【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及光谱数据校正，尤其涉及一种光谱数据的校正方法、装置、设备及存储介质。
技术介绍
1、硅橡胶复合绝缘子由于其表面呈现出的强大憎水性以及憎水迁移性，具有优异的耐污闪性能，解决了大面积污闪问题，越来越广泛地应用于输电线路中。然而硅橡胶作为一种有机材料，随着投运时间的增加，在长期户外运行过程中势必会受到光照、潮气、污秽、放电以及机械等综合因素的影响，表现出憎水性下降、硬度上升、褪色、粉化等老化问题，严重情况下甚至会引发断串事故。目前，硅橡胶检测手段均需要对绝缘子进行采样，操作繁琐，检测周期长，无法满足原位分析的要求，缺乏一种高效率、准确的硅橡胶复合绝缘子现场原位检测技术。
2、激光诱导击穿光谱(laser-induced breakdown spectroscopy，libs)是一种将高功率脉冲激光经反射、聚焦于物质表面之上，进而诱导物质产生等离子体的原子发射光谱分析技术，基于激光与物质的相互作用，从物理学以及光谱学对物质元素组成及含量分析的新兴分析技术，在生物医药、食品安全、矿场冶炼、外太空勘测等领域得到了广泛应用。在国内电气领域仍处于初步应用阶段，具有广阔的应用前景。然而，我国特高压线路覆盖范围较广，北至黑龙江寒带，南至云南热带，运行环境复杂，温差较大。而温度等环境因素均会对光路以及激光与样品的相互作用产生影响，导致光谱产生波动，在某些条件下光谱甚至会发生畸变，严重影响到libs的定量分析准确性。
技术实现思路
1、本专利技术提供了一种光谱数据的校正方法、装置
2、第一方面，本专利技术实施例提供了一种光谱数据的校正方法，该方法包括：
3、控制温控平台改变样品的温度，并控制红外热像仪对所述样品的表面温度进行测定；
4、控制激光器发出脉冲激光冲击在不同预设温度下的所述样品；
5、控制光谱仪获取所述不同预设温度下的所述样品的光谱数据，并将所述光谱数据传输到计算机中；
6、控制所述计算机对所述光谱数据进行预处理；
7、控制所述计算机将预处理后的所述光谱数据输入到反向传播神经网络模型中进行训练得到温度校正模型；
8、控制所述计算机基于所述温度校正模型将预处理后的待测样品的光谱数据的特征量转化为预设温度下的光谱数据的特征量，换算为预设温度下的光谱数据。
9、第二方面，本专利技术实施例还提供了一种光谱数据的校正装置，该装置包括：
10、样品加热与温度测定模块，用于控制温控平台改变样品的温度，并控制红外热像仪对所述样品的表面温度进行测定；
11、激光器控制模块，用于控制激光器发出脉冲激光冲击在不同预设温度下所述样品；
12、光谱数据获取与传输模块，用于控制光谱仪获取所述不同预设温度下的所述样品的光谱数据，并将所述光谱数据传输到计算机中；
13、预处理模块，用于控制所述计算机对所述光谱数据进行预处理；
14、模型训练模块，用于控制所述计算机将预处理后的所述光谱数据输入到反向传播神经网络模型中进行训练得到温度校正模型；
15、特征量转化模块，用于控制所述计算机基于所述温度校正模型将预处理后的待测样品的光谱数据的特征量转化为预设温度下的光谱数据的特征量，换算为预设温度下的光谱数据。
16、第三方面，本专利技术实施例还提供了一种光谱数据的校正设备，该设备包括：
17、至少一个处理器；以及
18、与所述至少一个处理器通信连接的存储器；其中，
19、所述存储器存储有可被所述至少一个处理器执行的计算机程序，所述计算机程序被所述至少一个处理器执行，以使所述至少一个处理器能够执如第一方面所述的光谱数据的校正方法。
20、第四方面，本专利技术实施例还提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机指令，所述计算机指令用于使处理器执行时实现如第一方面所述的光谱数据的校正方法。
21、本专利技术实施例的技术方案，通过控制温控平台改变样品的温度，并控制红外热像仪对样品的表面温度进行测定；控制激光器发出脉冲激光冲击在不同预设温度下的样品；控制光谱仪获取不同预设温度下的样品的光谱数据，并将光谱数据传输到计算机中；控制计算机对光谱数据进行预处理；控制计算机将预处理后的光谱数据输入到反向传播神经网络模型中进行训练得到温度校正模型；控制计算机基于温度校正模型将待测样品的光谱数据的特征量转化为预设温度下的光谱数据的特征量，换算为预设温度下的光谱数据。本专利技术建立温度校正模型，将不同温度光谱数据的特征量校正到固定温度下，可以消除温度对光谱数据的影响。
22、应当理解，本部分所描述的内容并非旨在标识本专利技术的实施例的关键或重要特征，也不用于限制本专利技术的范围。本专利技术的其它特征将通过以下的说明书而变得容易理解。
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1.一种光谱数据的校正方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述光谱数据的校正方法，其特征在于，所述光谱数据包括原子发射光谱；
3.根据权利要求2所述的光谱数据的校正方法，其特征在于，控制光谱仪获取所述不同预设温度下的所述样品的光谱数据，并将所述光谱数据传输到计算机中包括：
4.根据权利要求1中任一项所述的光谱数据的校正方法，其特征在于，在控制温控平台改变样品的温度，并控制红外热像仪对所述样品的表面温度进行测定之前，还包括：
5.根据权利要求4中所述的光谱数据的校正方法，其特征在于，控制所述计算机对所述光谱数据进行预处理包括：
6.根据权利要求5中所述的光谱数据的校正方法，其特征在于，在控制所述计算机基于所述温度校正模型将所述待测样品的光谱数据的特征量转化为预设温度下的光谱数据的特征量，换算为预设温度下的光谱数据之前，还包括：
7.根据权利要求1中所述的光谱数据的校正方法，其特征在于，在控制所述计算机对所述光谱数据进行预处理之后，还包括：控制所述计算机建立预处理后的所述预设温度下的光谱数据与所述样品成分
8.一种光谱数据的校正装置，其特征在于，包括：
9.一种光谱数据的校正设备，其特征在于，包括：
10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质存储有计算机指令，所述计算机指令用于使处理器执行时实现权利要求1-7中任一项所述的光谱数据的校正方法。
...【技术特征摘要】
1.一种光谱数据的校正方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述光谱数据的校正方法，其特征在于，所述光谱数据包括原子发射光谱；
3.根据权利要求2所述的光谱数据的校正方法，其特征在于，控制光谱仪获取所述不同预设温度下的所述样品的光谱数据，并将所述光谱数据传输到计算机中包括：
4.根据权利要求1中任一项所述的光谱数据的校正方法，其特征在于，在控制温控平台改变样品的温度，并控制红外热像仪对所述样品的表面温度进行测定之前，还包括：
5.根据权利要求4中所述的光谱数据的校正方法，其特征在于，控制所述计算机对所述光谱数据进行预处理包括：
6.根据权利要求5中所述的光谱数据的校正方法，其特征在于，在控制所述计算...
【专利技术属性】
技术研发人员：刘源，郭振锋，朱锐锋，陈峥嵘，胡怡，曾晓辉，赵耀洪，李谦，黄泽荣，刘新伟，吕旺燕，黄容辉，姚彦学，尤垚，林岸奇，陈子健，
申请(专利权)人：广东电网有限责任公司，
类型：发明
国别省市：
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