光盘装置、信息处理装置、光盘处理方法和信息处理方法制造方法及图纸

本发明专利技术涉及一种光盘装置、信息处理装置、光盘处理方法和信息处理方法。本发明专利技术的光盘装置，对记录于记录介质的规定信息进行处理，具备：读取机构，读取所述规定信息；特性判别机构，对所述记录介质的反射特性进行判别；和处理机构，根据判别出的所述反射特性处理所述规定信息。所述反射特性，是指由所述记录介质的记录完毕区域反射的光的反射率即第一反射率大于由所述记录介质的未记录区域反射的光的反射率即第二反射率的第一特性、和所述第一反射率小于所述第二反射率的第二特性中的一方，所述处理机构包括极性反转机构，该极性反转机构按照所判别出的所述反射特性来反转所述规定信息的极性。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及。
技术介绍
近年来，进行着大容量的信息通信。其结果，与大容量的光盘相关的开发正在不断发展。光盘例如包括CD(Compact Disc)、LD(Laser Disc)、DVD(Digital Versatile Disc)。 光盘中，在形成了表示信息的凹凸图案(例如凹坑(dot)、凹槽(groove))的透明基板上形成有由金属薄膜(例如铝)构成的反射膜，通过检测出光的反射大小(level)来进行信息的再生。 在记录型光盘中，通过记录膜的相变化形成反射率不同的特性图案。由于光盘装置只要读取非晶质一结晶质的反射率变化即可，所以，能够简单地得到光盘装置的光学系统的结构。 光盘装置通过检测出多个记录部和多个未记录部之间的反射大小，来再生基于相变化而被记录的信息。因此，光盘中存在着具有下述两种特性的光盘，所述两种特性是指由多个记录部反射的光的反射率比由多个未记录部反射的光的反射率大的特性(LtoH特性)、和由多个记录部反射的光的反射率比由多个未记录部反射的光的反射率小的特性(HtoL特性)。 图7表示形成于光盘的多个记录标记与光盘反射的光的反射大小的关系。图7A表示在具有HtoL特性的光盘中形成的多个记录标记和由具有HtoL特性的光盘反射的光的反射大小的关系。图7B表示在具有LtoH特性的光盘中形成的多个记录标记和由具有LtoH特性的光盘反射的光的反射大小的关系。 在具有HtoL特性的光盘(HtoL型光盘)中，形成有光的反射率为1％左右的非晶质部(记录部例如记录标记)。HtoL型光盘的结晶部(未记录部例如间隙(space))其光的反射率为15～25％。在具有LtoH特性的光盘(LtoH型光盘)中，形成有光的反射率为20～30％的非晶质部(记录部例如记录标记)。LtoH型光盘的结晶部(未记录部例如间隙)其光的反射率为3～10％(参照图7B)。 由于在HtoL型光盘中未记录部的反射率大，所以，聚焦与追踪容易，但由于光的平均反射率大，所以噪声比LtoH型光盘大。 在LtoH型光盘中，由于光的平均反射率小，所以噪声比HtoL型光盘小，但由于未记录部的反射率小，所以聚焦与追踪困难。 在专利文献1中记载了HtoL型光盘和LtoH型光盘相关的内容。 专利文献1特开2003-323744号公报 但是，由于光盘装置无法判别插入到光盘装置的光盘是HtoL型光盘还是LtoH型光盘，所以，在将LtoH型光盘插入到对应于HtoL型光盘的光盘装置时、和将HtoL型光盘插入到对应于LtoH型光盘的光盘装置时，会产生以下(1)～(4)所示的问题。 (1)由于HtoL型光盘和LtoH型光盘，其由记录标记反射的反射光的极性以及由间隙反射的反射光的极性相反，所以，在HtoL型光盘和LtoH型光盘中，边缘检测、不对称检测或β值检测中的检测值的极性(正负)相反。 (2)无法恰当地检测出光盘的缺陷部分(例如因附着于光盘的垃圾、污垢等而几乎不反射光的部分)。 (3)无法在HtoL型光盘对应的调制度测定方法中，以LtoH型光盘为对象，适当地测定调制度。 (4)在将LtoH型光盘插入到与HtoL型光盘对应的装置时，有时会超过装置的LSI的动态范围的上限。这是因为LtoH型光盘中光的反射大小比HtoL型光盘中光的反射大小大。
技术实现思路
