【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及光触媒检测，具体是一种基于光触媒覆膜层检测系统及方法。
技术介绍
1、光触媒技术是一种新型的空气净化技术，可通过向特殊材料表面施加光触媒达到对有害气体分解净化的作用。光触媒覆膜层是光触媒技术中的一种重要组成部分，常被广泛应用于建筑物内部、人员密集场所以及车辆等空气净化设备中。由于其表面秉承有光触媒，能够降解空气中的有害物质，有效清除空气中的污染物，因此应用场景非常广泛。
2、其中，光触媒覆膜层的检测和监管尤其重要。光触媒覆膜层表面的反应和光催化降解有害物质的效果和寿命与其质量、成分和制备方法等因素密切相关。合格的光触媒覆膜层可以有效减少空气污染物，保障人们的身体健康和舒适。相反，低质量、劣质的覆膜层不仅不能有效减少污染物，而且可能会被污染物所反作用，降低净化效果，甚至存在健康风险，造成巨大的财产损失和人身伤害。
3、在此背景下，光触媒覆膜层检测的主要弊端包括以下方面：
4、1.检测成本高昂，需要耗费大量人力、物力和财力。
5、2.非破坏性检测方法的准确度较低，需要通过连续性检...
【技术保护点】
1.一种光触媒覆膜层检测系统，包括采集模块、光照模块、存储模块、处理模块和显示模块；其特征在于：
2.根据权利要求1所述的一种光触媒覆膜层检测系统，其特征在于：所述采集模块包括光度单元、相位单元、厚度单元、粒度单元和粗糙度单元，所述光度单元用于检测光触媒覆膜层的光催化性能，所述相位单元用于检测涂层的厚度及涂层与基底的附着力，所述厚度单元用于测量光触媒薄膜的厚度，所述粒度单元用于获取光触媒中的微观颗粒的粒径、形状和分布信息，所述粗糙度单元用于检测涂层表面的粗糙度；所述表面形态参数信息包括粗糙度、厚度、颗粒直径、形状和分布，所述粗糙度标准范围为0.05-1.6...
【技术特征摘要】
1.一种光触媒覆膜层检测系统，包括采集模块、光照模块、存储模块、处理模块和显示模块；其特征在于：
2.根据权利要求1所述的一种光触媒覆膜层检测系统，其特征在于：所述采集模块包括光度单元、相位单元、厚度单元、粒度单元和粗糙度单元，所述光度单元用于检测光触媒覆膜层的光催化性能，所述相位单元用于检测涂层的厚度及涂层与基底的附着力，所述厚度单元用于测量光触媒薄膜的厚度，所述粒度单元用于获取光触媒中的微观颗粒的粒径、形状和分布信息，所述粗糙度单元用于检测涂层表面的粗糙度；所述表面形态参数信息包括粗糙度、厚度、颗粒直径、形状和分布，所述粗糙度标准范围为0.05-1.6，所述厚度的标准范围为15-21mm，所述颗粒直径的标准范围为1-100nm。
3.根据权利要求1所述的一种光触媒覆膜层检测系统，其特征在于：所述显示模块包括远程交互单元和无线传输单元，所述远程交互单元用于远程查看和调整光触媒覆膜层的表面形态，所述无线传输单元用于与多终端进行无线通信并共享信息处理报表和检测日志。
4.根据权利要求1所述的一种光触媒覆膜层检测系统，其特征在于：所述混合聚类算法的工作方法为：首先通过birch算法将数据进行初步聚类，得到较大的聚类簇，然后使用谱聚类算法对每一个聚类簇进行二次聚类，将簇内的数据进行更加细致的划分，接着使用层次聚类算法对小簇进行聚类，最后合并所有聚类结果，以得到最终的聚类结果。
5.根...
【专利技术属性】
技术研发人员：付建锋，孙子钧，韦俏玲，姚洪春，伍叙颖，骆志辉，李萍，
申请(专利权)人：广州市市维检测有限公司，
类型：发明
国别省市：
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