【技术实现步骤摘要】
本申请涉及半导体激光器检测，尤其涉及一种半导体激光器良率生成方法、系统、电子设备及存储介质。
技术介绍
1、半导体激光器(ld，laser diode)，又称激光二极管，是用半导体材料作为工作物质的激光器，其具有体积小、重量轻、电光转换效率高、可靠性高和寿命长等优点，在工业加工、生物医疗和国家防御等领域具有重要的应用。
2、相关技术中，半导体激光器在cos(chip on submount)封装良率测试时，cos测试的各个工序均需要依赖人工来进行操作记录，其不仅效率较低，同时在记录过程中极易出现记录失误。
技术实现思路
1、针对现有技术的不足，本申请实施例提供了一种半导体激光器良率生成方法、系统、电子设备及存储介质，旨在解决现有技术中半导体激光器cos封装良率测试需要依赖人工操作记录，而导致效率较低，易出现失误的技术问题。
2、为解决上述问题，第一方面，本申请实施例提供了一种半导体激光器良率生成方法，其包括：
3、获取来料的半导体激光器的良品数量、芯片类...
【技术保护点】
1.一种半导体激光器良率生成方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的半导体激光器良率生成方法，其特征在于，在所述确定所述来料的半导体激光器是否存在在制品之后，还包括：
3.根据权利要求1所述的半导体激光器良率生成方法，其特征在于，在所述获取来料的半导体激光器的良品数量、芯片类型以及所述半导体激光器当前的第一测试数量之后，还包括：
4.根据权利要求3所述的半导体激光器良率生成方法，其特征在于，所述根据所述第二测试信息生成所述来料的半导体激光器的偏振度良率或/和发射角良率，包括：
5.根据权利要求4所述的半导体激光...
【技术特征摘要】
1.一种半导体激光器良率生成方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的半导体激光器良率生成方法，其特征在于，在所述确定所述来料的半导体激光器是否存在在制品之后，还包括：
3.根据权利要求1所述的半导体激光器良率生成方法，其特征在于，在所述获取来料的半导体激光器的良品数量、芯片类型以及所述半导体激光器当前的第一测试数量之后，还包括：
4.根据权利要求3所述的半导体激光器良率生成方法，其特征在于，所述根据所述第二测试信息生成所述来料的半导体激光器的偏振度良率或/和发射角良率，包括：
5.根据权利要求4所述的半导体激光器良率生成方法，其特征在于，所述根据所述第二测试信息、所述第三测试信息生成所述来料的半导体激光器的偏振度良率，包括：
6.根据权利要求1...
【专利技术属性】
技术研发人员：朱玉芹，叶杨椿，王利娟，曾科，王明，李霞，刘洋，
申请(专利权)人：武汉锐科光纤激光技术股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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