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本发明公开一种光触媒覆膜层检测系统及方法，本发明涉及光触媒监测领域，解决的是光触媒覆膜层检测的速度问题。所述系统包括采集模块、光照模块、存储模块、处理模块和显示模块，通过评估算法评价预测光触媒覆膜层的使用时间以及磨损程度，通过混合聚类算法将...
该专利属于广州市市维检测有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过广州市市维检测有限公司授权不得商用。

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