本专利技术鉴于上述问题而提出，其目的在于，提供一种与记录介质的反射特性(是HtoL型还是LtoH型的特性)无关，能够恰当地处理记录于记录介质的信息的信息处理装置、具备该信息处理装置的存取装置、通过该存取装置而进行存取的记录介质、和其信息处理方法以及信息处理程序。 本专利技术的第一方案提供一种光盘装置，对记录于记录介质的规定信息进行处理，具备 读取机构，读取所述规定信息； 特性判别机构，对所述记录介质的反射特性进行判别；和 处理机构，根据判别出的所述反射特性处理所述规定信息， 所述反射特性，是指由所述记录介质的记录完毕区域反射的光的反射率即第一反射率大于由所述记录介质的未记录区域反射的光的反射率即第二反射率的第一特性、和所述第一反射率小于所述第二反射率的第二特性中的一方， 所述处理机构包括极性反转机构，该极性反转机构按照所判别出的所述反射特性来反转所述规定信息的极性。 本专利技术的第二方案提供一种信息处理装置，对记录于记录介质的规定信息进行处理，具备 特性判别机构，对所述记录介质的反射特性进行判别；和 处理机构，根据判别出的所述反射特性处理所述规定信息， 所述反射特性，是指由所述记录介质的记录完毕区域反射的光的反射率即第一反射率大于由所述记录介质的未记录区域反射的光的反射率即第二反射率的第一特性、和所述第一反射率小于所述第二反射率的第二特性中的一方， 所述处理机构包括极性反转机构，该极性反转机构按照所判别出的所述反射特性来反转所述规定信息的极性。 本专利技术的第三方案提供一种光盘处理方法，对记录于记录介质的规定信息进行处理，具备 读取步骤，读取所述规定信息； 特性判别步骤，对所述记录介质的反射特性进行判别；和 处理步骤，根据判别出的所述反射特性处理所述规定信息， 所述反射特性，是指由所述记录介质的记录完毕区域反射的光的反射率即第一反射率大于由所述记录介质的未记录区域反射的光的反射率即第二反射率的第一特性、和所述第一反射率小于所述第二反射率的第二特性中的一方， 所述处理步骤包括极性反转步骤，该极性反转步骤按照所判别出的所述反射特性来反转所述规定信息的极性。 本专利技术的第四方案提供一种信息处理方法，对记录于记录介质的规定信息进行处理，具备 特性判别步骤，对所述记录介质的反射特性进行判别；和 处理步骤，根据判别出的所述反射特性处理所述规定信息， 所述反射特性，是指由所述记录介质的记录完毕区域反射的光的反射率即第一反射率大于由所述记录介质的未记录区域反射的光的反射率即第二反射率的第一特性、和所述第一反射率小于所述第二反射率的第二特性中的一方， 所述处理步骤包括极性反转步骤，该极性反转步骤按照所判别出的所述反射特性来反转所述规定信息的极性。 本专利技术的信息处理装置对记录于记录介质的规定信息进行处理，具备特性判别机构和处理机构。特性判别机构判别记录介质的反射特性。处理机构根据判别后的反射特性处理规定信息。这里，反射特性是指由记录介质的记录完毕区域反射的光的反射率(下面称作第一反射率)比由记录介质的未记录区域反射的光的反射率(下面称作第二反射率)大的第一特性、和第一反射率小于第二反射率的第二特性中的一方。 信息处理装置判别记录介质的反射特性，并根据该反射特性处理记录于记录介质的规定信息。因此，能够与记录介质的反射特性无关地恰当处理记录于记录介质的信息。 另外，上述以及后述的规定信息例如包括声音或影像、其他数据等的用户信息、用于暂时记录特定的信息来进行记录学习的写入信息。 特性判别机构也可以根据特性信息，即记录于记录介质的表示第一特性和第二特性中至少任意一方的信息，判别反射特性。 而且，记录介质可以具有多个记录层，对与多个记录层的各自反射特性对应的特性信息进行记录。 或者，特性判别机构可以根据由记录介质反射的光的反射大小，判别反射特性。 处理机构可以包括本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种记录介质，该记录介质再生光学信息，其特征在于，具有特性信息保持区域，该特性信息保持区域记录表示所述记录介质的特性的特性信息，所述特性信息表示以下信息：所述记录介质是具有由所述记录介质的记录完毕区域反射的光的反射率、即第一反射率大于由所述记录介质的未记录区域反射的光的反射率、即第二反射率的第一特性的记录介质，或者所述记录介质是具有所述第一反射率小于所述第二反射率的第二特性的记录介质。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：宫下晴旬，南野顺一，中岛键，
申请(专利权)人：松下电器产业株式会社，
类型：发明
国别省市：JP[日本]