600的组件可以包括但不限于:上述至少一个处理单元610、上述至少一个存储单元620、连接不同系统组件(包括存储单元620和处理单元610)的总线630、显示单元640。其中,所述存储单元620存储有程序代码,所述程序代码可以被所述处理单元610执行,使得所述处理单元610执行本说明书上述“示例性方法”部分中描述的根据本专利技术各种示例性实施方式的步骤。例如,所述处理单元610可以执行如图1中所示的步骤s110,向存储芯片发送模式寄存器写入命令,控制存储芯片进入读写时钟均衡测试模式;步骤s120,设定第一预设时间,等待第一预设时间后,向存储芯片发送读写时钟信号;步骤s130,根据第一预设时间和系统时钟周期,确定读写时钟均衡的预测值;步骤s140,发完读写时钟后等待第二预设时间,检测存储芯片的测试数据输出端口,获取测试值;步骤s150,比较测试值和预测值,判断存储芯片是否存在异常。存储单元620可以包括易失性存储单元形式的可读介质,例如随机存取存储单元(ram)6201和/或高速
技术介绍
1、动态随机存取存储器(dynamic random access memory,dram)是计算机中常用的半导体存储器件,由于具有结构简单,密度高,功耗低,价格低廉等优点,在计算机领域和电子行业中受到了广泛的应用。<本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种存储芯片测试方法,其特征在于,所述方法包括:
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述设定第一预设时间,包括:
3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述根据所述第一预设时间和系统时钟周期,确定所述读写时钟均衡的预测值,包括:
4.根据权利要求2或3所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:
5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述比较所述测试值和所述预测值,判断所述存储芯片是否存在异常,包括:
6.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述读写时钟信号为包含7.5个周期长度的读写时钟信号。
7.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述第二预设时间小于或等于20ns。
8.一种存储芯片测试装置,其特征在于,所述装置包括:
9.根据权利要求8所述的装置,其特征在于,所述信号发送模块,用于设定所述第一预设时间的长度tWCKIS满足tWCKIS=N*tCK+tis,其中,tCK为所述系统时钟周期,N为正整数,tis为剩余时间,所述剩余时间的截止时间点处于tCK的非上升
10.根据权利要求9所述的装置,其特征在于,所述预测值确定模块,用于将处于所述剩余时间的截止时间点时对应的tCK的值作为所述预测值。
11.根据权利要求9或10所述的装置,其特征在于,所述预测值确定模块,用于当tis>tCK*5/8且tis<tCK*7/8时,确定所述预测值为0;当tis>tCK/8且tis<tCK*3/8时,确定所述预测值为1。
12.根据权利要求8所述的装置,其特征在于,所述判定模块,用于如果所述测试值和所述预测值不一致,则判定所述存储芯片存在异常。
13.根据权利要求8所述的装置,其特征在于,所述读写时钟信号为包含7.5个周期长度的读写时钟信号。
14.根据权利要求8所述的装置,其特征在于,所述第二预设时间小于或等于20ns。
15.一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,其特征在于,所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求1-7中任意一项所述的存储芯片测试方法。
16.一种电子设备,其特征在于,包括:
...【技术特征摘要】
1.一种存储芯片测试方法,其特征在于,所述方法包括:
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述设定第一预设时间,包括:
3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述根据所述第一预设时间和系统时钟周期,确定所述读写时钟均衡的预测值,包括:
4.根据权利要求2或3所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:
5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述比较所述测试值和所述预测值,判断所述存储芯片是否存在异常,包括:
6.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述读写时钟信号为包含7.5个周期长度的读写时钟信号。
7.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述第二预设时间小于或等于20ns。
8.一种存储芯片测试装置,其特征在于,所述装置包括:
9.根据权利要求8所述的装置,其特征在于,所述信号发送模块,用于设定所述第一预设时间的长度twckis满足twckis=n*tck+tis,其中,tck为所述系统时钟周期,n为正整数,tis为剩余时间,所述剩余时间的截止时间点处于t...
【专利技术属性】
技术研发人员:赵北游,李钰,史腾,
申请(专利权)人:长鑫存储技术有限公司,
类型:发明
国别省市:
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。