【技术实现步骤摘要】
本申请涉及芯片验证，特别是涉及一种ecc功能测试方法、装置、电子设备及存储介质。
技术介绍
1、静态随机存取存储器(static random access memory，sram)作为一种ram，可以用于存储数据，而sram中的数据一旦出错，会对芯片造成不可挽回的损失。因此在对sram进行读写操作时，可以通过纠错码(error correcting code，ecc)算法对sram中的数据进行校验，判断sram中的数据是否发生错误。对于sram中的数据的单比特错误，采用ecc算法可以自动对错误进行纠正；对于双比特错误，采用ecc算法可以对错误进行上报，以便于验证工程师及时发现sram中的错误数据，避免对芯片造成损失。由于sram对数据可靠性要求严格，ecc算法已经成为对sram进行数据校验的标准校验算法，且已被广泛使用。在此基础上，为了保证sram中的ecc功能正常，对ecc功能测试显得愈发重要。
2、而现有技术中，验证工程师需要在sram验证周期中额外针对每种ecc功能开发测试用例，进而对ecc功能进行逐项验证，人力成本...
【技术保护点】
1.一种ECC功能测试方法，其特征在于，应用于ECC序列组件，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述判断是否需要对所述写操作对应的写数据进行注错之后，所述方法还包括：
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述判断是否需要对所述写操作对应的写数据进行注错之前，所述方法还包括：
4.根据权利要求2或3所述的方法，其特征在于，所述基于记录的各写地址对应的ECC纠错结果和正确的写数据验证ECC功能是否正常，包括：
5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述基于所述注错类型和所述响应方式验证所...
【技术特征摘要】
1.一种ecc功能测试方法，其特征在于，应用于ecc序列组件，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述判断是否需要对所述写操作对应的写数据进行注错之后，所述方法还包括：
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述判断是否需要对所述写操作对应的写数据进行注错之前，所述方法还包括：
4.根据权利要求2或3所述的方法，其特征在于，所述基于记录的各写地址对应的ecc纠错结果和正确的写数据验证ecc功能是否正常，包括：
5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述基于所述注错类型和所述响应方式验证所述待测sram中针对该写地址的中断信号是否符合所述响应方式，包括：
6.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述基于所述注错类型和所述纠错方式验证从该写地址读取出的数据与正确的写数据之间的关系是否正确，包括：
7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述记录ecc纠错结果之后，所述方法还包括：
8.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述基于记录的各写地址对应的ecc纠错结果和正确的写...
【专利技术属性】
技术研发人员：黄倩，杜昊，
申请(专利权)人：新华三半导体技术有限公司，
类型：发明
国别省市：
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