一种固晶机及其可测高的点胶机构制造技术

本实用新型专利技术涉及固晶技术领域，更具体地说，它涉及一种固晶机及其可测高的点胶机构，点胶机构包括升降座

【技术实现步骤摘要】
一种固晶机及其可测高的点胶机构


[0001]本技术涉及固晶
，特别涉及一种固晶机及其可测高的点胶机构
。

技术介绍

[0002]固晶机包括点胶机构，固晶机通过点胶机构在引线框架上点胶，以方便将晶片固定在引线框架上的点胶区域
。
其中，点胶机构一般通过触点的方式测量点胶高度，然而触点用过一段时间后表面容易氧化造成接触不良，故急需针对这种情况进行改进
。

技术实现思路

[0003]有鉴于此，本技术提供一种芯片测试机及其可测高的点胶机构，主要所要解决的技术问题是：如何克服现有技术中触点测高方式容易接触不良的现象
。
[0004]为达到上述目的，本技术主要提供如下技术方案：
[0005]一方面，本技术的实施例提供一种包括升降座
、
点胶头和光栅尺；
[0006]所述光栅尺包括标尺光栅和光栅读数头，所述光栅读数头与所述升降座相对固定，所述标尺光栅与所述点胶头相对固定；
[0007]所述点胶头可沿所述升降座升降，所述点胶头的端部用于受推动带动光栅读数头相对所述标尺光栅上升
。
[0008]可选的，所述的可测高的点胶机构还包括导向机构，所述导向机构用于对点胶头的升降导向
。
[0009]可选的，所述的可测高的点胶机构还包括第一弹性件，所述第一弹性件用于提供所述点胶头相对升降座下降的力
。
[0010]可选的，所述的可测高的点胶机构还包括连接座，所述点胶头设置在所述连接座上，以通过连接座相对升降座升降
。
[0011]可选的，所述连接座上设有供点胶头穿过的第一卡孔，所述第一卡孔的孔径可调
。
[0012]可选的，所述第一卡孔在侧面具有断口，且在断口处形成相对的第一连接块和第二连接块；所述点胶机构还包括调节结构，所述调节结构用于调节第一连接块与第二连接块之间的距离，使第一卡孔的孔径发生变化
。
[0013]可选的，所述的可测高的点胶机构还包括胶筒，所述点胶头设置在胶筒的一端；所述连接座上还设有供胶筒穿过的第二卡孔，所述第二卡孔的孔径可调
。
[0014]可选的，所述的可测高的点胶机构还包括锁头，所述锁头与所述连接座相对
、
且在两者之间形成所述的第二卡孔；其中，所述锁头可相对靠近或远离所述连接座，以调节所述第二卡孔的孔径
。
[0015]可选的，所述的可测高的点胶机构还包括调节杆和第二弹性件，所述调节杆的一端具有卡台，所述调节杆的另一端穿过所述连接座
、
且与锁头固定连接；所述第二弹性件设置在所述卡台与连接座之间
。
[0016]另一方面，本技术的实施例还提供一种固晶机，其可以包括上述任一种所述
的可测高的点胶机构
。
[0017]借由上述技术方案，本技术芯片测试机及其可测高的点胶机构至少具有以下有益效果：
[0018]在本技术提供的技术方案中，相对于现有技术中的触点方式测高，用一段时间后触点表面容易氧化造成接触不良，现在改为高分辨率光栅读数头反馈方式，测高精准
、
灵敏，无接触不良的情况
。
[0019]上述说明仅是本技术技术方案的概述，为了能够更清楚了解本技术的技术手段，并可依照说明书的内容予以实施，以下以本技术的较佳实施例并配合附图详细说明如后
。
附图说明
[0020]图1是本技术的一实施例提供的一种可测高的点胶机构的结构示意图；
[0021]图2是点胶机构的另一视角的结构示意图；
[0022]图3是点胶机构的半剖视图；
[0023]图4是反映锁头与连接座连接的示意图
。
[0024]附图标记：
1、
升降座；
2、
点胶头；
3、
胶筒；
4、
光栅尺；
5、
连接座；
6、
调节螺栓；
7、
锁头；
8、
调节杆；
9、
交叉导轨；
10、
第一弹性件；
11、
第二弹性件；
12、
固定螺丝；
41、
标尺光栅；
42、
光栅读数头；
51、
第一卡孔；
52、
第二卡孔；
81、
卡台；
82、
平面；
501、
第一连接块；
502、
第二连接块
。
具体实施方式
[0025]下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚
、
完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术的一部分实施例，而不是全部的实施例
。
基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围
。
[0026]需要说明，若本技术实施例中有涉及方向性指示
(
诸如上
、
下
、
左
、
右
、
前
、
后
……
)
，则该方向性指示仅用于解释在某一特定姿态
(
如附图所示
)
下各部件之间的相对位置关系
、
运动情况等，如果该特定姿态发生改变时，则该方向性指示也相应地随之改变
。
[0027]另外，若本技术实施例中有涉及“第一”、“第二”等的描述，则该“第一”、“第二”等的描述仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示其相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量
。
由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征
。
另外，各个实施例之间的技术方案可以相互结合，但是必须是以本领域普通技术人员能够实现为基础，当技术方案的结合出现相互矛盾或无法实现时应当认为这种技术方案的结合不存在，也不在本技术要求的保护范围之内
。
[0028]如图1所示，本技术的一个实施例提出的一种可测高的点胶机构，其包括升降座
1、
点胶头2和光栅尺
4。
光栅尺4包括标尺光栅
41
和光栅读数头
42。
光栅尺4的具体结构为现有技术，在此不在赘述
。
[0029]前述的光栅读数头
42
与升降座1相对固定，光栅读数头
42
可以通过螺丝等固定在升降座1上
。
前述的标尺光栅
41
与点胶头2相对固定
。
点胶头2可沿升降座1升降，点胶头2的
端本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.
一种可测高的点胶机构，其特征在于，包括升降座
(1)、
点胶头
(2)
和光栅尺
(4)
；所述光栅尺
(4)
包括标尺光栅
(41)
和光栅读数头
(42)
，所述光栅读数头
(42)
与所述升降座
(1)
相对固定，所述标尺光栅
(41)
与所述点胶头
(2)
相对固定；所述点胶头
(2)
可沿所述升降座
(1)
升降，所述点胶头
(2)
的端部用于受推动带动光栅读数头
(42)
相对所述标尺光栅
(41)
上升
。2.
根据权利要求1所述的可测高的点胶机构，其特征在于，还包括导向机构，所述导向机构用于对点胶头
(2)
的升降导向
。3.
根据权利要求1所述的可测高的点胶机构，其特征在于，还包括第一弹性件
(10)
，所述第一弹性件
(10)
用于提供所述点胶头
(2)
相对升降座
(1)
下降的力
。4.
根据权利要求1至3中任一项所述的可测高的点胶机构，其特征在于，还包括连接座
(5)
，所述点胶头
(2)
设置在所述连接座
(5)
上，以通过连接座
(5)
相对升降座
(1)
升降
。5.
根据权利要求4所述的可测高的点胶机构，其特征在于，所述连接座
(5)
上设有供点胶头
(2)
穿过的第一卡孔
(51)
，所述第一卡孔
(51)
的孔径可调
。6.
根据权利要求5所述的可测高的点胶机构，其特征在于，所述第一卡孔
(51)...

【专利技术属性】
技术研发人员：谢国清，曹皇东，郑熠，
申请(专利权)人：东莞市华越半导体技术股份有限公司，
类型：新型
国别省市：