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本申请实施例公开了一种半导体激光器良率生成方法、系统、电子设备及存储介质。该方法包括：获取来料的半导体激光器的良品数量、芯片类型以及所述半导体激光器当前的第一测试数量；若所述第一测试数量小于所述良品数量，确定所述来料的半导体激光器是否存在在...
该专利属于武汉锐科光纤激光技术股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过武汉锐科光纤激光技术股份有限公司授权不得商用。

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