一种多通道热敏电阻电压效应测试电路制造技术

本发明专利技术公开了一种多通道热敏电阻电压效应测试电路

【技术实现步骤摘要】
一种多通道热敏电阻电压效应测试电路、系统及测试方法


[0001]本专利技术属于电子电路
，更具体地，涉及一种多通道热敏电阻电压效应测试电路
、
系统及测试方法
。

技术介绍

[0002]热敏电阻是一种能够根据温度变化而改变电阻值的电阻器件
。
它通常由热敏材料制成，具有温度敏感性能
。
在不同的温度下，热敏电阻的电阻值会发生变化，可以通过测量电阻值的变化来获取温度信息
。
热敏电阻的电压效应是指在热敏电阻上施加电压时，电阻值发生变化的现象
。
热敏电阻的电压效应是热敏材料本身的特性，与温度变化有关
。
通过测量热敏电阻的电压效应，可以获得温度信息，并将其转化为电信号进行处理和控制
。
热敏电阻的电压效应在温度测量和控制领域具有广泛的应用
。
例如，在温度测量领域，可以通过测量热敏电阻两端的电压来确定环境温度或物体表面温度的变化情况
。
在温度控制领域，可以根据热敏电阻的电压变化来控制设备的本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.
一种多通道热敏电阻电压效应测试电路，其特征在于，包括：单片机
(1)、
热敏电阻通道并联结构
、
标准电阻通道并联结构
、
峰值电压表
(6)、
直流稳压电源
(8)
及
IGBT
脉冲开关
(9)
；所述热敏电阻通道并联结构为多路并联热敏电阻通道，每路所述热敏电阻通道包括第一控制开关
(2)
，所述第一控制开关
(2)
和待测热敏电阻
(3)
串联；所述标准电阻通道并联结构为多路并联的标准电阻通道，每路所述标准电阻通道包括串联的第二控制开关
(4)
和标准电阻
(5)
，其中，所述标准电阻通道中的所述标准电阻
(5)
为不同阻值档位的标准电阻；所述直流稳压电源
(8)、
所述热敏电阻通道并联结构
、
所述标准电阻通道并联结构及所述
IGBT
脉冲开关
(9)
形成串联回路；所述单片机
(1)
与所述
IGBT
脉冲开关
(9)、
所述第一控制开关
(2)
及所述第二控制开关
(4)
连接；所述峰值电压表
(6)
分别用于测量所述热敏电阻通道并联结构两端的电压及测试电路的总电压
。2.
根据权利要求1所述的测试电路，其特征在于，所述
IGBT
脉冲开关
(9)
的
G
极与所述标准电阻通道并联结构的低电压端连接，所述标准电阻通道并联结构的高电压端与所述热敏电阻通道并联结构的低电压端连接，所述热敏电阻通道并联结构的高电压端与所述直流稳压电源
(8)
的正极连接，所述直流稳压电源
(8)
的负极与所述
IGBT
脉冲开关
(9)
的
C
极连接，以使所述直流稳压电源
(8)、
所述热敏电阻通道并联结构
、
所述标准电阻通道并联结构及所述
IGBT
脉冲开关
(9)
形成串联回路；所述峰值电压表
(6)
的一端与所述热敏电阻通道并联结构的高电压端连接，另一端通过两个第三控制开关
(7)
分别与所述热敏电阻通道并联结构的低电压端和所述标准电阻通道并联结构的低电压端；其中，所述单片机
(1)
还与两个所述第三控制开关
(7)
连接
。3.
根据权利要求1所述的测试电路，其特征在于，所述
IGBT
脉冲开关
(9)
的
G
极与所述热敏电阻通道并联结构的低电压端连接，所述热敏电阻通道并联结构的高电压端与所述标准电阻通道并联结构的低电压端连接，所述标准电阻通道并联结构的高电压端与所述直流稳压电源
(8)
的正极连接，所述直流稳压电源
(8)
的负极与所述
IGBT
脉冲开关
(9)
的
C
极连接，以使所述直流稳压电源
(8)、
所述热敏电阻通道并联结构
、
所述标准电阻通道并联结构及所述
IGBT
脉冲开关
(9)
形成串联回路；所述峰值电压表
(6)
的一端与所述热敏电阻通道并联结构的低电压端连接，另一端通过两个第三控制开关
(7)
分别与所述热敏电阻通道并联结构的高电压端和所述标准电阻通道并联结构的高电压端连接；其中，所述单片机
(1)
还与两个所述第三控制开关
(7)<...

【专利技术属性】
技术研发人员：傅邱云，施竞峰，周东祥，
申请(专利权)人：华中科技大学，
类型：发明
国别省市：