【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于电子芯片测试,尤其涉及一种可调式半导体芯片测试座。
技术介绍
1、测试座是一种半导体芯片测试所使用的工具,将芯片定位后通过线路板与外部检测设备传送电信号从而达到检验测试效果。为保证半导体芯片的电性能质量需要大量使用测试座进行测试。
2、现有的芯片测试座只能测试单一规格的芯片,这样,在面对不同规格芯片时,需要设计不同尺寸的测试座,灵活性差。
技术实现思路
1、本技术针对以上问题,提供了一种结构简单,方便调整,提高适应性的可调式芯片测试座。
2、本技术的技术方案为:一种可调式芯片测试座,包括顶部开口的壳体;还包括限位件、测试爪和垫块;
3、所述限位件、测试爪和垫块分别设在壳体内,
4、所述壳体的中间设有限位件垫、四周设有连接柱,
5、所述限位件连接在限位件垫上,所述限位件用于放置芯片,所述芯片的引脚用于接触限位件内的金属块;
6、所述垫块的中心具有中孔,四周具有垫块连接孔,所述限位件位于垫块的中孔内,所述垫块连接孔与连接柱上的连接柱孔一一对应连接;
7、所述测试爪设在垫块上,所述测试爪的内侧设有接触脚、外侧设有引线,所述接触脚用于金属块,所述引线用于伸出壳体;
8、所述测试爪上设有定位孔,所述垫块上设有长条形定位槽,所述定位孔与定位槽相对应。
9、所述金属块具有一对,所述测试爪具有一对,所述金属块和测试爪一一对应。
10、所述限位件包括限位件底座和定位座
11、所述定位座内设有凹槽,所述金属块位于凹槽的底部、且伸出定位座。
12、还包括壳盖,所述壳盖连接在壳体的顶部,形成外壳;所述壳盖的中心设有穿孔,所述限位件位于穿孔内。
13、本技术在工作中,在壳体内设置限位件、测试爪和垫块,限位件用于放置芯片,同时,限位件内设置金属块,便于与测试爪的接触脚连接;再通过引线连接外部电路,便于测试。
14、由于垫块上设有长条形槽,这样,测试爪便于调整位置,从而适应不同的限位件,提高适应性。
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1.一种可调式芯片测试座,包括顶部开口的壳体;其特征在于,还包括限位件、测试爪和垫块;
2.根据权利要求1所述的一种可调式芯片测试座,其特征在于,所述金属块具有一对,所述测试爪具有一对,所述金属块和测试爪一一对应。
3.根据权利要求1或2所述的一种可调式芯片测试座,其特征在于,所述限位件包括限位件底座和定位座,所述定位座设在限位件底座上,
4.根据权利要求1所述的一种可调式芯片测试座,其特征在于,还包括壳盖,所述壳盖连接在壳体的顶部,形成外壳;所述壳盖的中心设有穿孔,所述限位件位于穿孔内。
【技术特征摘要】
1.一种可调式芯片测试座,包括顶部开口的壳体;其特征在于,还包括限位件、测试爪和垫块;
2.根据权利要求1所述的一种可调式芯片测试座,其特征在于,所述金属块具有一对,所述测试爪具有一对,所述金属块和测试爪一一对应。
3.根据权利要求1或2所述...
【专利技术属性】
技术研发人员:陈睿韬,王勇,刘兰芳,袁振东,陈明,尹志坚,吴燚,王标,王毅,
申请(专利权)人:扬州扬杰电子科技股份有限公司,
类型:新型
国别省市:
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