【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种硅铁中元素的检测方法，具体的说，是一种硅铁中元素含量的检测方法，属于化学检测。
技术介绍
1、硅铁是钢铁冶炼过程中重要合金原料，常规检测硅铁中各种元素的方法主要是湿法化学、x荧光校正曲线法、国家标准方法。
2、《gb/t 433.5-2016硅铁硅、锰、铝、钙、铬和铁含量的测定波长色散x射线荧光光谱法(熔铸玻璃片法)》，该标准对硅铁中的硅、钙、铝、锰、铬等组分进行检测，方法分为：第一步：试样预氧化；第二步：试样熔融。过程操作繁琐，对实验员技术水平要求高，预氧化过程操作不慎会导致坩埚腐蚀。
3、专利公开号cn104569018a公开了x-射线荧光光谱法测定硅铁、硅铝钡钙中合金元素含量方法，首先试样氧化熔融，随后样片熔制，之后绘制曲线，最后测定试样。试样预氧化过程繁琐，操作不慎会腐蚀坩埚。专利公开号cn106706689a公开了高碳铬铁或硅铁中磷含量的x射线荧光压片检测方法，试样通过压片后，对多个标准样品进行强度分析，接着绘制工作曲线或计算工作曲线方程，随后对试样进行磷元素含量的检测，方法只检测了磷...
【技术保护点】
1.一种X射线荧光无标样快速分析硅铁中多种元素的方法，其特征在于，包括如下步骤：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，步骤一中，样品与淀粉的质量比为2:1-6:1。
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，步骤一中，将样品研磨至150-200目。
4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，步骤一中，所述干燥的条件为：温度105℃，时间1小时。
5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，步骤二中，所述样片制作具体为：
6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述步骤(2)中，标准样品中的各成分含量需要
【技术特征摘要】
1.一种x射线荧光无标样快速分析硅铁中多种元素的方法，其特征在于，包括如下步骤：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，步骤一中，样品与淀粉的质量比为2:1-6:1。
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，步骤一中，将样品研磨至150-200目。
4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，步骤一中，所...
【专利技术属性】
技术研发人员：唐语，李德强，王亚朋，张鲁宁，胡维铸，
申请(专利权)人：本钢板材股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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