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用于识别异物的设备和方法技术

技术编号:39976556 阅读:23 留言:0更新日期:2024-01-09 01:11
公开了用于识别异物的设备和方法。提供了用于从现有的材料样品的集合识别生产线中的异物的设备和计算机实施的方法,其中,材料样品的化学分析数据是已知的并且被存储在存储器中。该方法包括检索异物的化学分析数据,并且基于检索到的异物的化学分析数据和所存储的材料样品的化学分析数据,计算与异物相结合的每个材料样品的第一值、第二值和第三值。该方法还包括基于第一值、第二值和第三值来计算每个材料样品的相似度分数;由此,通过具有最高的相似度分数的材料样品识别异物。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及识别生产线中的异物。具体地,本专利技术涉及印刷电路板(pcb)和基板行业中的材料标识。


技术介绍

1、在生产线中,通常以串行方式执行多个步骤,其中要生产或要加工的物体在多个加工工位之间运输。可能发生工位不正确地工作或者传送路线不是最优的。在这些情况或其他情况下,来自工具、外壳、传送介质或不属于物体的部分的其他来源的材料可能被引入到物体上。这种材料被认为是异物,即,不是物体的部分,并且被视为是污染。

2、通常,仅在生产线末端在质量控制点处检测这种污染。质量控制点也可以在生产线的工位之间,但由于质量控制所需的时间和劳力,通常在每个工位之后没有控制质量。

3、生产线是普遍存在的,并且例如,被用于食品制造和加工、液体装瓶、电子部件(比如印刷电路板)的制造、汽车组装线等以及许多其他预期用途。

4、根据现有技术,例如,通过傅里叶变换红外光谱法(ftir)和能量色散x射线光谱法(edx)收集并检查异物的样品。

5、us 2018/150616 a1描述了具有参考物质数据库的样品分析系统,该参考物质数据库包括通本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种用于从现有的材料样品的集合识别生产线中的异物的计算机实施的方法(100),其中,材料样品的化学分析数据是已知的并且被存储在存储器中,所述方法包括:

2.根据前述权利要求中任一项所述的方法(100),还包括将识别出的异物与存储在数据库中的信息进行比较(140),其中,所述信息指示生产线的部件、以及构成部件和/或在对应的部件处使用的材料,由此确定在哪些部件处引入了异物。

3.根据前述权利要求中任一项所述的方法(100),其中,

4.根据权利要求3所述的方法(100),还包括评估(150)指示所述碳氧比的比率的值,以确定异物是否由不同材料的混合物构成...

【技术特征摘要】

1.一种用于从现有的材料样品的集合识别生产线中的异物的计算机实施的方法(100),其中,材料样品的化学分析数据是已知的并且被存储在存储器中,所述方法包括:

2.根据前述权利要求中任一项所述的方法(100),还包括将识别出的异物与存储在数据库中的信息进行比较(140),其中,所述信息指示生产线的部件、以及构成部件和/或在对应的部件处使用的材料,由此确定在哪些部件处引入了异物。

3.根据前述权利要求中任一项所述的方法(100),其中,

4.根据权利要求3所述的方法(100),还包括评估(150)指示所述碳氧比的比率的值,以确定异物是否由不同材料的混合物构成。

5.根据前述权利要求中任一项所述的方法(100),其中,所述方法还包括:

6.根据前述权利要求中任一项所述的方法(100),其中,所述方法还包括通过采取预筛选测量来对异物进行预筛选(170),所述预筛选测量指示异物的有机含量和无机含量以及异物是否是不同材料的混合物。

7.根据前述权利要求中任一项所述的方法(100),其中,材料样品和异物的化学分析数据表示以下中的一个或多个的数据和/或其中预筛选(170)通过以下中的一个或多个执行:

8.根据前述权利要求中任一项所述的方法(100),其中,计算(120)第一值、第二值和第三值由来自以下组的函数执行:杰卡德系数、曼哈顿距离、碳氧比、皮尔森系数、斯皮尔曼等级相关系数、肯德尔等级相关系数、戴斯系数、辛普森系数、欧几里德距离、切比雪夫距离、闵可夫斯基距离。

9.根据前述权利要求中任一项所述的方法(100),其中,计算(120)第一值使用辛普森系数、杰卡德系数和戴斯系数中的一个。

10.根据前述权利要求中任一项所述的方法(100),其中,...

【专利技术属性】
技术研发人员:高晓磊M·里德勒胡阳魏文静谢忠强S·韦莱斯
申请(专利权)人:ATampS奥地利科技及系统技术股份公司
类型:发明
国别省市:

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