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本申请实施例提供了一种ECC功能测试方法、装置、电子设备及存储介质，涉及芯片验证技术领域，该方法包括：在监测到场景类序列组件对待测SRAM的写操作时，判断是否需要对写操作对应的写数据进行注错，场景类序列组件为用于对待测SRAM进行业务功能仿...
该专利属于新华三半导体技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过新华三半导体技术有限公司授权不得商用。

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